下载测试用例选取方法、装置、电子设备和存储介质的技术资料

文档序号:40668859

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本发明提供一种测试用例选取方法、装置、电子设备和存储介质,涉及测试技术领域,根据被测程序的控制流图确定基础测试路径集合,根据基础测试路径集合生成预设数量的父代测试路径,根据父代测试路径生成预设数量的子代测试路径,将父代测试路径和子代测试路径...
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