【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及集成电路，尤其涉及一种电流检测电路和芯片。
技术介绍
1、现有电流检测电路通常采用两级共栅运放，第一级为预放大级，第二级为增益级，以提供足够高的放大倍数。电流检测电路对误差要求较高，通常第二级运放的误差经过预放大级倍数缩小后可以降低整体误差比重，因此需要提供足够稳定的第一级增益。第一级输入对管可以采用双极型晶体管，来降低第一级输入对管的误差，因此重点取决于双极型晶体管的误差。双极型晶体管的误差电压通常在100uv以上，当要求更低的输入误差电压需要加修调电路调节。
2、现有技术中，对电路输入误差的修调通常在常温下进行，然而，常温下修调好的误差可能在高温或低温时又发生较大的变化，无法在全温度下保证电流检测电路具有较低的输入误差，使得第一级预放大级增益在不同温度和工艺下会发生改变，导致电路的稳定性较差。
技术实现思路
1、鉴于上述问题，本申请实施例提供了一种电流检测电路和芯片，能够降低温度和工艺对输入误差的影响，从而提升电路的稳定性。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种电流检测电路，包括：运放电路和偏置电路，运放电路的第一输入端电连接待测电流的输入，运放电路的第二输入端电连接待测电流的输出，运放电路的第一控制端电连接偏置电路的控制端。
3、偏置电路，用于向运放电路提供偏置电流，偏置电流与温度正相关。运放电路，用于在偏置电流的作用下，对电流检测电路的第一输入偏移电压进行修调。
4、在一些实施例中，偏置电路包括：第一晶体管、第
5、电源电压依次通过第一晶体管和第三晶体管接地，电源电压还依次通过第二晶体管和第四晶体管接地，电源电压还依次通过第五晶体管和第八晶体管接地，电源电压还依次通过第六晶体管和第九晶体管接地，电源电压还依次通过第一电阻、第七晶体管和第十晶体管接地。
6、第二晶体管和第四晶体管的连接点、第一晶体管的控制端和第二晶体管的控制端电连接，第五晶体管和第八晶体管的连接点、第四晶体管的控制端、第八晶体管的控制端、第九晶体管的控制端和第十晶体管的控制端电连接，第六晶体管和第九晶体管的连接点与第五晶体管的控制端电连接，第六晶体管的控制端与第七晶体管的控制端电连接，第三晶体管的控制端与一级运放电路的第一控制端电连接。
7、在一些实施例中，运放电路包括一级运放电路和二级运放电路。
8、一级运放电路的第一输入端电连接二级运放电路的第一输入端与待测电流的输入，一级运放电路的第二输入端电连接待测电流的输出，一级运放电路的第一控制端电连接偏置电路的控制端，一级运放电路的第一输出端电连接二级运放电路的第二输入端，一级运放电路的第二输出端电连接二级运放电路的第三输入端，二级运放电路的输出端接地。
9、一级运放电路，用于确定第一目标修调电压和第二目标修调电压，还用于缩放二级运放电路产生的第二输入偏移电压。二级运放电路，用于根据第一目标修调电压和第二目标修调电压确定控制信号，并根据控制信号输出待测电流。
10、在一些实施例中，一级运放电路包括：第十一晶体管、第十二晶体管、第十三晶体管、第十四晶体管、第十五晶体管、第二电阻、第三电阻、第一修调电阻、第二修调电阻和电压选择组件。
11、第十一晶体管的第一端电连接待测电流的输入，第十一晶体管的第二端电连接第十三晶体管的第一端，第十三晶体管的第二端电连接第一修调电阻的第一端，第一修调电阻的第二端电连接第二电阻的第一端；第十二晶体管的第一端电连接待测电流的输出，第十二晶体管的第二端电连接第十四晶体管的第一端，第十四晶体管的第二端电连接第二修调电阻的第一端，第二修调电阻的第二端电连接第三电阻的第一端。
12、第十一晶体管的控制端和第十二晶体管的控制端电连接第一偏置电压，第十三晶体管的控制端和第十四晶体管的控制端电连接第二偏置电压；第二电阻的第二端、第三电阻的第二端、第十五晶体管的第一端、第十五晶体管的控制端和偏置电路的控制端电连接，第十五晶体管的第二端接地。
13、第一修调电阻的多个第一输出节点和第二修调电阻的多个第二输出节点均与电压选择组件的多个输入端一一对应电连接。
14、电压选择组件，用于接收多个第一修调电压，并从多个第一修调电压中确定第一目标修调电压；还用于接收多个第二修调电压，从多个第二修调电压中确定第二目标修调电压。
15、在一些实施例中，电压选择组件包括：第一电压选择器和第二电压选择器，第一电压选择器的多个输入端与多个第一输出节点一一对应电连接，第一电压选择器的输出端与二级运放电路的第二输入端电连接，第二电压选择器的多个输入端与多个第二输出节点一一对应电连接，第二电压选择器的输出端与二级运放电路的第三输入端电连接。
16、第一电压选择器，用于接收多个第一修调电压，并基于第一修调位信号从多个第一修调电压中选择第一目标修调电压。第二电压选择器，用于接收多个第二修调电压，并基于第二修调位信号从多个第二修调电压中选择第二目标修调电压。
17、在一些实施例中，第一修调电阻包括多个串联的第一子电阻，其中，任意相邻的两个第一子电阻的连接点与电压选择组件的输入端电连接，第一修调电阻的第二端与电压选择组件的输入端电连接。
18、第二修调电阻包括多个串联的第二子电阻，其中，任意相邻的两个第二子电阻的连接点与电压选择组件的输入端电连接，第二修调电阻的第二端与电压选择组件的输入端电连接。
19、在一些实施例中，电流检测电路还包括偏压电路，偏压电路的输入端电连接待测电流的输入，偏压电路的输出端电连接运放电路的第二控制端，偏压电路的控制端电连接第一晶体管和第三晶体管的连接点。
20、偏压电路，用于向运放电路提供偏置电压。
21、在一些实施例中，偏压电路包括第十六晶体管、第十七晶体管、第四电阻和第五电阻，第四电阻的第一端电连接待测电流的输入，第四电阻的第二端电连接第十六晶体管的第一端，第十六晶体管的第二端、第十六晶体管的控制端和运放电路的第二控制端电连接第十七晶体管的第一端，第十七晶体管的第二端通过第五电阻接地，第十七晶体管的控制端电连接第一晶体管和第三晶体管的连接点。
22、在一些实施例中，二级运放电路包括：放大器、第六电阻和第十八晶体管。放大器的正相输入端电连接一级运放电路的第一输出端，放大器的反相输入端电连接一级运放电路的第二输出端，放大器的输出端电连接第十八晶体管的控制端，第十八晶体管的第一端电连接一级运放电路的第一输入端，第十八晶体管的第二端通过第六电阻接地。
23、在一些实施例中，电流检测电路还包括第七电阻、第八电阻和采样电阻，采样电阻的第一端和第七电阻的第一端电连接待测电流的输入，采样电阻的第二端和第八电阻的第一端电连接待测电流的输出，第七电阻的第二端电连接运放电路的第一输入端，第八电阻的第二端电连本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种电流检测电路，其特征在于，包括：运放电路和偏置电路；
2.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述偏置电路包括：第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管、第五晶体管、第六晶体管、第七晶体管、第八晶体管、第九晶体管、第十晶体管和第一电阻；
3.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述运放电路包括一级运放电路和二级运放电路；
4.根据权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述一级运放电路包括：第十一晶体管、第十二晶体管、第十三晶体管、第十四晶体管、第十五晶体管、第二电阻、第三电阻、第一修调电阻、第二修调电阻和电压选择组件；
5.根据权利要求4所述的电流检测电路，其特征在于，所述电压选择组件包括：第一电压选择器和第二电压选择器；
6.根据权利要求4所述的电流检测电路，其特征在于，所述第一修调电阻包括多个串联的第一子电阻，其中，任意相邻的两个所述第一子电阻的连接点与所述电压选择组件的输入端电连接，所述第一修调电阻的第二端与所述电压选择组件的输入端电连接；
7.根据权利要求2所述的
8.根据权利要求7所述的电流检测电路，其特征在于，所述偏压电路包括第十六晶体管、第十七晶体管、第四电阻和第五电阻；
9.根据权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述二级运放电路包括：放大器、第六电阻和第十八晶体管；
10.根据权利要求1-9任一项所述的电流检测电路，其特征在于，还包括第七电阻、第八电阻和采样电阻；
11.一种芯片，特征在于，包括权利要求1-10任一项所述的电流检测电路。
...【技术特征摘要】
1.一种电流检测电路，其特征在于，包括：运放电路和偏置电路；
2.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述偏置电路包括：第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管、第五晶体管、第六晶体管、第七晶体管、第八晶体管、第九晶体管、第十晶体管和第一电阻；
3.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述运放电路包括一级运放电路和二级运放电路；
4.根据权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述一级运放电路包括：第十一晶体管、第十二晶体管、第十三晶体管、第十四晶体管、第十五晶体管、第二电阻、第三电阻、第一修调电阻、第二修调电阻和电压选择组件；
5.根据权利要求4所述的电流检测电路，其特征在于，所述电压选择组件包括：第一电压选择器和第二电压选择器；
6.根据权利要求4所述的电流检测电路，其特征在于，所述第一修调电阻包括多个串联的第一子电阻，...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈超，
申请(专利权)人：珠海楠欣半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。