【技术实现步骤摘要】
本技术大体涉及智能制造装备产业，具体涉及一种测量仪器的导轨结构。
技术介绍
1、轮廓测量仪是一种通过测针扫描工件的表面轮廓的以测量出工件的真实形貌的仪器，适用于长轴类、筒类、曲面零件、丝杠、螺纹等高精度部件的内外径尺寸、内外轮廓形貌、或粗糙度等参数测量。
2、通常来说，轮廓测量仪通过驱动测针沿着工件的待测表面移动，测针会感触到待测表面的几何形状变化并产生微动位移，同时轮廓测量仪的处理元件对测针的位移变化进行处理并分析以获得待测表面的待测参数。轮廓测量仪一般包括导轨和设置于导轨的运动部，运动部包括可以沿导轨移动的滑块、与滑块连接且包括测针的测量组件，通过驱动滑块沿着导轨移动，可以带动测量组件移动进而带动测针扫描工件。现有技术中，为了使轮廓测量仪适应更多的测量场景(例如为了增大测量范围或者保持稳定的测力)，通常会将测量组件的一端固定于滑块，也即使测量组件另一端相对于滑块而言具有更大的伸长量。在这种情况下，能够增大轮廓测量仪的测量范围，另外，有利于使轮廓测量仪保持稳定的测力。
3、理想情况下，为了保持轮廓测量仪的测量稳定性，运动部在静止或移动时的受力均应保持平衡。然而，上述技术方案的设置使得运动部的实际重心偏离滑块的中心(运动部的理想重心)，运动部在移动的过程中会受到因运动部的实际重心偏离理想重心而产生的不平衡力矩，这种情况会使运动部在被驱动时的平衡状态发生改变，从而影响运动部移动时的稳定性，最终导致轮廓测量仪的测量精度受到影响。
技术实现思路
1、本技术是有鉴于
2、为此，本技术提供一种测量仪器的导轨结构，是导引所述测量仪器的测量组件进行移动的导轨结构，所述导轨结构包括沿第一方向设置的导轨部、与所述导轨部配合的运动部、以及设置于所述运动部的施加部，所述运动部包括套设于所述导轨部且可沿所述导轨部移动的移动组件、设置于所述移动组件的所述测量组件，令所述运动部的重心位置为第一位置，令所述移动组件的几何中心位置为第二位置，所述第一位置在基准平面的投影与所述第二位置在所述基准平面的投影不重合；令所述运动部静止时的平衡位置为目标位置，所述施加部向所述运动部施加沿第二方向的作用力以减少所述目标位置在所述基准平面的投影相对于所述第二位置在所述基准平面的投影的偏移量，其中，所述基准平面正交于所述第二方向。
3、在本技术中，通过施加部向运动部施加的沿第二方向的作用力，能够减小目标位置相对于第二位置的偏移量，进而减小移动部受到的因第一位置与第二位置发生偏移而产生的非平衡力矩，从而能够提高运动部的平衡性，特别地，当目标位置在基准平面的投影与第二位置在基准平面的投影重合时，运动部受到的合力矩为零，当运动部由静止状态变为运动状态时，由于运动部能够受力平衡，运动部的受力状态不会发生突变，进而能够减少运动部由静止状态变为运动状态时的起始时刻的抖动，由此，能够提高测量仪器的测量精度。
4、另外，在本技术所涉及的导轨结构中，可选地，所述第二方向正交于所述第一方向且所述第二方向为所述移动组件指向所述测量组件的方向。在这种情况下，作用力的方向与非平衡力的方向相同，由此，通过将作用力的受力点作用于运动部远离第一位置的一侧能够减少目标位置相对于第二位置的偏移量。
5、另外，在本技术所涉及的导轨结构中，可选地，令所述施加部所在的位置为第三位置，令包括所述第一位置且正交于所述第一方向的平面为第一平面，令包括所述第三位置且正交于所述第一方向的平面为第三平面，所述第二位置位于所述第一平面与所述第三平面之间。在这种情况下，作用力在第二位置的力矩的方向与非平衡力在第二位置的力矩的方向能够相反，由此，能够降低非平衡力矩对运动部的负面影响，进而有利于提高运动部的平衡性。
6、另外，在本技术所涉及的导轨结构中，可选地，所述移动组件具有正交于所述第二方向且贴合于所述导轨部的功能面，所述施加部设置于所述功能面。在这种情况下，在提高运动部的平衡性的同时还能够提高导轨部的集成度。
7、另外，在本技术所涉及的导轨结构中，可选地，所述移动组件具有贴合于导轨部的功能面和与所述功能面相对的辅助面，所述导轨部设置于所述功能面与所述辅助面之间，所述施加部设置于所述辅助面。在这种情况下，由于辅助面不参与运动部的导向作用，将施加部设置于辅助面有利于提高移动组件与导轨部的贴合效果，也即能够降低将施加部设置于功能面而引起的移动组件的功能面与导轨部的第一导引面贴合不佳的影响，由此，能够进一步地提高运动部的运动稳定性。
8、另外，在本技术所涉及的导轨结构中，可选地，所述第二方向正交于所述第一方向且所述第二方向为所述测量组件指向所述移动组件的方向。在这种情况下，由于作用力的方向与非平衡力的方向相反，通过将作用力的受力点设置于运动部靠近第一位置的一侧能够减少目标位置相对于第二位置的偏移量。
9、另外，在本技术所涉及的导轨结构中，可选地，令所述施加部所在的位置为第三位置，令包括所述第二位置且正交于所述第一方向的平面为第二平面，所述第三位置位于所述第二平面包括所述第一位置的一侧。在这种情况下，施加部向运动部施加的作用力在第二位置的力矩与非平衡力在第二位置的力矩的方向相反，由此，作用力在第二位置的力矩能够减弱运动部因受到非平衡力矩的作用而导致的重心偏移的影响。
10、另外，在本技术所涉及的导轨结构中，可选地，所述移动组件具有贴合于所述导轨部的功能面和与所述功能面相对的辅助面，所述施加部设置于所述辅助面。在这种情况下，
11、另外，在本技术所涉及的导轨结构中，可选地，所述导轨部由磁吸材料构成，所述施加部包括至少一个磁体。在这种情况下，通过导轨部和施加部的相互作用，导轨部能够对施加部施加沿第二方向的吸引力，进而施加部能够向移动组件施加沿第二方向的作用力，由此，能够提高运动部的稳定性；另外，当施加部设置于辅助面时，施加部向移动组件施加沿第二方向的作用力还能够减小运动部对导轨部的压力，进而能够降低运动部受到的摩檫力，由此，有利于减弱移动组件和导轨部受到的磨损，进而能够提高导轨结构的使用寿命。
12、另外，在本技术所涉及的导轨结构中，可选地，所述施加部包括至少一个配重块。在这种情况下，配重块能够对移动组件施加沿第二方向的作用力以降低运动部受到的非平衡力矩的影响。
13、根据本技术，能够提供一种通过提高运动部的稳定性，进而提高测量仪器的测量精度的导轨结构。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种测量仪器的导轨结构，是导引所述测量仪器的测量组件进行移动的导轨结构，其特征在于，所述导轨结构包括沿第一方向设置的导轨部、与所述导轨部配合的运动部、以及设置于所述运动部的施加部，
2.根据权利要求1所述的导轨结构，其特征在于，所述第二方向正交于所述第一方向且所述第二方向为所述移动组件指向所述测量组件的方向。
3.根据权利要求2所述的导轨结构，其特征在于，令所述施加部所在的位置为第三位置，令包括所述第一位置且正交于所述第一方向的平面为第一平面，令包括所述第三位置且正交于所述第一方向的平面为第三平面，所述第二位置位于所述第一平面与所述第三平面之间。
4.根据权利要求3所述的导轨结构，其特征在于，所述移动组件具有正交于所述第二方向且贴合于所述导轨部的功能面，所述施加部设置于所述功能面。
5.根据权利要求3所述的导轨结构，其特征在于，所述移动组件具有贴合于所述导轨部的功能面和与所述功能面相对的辅助面，所述导轨部设置于所述功能面与所述辅助面之间，所述施加部设置于所述辅助面。
6.根据权利要求1所述的导轨结构，其特征在于，所述
7.根据权利要求6所述的导轨结构，其特征在于，令所述施加部所在的位置为第三位置，令包括所述第二位置且正交于所述第一方向的平面为第二平面，所述第三位置位于所述第二平面包括所述第一位置的一侧。
8.根据权利要求7所述的导轨结构，其特征在于，所述移动组件具有贴合于所述导轨部的功能面和与所述功能面相对的辅助面，所述施加部设置于所述辅助面。
9.根据权利要求1、4或8所述的导轨结构，其特征在于，所述导轨部由磁吸材料构成，所述施加部包括至少一个磁体。
10.根据权利要求1或5所述的导轨结构，其特征在于，所述施加部包括至少一个配重块。
...【技术特征摘要】
1.一种测量仪器的导轨结构，是导引所述测量仪器的测量组件进行移动的导轨结构，其特征在于，所述导轨结构包括沿第一方向设置的导轨部、与所述导轨部配合的运动部、以及设置于所述运动部的施加部，
2.根据权利要求1所述的导轨结构，其特征在于，所述第二方向正交于所述第一方向且所述第二方向为所述移动组件指向所述测量组件的方向。
3.根据权利要求2所述的导轨结构，其特征在于，令所述施加部所在的位置为第三位置，令包括所述第一位置且正交于所述第一方向的平面为第一平面，令包括所述第三位置且正交于所述第一方向的平面为第三平面，所述第二位置位于所述第一平面与所述第三平面之间。
4.根据权利要求3所述的导轨结构，其特征在于，所述移动组件具有正交于所述第二方向且贴合于所述导轨部的功能面，所述施加部设置于所述功能面。
5.根据权利要求3所述的导轨结构，其特征在于，所述移动组件具有贴合于所述导轨部的...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨政，张鹏，
申请(专利权)人：深圳市中图仪器股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。