【技术实现步骤摘要】
本申请涉及冷冻电镜制样的，尤其涉及冷冻制样品质量的检测方法、检测装置及冷冻电镜设备。
技术介绍
1、采用冷冻电镜对蛋白样品实施解析操作时，在准备好蛋白样品后，一般通过生化方法(例如凝胶电泳、质谱、动态光散射等)评估蛋白质的成分和均匀性。然后通过负染电镜，确定蛋白质的均一性。蛋白冷冻制样后需要通过诊断电镜拍照才能剔除不合格的样品，这一繁杂的测试手段费时费力，而且可能引起额外的污染和样品变化。冷冻电镜样品在电子束照射下会受到辐射损伤。尽管冷冻电镜使用低剂量的电子束来减小辐射损伤的影响，但长时间的照射仍然可能导致样品的结构损伤和退化。
2、相关技术中，检测技术对样品浓度的要求较高，若样品中存在干扰物质或待测样品的目标物质浓度过低等，则较难检测。
3、因此，该领域急需一种能对冷冻制样品质量进行有效检测的方式。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请实施例提供冷冻制样品质量的检测方法、检测装置及冷冻电镜设备，能够有效降低检测限。
2、第一方面，本申请提供一种冷冻制样品质量的检测方法，包括：
3、使待试的冷冻制样品装载在冷冻电镜样品支撑基底内上，所述冷冻电镜样品支撑基底包括依次叠设的网格层和吸附层，所述吸附层为开设有多个纳米孔的金膜；
4、通过对装载有冷冻制样品的冷冻电镜样品支撑基底实施spr检测，基于预置的冷冻制样品质量状况与spr透射光谱值之间对应关系，得到冷冻制样品的实际质量状况。
5、可选地，所述网格层具有多个正六变形
6、可选地，所述纳米孔的孔径为300nm以下。
7、可选地，所述吸附层的厚度为30nm以下。
8、第二方面，本申请提供一种冷冻制样品质量的检测装置，包括：
9、冷冻电镜样品支撑基底，被配置成用以装载待试的冷冻制样品，所述冷冻电镜样品支撑基底包括依次叠设的网格层和吸附层，所述吸附层为开设有多个纳米孔的金膜；
10、spr检测分析仪，被配置成对装载有冷冻制样品的冷冻电镜样品支撑基底实施spr检测，基于预置的冷冻制样品质量状况与spr透射光谱值之间对应关系，得到冷冻制样品的实际质量状况。
11、可选地，还包括用以装配所述冷冻电镜样品支撑基底的支架组件，所述支架组件包括底座和可滑动地配置于所述底座上的架体。
12、可选地，所述支架组件还包括用以锁固架体在底座上滑动位置的锁紧件，所述锁紧件包括锁紧螺母，所述底座开设有螺纹孔，所述锁紧螺母、螺纹孔形成螺纹配合。
13、可选地，所述冷冻电镜样品支撑基底通过夹具组件装配在所述支架组件上，所述夹具组件包括用以安装冷冻电镜样品支撑基底的样品固定件和安装在所述架体上的夹具体，所述夹具体用以对样品固定件形成夹持。
14、可选地，所述spr检测分析仪包括：
15、光源，用以产生发射光谱；
16、光谱仪，用以采集透射光谱，并基于透射光谱实施spr光谱分析而得到冷冻制样品质量状况，所述透射光谱为所述发射光谱经过冷冻制样品后所形成；
17、透射支架，具有用以针对冷冻电镜样品支撑基底的检测孔，所述检测孔的一端光连接所述光源，另一端光连接所述光谱仪。
18、第三方面，本申请提供一种冷冻电镜设备，包括冷冻电镜和如上述检测装置。
19、本申请所公开冷冻制样品质量的检测方法及检测装置，为冷冻电镜样品支撑基底构造带有纳米孔的金膜，这样可使电子在光耦合的情况下产生表面等离子共振现象，提升了传感性能，当装载冷冻样品后可利用纳米孔内场增强提高检测灵敏度，进而降低检测限。
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1.一种冷冻制样品质量的检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的冷冻制样品的质量检测装置，其特征在于，所述网格层具有多个正六变形的网格。
3.根据权利要求1所述的冷冻制样品的质量检测装置，其特征在于，所述纳米孔的孔径为300nm以下。
4.根据权利要求1所述的冷冻制样品的质量检测装置，其特征在于，所述吸附层的厚度为30nm以下。
5.一种冷冻制样品质量的检测装置，其特征在于，包括：
6.根据权利要求5所述的冷冻制样品的质量检测装置，其特征在于，还包括用以装配所述冷冻电镜样品支撑基底的支架组件，所述支架组件包括底座和可滑动地配置于所述底座上的架体。
7.根据权利要求5所述的冷冻制样品的质量检测装置，其特征在于，所述支架组件还包括用以锁固架体在底座上滑动位置的锁紧件，所述锁紧件包括锁紧螺母，所述底座开设有螺纹孔，所述锁紧螺母、螺纹孔形成螺纹配合。
8.根据权利要求6所述的冷冻制样品的质量检测装置，其特征在于，所述冷冻电镜样品支撑基底通过夹具组件装配在所述支架组件上，所述夹具组件包括用以安
9.根据权利要求6所述的冷冻制样品的质量检测装置，其特征在于，所述SPR检测分析仪包括：
10.一种冷冻电镜设备，其特征在于，包括冷冻电镜和如权利要求5所述检测装置。
...【技术特征摘要】
1.一种冷冻制样品质量的检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的冷冻制样品的质量检测装置，其特征在于，所述网格层具有多个正六变形的网格。
3.根据权利要求1所述的冷冻制样品的质量检测装置，其特征在于，所述纳米孔的孔径为300nm以下。
4.根据权利要求1所述的冷冻制样品的质量检测装置，其特征在于，所述吸附层的厚度为30nm以下。
5.一种冷冻制样品质量的检测装置，其特征在于，包括：
6.根据权利要求5所述的冷冻制样品的质量检测装置，其特征在于，还包括用以装配所述冷冻电镜样品支撑基底的支架组件，所述支架组件包括底座和可滑动地配置于所述底座上的架体。
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【专利技术属性】
技术研发人员：贾沛沛，胡轩睿，牛浩然，郭秋泉，张东星，杨军，
申请(专利权)人：电子科技大学深圳高等研究院，
类型：发明
国别省市：
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