测试用例选取方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:40668859 阅读:24 留言:0更新日期:2024-03-18 19:04
本发明专利技术提供一种测试用例选取方法、装置、电子设备和存储介质,涉及测试技术领域,根据被测程序的控制流图确定基础测试路径集合,根据基础测试路径集合生成预设数量的父代测试路径,根据父代测试路径生成预设数量的子代测试路径,将父代测试路径和子代测试路径作为候选测试路径;确定测试路径优化的至少两个优化目标;根据候选测试路径在优化目标上的目标值进行非支配排序,以创建非支配分层;根据预设数量从非支配分层中确定出临界层;从优先级高于临界层的非支配层选取第一数量的候选测试路径,得到第一路径集合,从临界层选取第二数量的候选测试路径,得到第二路径集合;根据第一路径集合和第二路径集合确定目标测试用例,提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及测试,尤其涉及一种测试用例选取方法、装置、电子设备和存储介质


技术介绍

1、路径覆盖测试是指测试开发人员所设计的测试用例需要覆盖程序中所有可能的执行路径,这种覆盖方法可以对程序进行彻底的测试用例覆盖。为实现对所有路径进行覆盖的测试方法,测试人员需要设计数量极为庞大且较为复杂的测试用例,用例数量将呈指数级增长。理论上说路径覆盖是最彻底的测试用例覆盖,但在实际过程中可操作性不强,因而需要有的放矢的选择测试用例。

2、现有测试用例的选取,完全依赖测试人员的经验人工选取,成本高、效率低、无法满足实际需求。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供一种测试用例选取方法、装置、电子设备和存储介质,可以满足多目标优化的业务需求,同时无需依赖人工选取测试用例,节省了时间成本,提高了测试效率。

2、第一方面,本专利技术实施例提供的测试用例选取方法,该方法包括:

3、根据被测程序的控制流图确定基础测试路径集合,根据基础测试路径集合生成预设数量的父代测试路径,根据预设数量的父本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试用例选取方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试用例选取方法,其特征在于,所述从所述临界层选取第二数量的候选测试路径,得到第二路径集合,包括:

3.根据权利要求2所述的测试用例选取方法,其特征在于,所述确定所述第一路径集合中每条路径的关联参考点,包括:

4.根据权利要求2所述的测试用例选取方法,其特征在于,在所述超平面上设置原始参考点之前,还包括:

5.根据权利要求4所述的测试用例选取方法,其特征在于,所述根据所述第一路径集合中每条路径的归一化目标值确定所述第一路径集合中每条路径的关联参考点,包括:

6...

【技术特征摘要】

1.一种测试用例选取方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试用例选取方法,其特征在于,所述从所述临界层选取第二数量的候选测试路径,得到第二路径集合,包括:

3.根据权利要求2所述的测试用例选取方法,其特征在于,所述确定所述第一路径集合中每条路径的关联参考点,包括:

4.根据权利要求2所述的测试用例选取方法,其特征在于,在所述超平面上设置原始参考点之前,还包括:

5.根据权利要求4所述的测试用例选取方法,其特征在于,所述根据所述第一路径集合中每条路径的归一化目标值确定所述第一路径集合中每条路径的关联参考点,包括:

6.根据权利要求2所述的测试用例选取方法,其特征在于,所述根据所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:高铎熊贞李雪
申请(专利权)人:中国农业银行股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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