一种CT系统及安检设备技术方案

技术编号:40633418 阅读:3 留言:0更新日期:2024-03-13 21:18
本技术涉及CT成像设备技术领域,公开一种CT系统及安检设备。其中CT系统包括沿Z向延伸的矩形通道、旋转组件、射线源和探测器组件。探测器组件包括中间探测器和边缘探测器,射线源的射线穿设于矩形通道并照射于探测器组件,转架转动360度时,射线源与边缘探测器之间形成检测矩形通道的环形边缘检测区域,环形边缘检测区域与矩形通道的重合部分不大于环形边缘检测区域与矩形通道的未重合部分;第一子边缘探测器和第二子边缘探测器上的晶体模块的排数是中间探测器上的晶体模块的排数的一半;第一子边缘探测器的晶体模块和第二子边缘探测器的晶体模块沿Z向交错设置且无重叠位置。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ct成像设备,尤其涉及一种ct系统及安检设备。


技术介绍

1、目前,ct(computed tomography,电子计算机断层扫描)系统由射线源、探测器、转子、数据传输系统、计算机、机架、传动系统等部分组成。其中射线源和探测器均安装在转子上并一同旋转。被检测物体放置在传送带上并沿z轴方向传动。射线源发射x射线,x射线穿过被检物后,剩余射线被探测器接收,探测器接收到的数据经由无线数据传输系统传输到电脑,电脑经过数据处理,分析被检测物体内部密度等信息,最终形成ct画像。其中射线源和探测器围绕被检测物体不断旋转,并从不同角度照射物体并接收剩余x射线。探测器接收到的数据经由无线数据传输系统传输到计算机,计算机经过数据处理,分析被检测物体形状和原子序数等信息,最终形成被检测物体的ct画像。

2、现有技术中,边缘探测器影响旋转半径,为了减小ct系统的尺寸,采用将边缘探测器向射线源方向移动的方式,进而减小机架的最大旋转半径。但是,边缘探测器向射线源方向移动时,边缘探测器沿z轴方向需按照比例变小,因此边缘探测器的晶体排间距必须变小才能满足常规算法和性能要求。但是排间距变小,探测器制作难度增加,会增加成本,甚至目前技术水平无法满足边缘探测器的加工。

3、基于此,亟需一种ct系统及安检设备,以解决上述存在的问题。


技术实现思路

1、基于以上所述,本技术的目的在于提供一种ct系统及安检设备,降低第一子边缘探测器和第二子边缘探测器的加工难度,进而降低生产成本。

<p>2、为达上述目的,本技术采用以下技术方案:

3、一方面,提供一种ct系统,包括:

4、沿z向延伸的矩形通道;

5、旋转组件,其包括转架,所述转架环设于所述矩形通道;

6、射线源和探测器组件,所述射线源和所述探测器组件均安装所述转架,且所述射线源和所述探测器组件设置于所述矩形通道的两侧;

7、所述探测器组件包括中间探测器和边缘探测器,所述边缘探测器包括对称设置于所述中间探测器两侧的第一子边缘探测器和第二子边缘探测器,所述射线源的射线穿设于所述矩形通道并照射于所述探测器组件,所述转架转动360度时,所述射线源与所述边缘探测器之间形成检测所述矩形通道的环形边缘检测区域,所述环形边缘检测区域与所述矩形通道的重合部分不大于所述环形边缘检测区域与所述矩形通道的未重合部分;

8、所述中间探测器、所述第一子边缘探测器和所述第二子边缘探测器均沿所述z向均匀间隔设置有多排晶体模块,所述第一子边缘探测器上的晶体模块的排数和所述第二子边缘探测器上的晶体模块的排数相同,且所述第一子边缘探测器上的晶体模块的排数是所述中间探测器上的晶体模块的排数的一半;

9、所述第一子边缘探测器的晶体模块和所述第二子边缘探测器的晶体模块沿所述z向交错设置且无重叠位置。

10、作为一种ct系统的优选技术方案,所述中间探测器设置于第一圆弧面上,所述边缘探测器设置于第二圆弧面上,所述第一圆弧面和所述第二圆弧面同轴设置,且所述射线源设置于所述第一圆弧面和所述第二圆弧面的轴线上。

11、作为一种ct系统的优选技术方案,所述第二圆弧面与所述矩形通道不干涉,且所述第二圆弧面不超出所述转架的外径。

12、作为一种ct系统的优选技术方案,所述第二圆弧面的半径小于所述第一圆弧面的半径。

13、作为一种ct系统的优选技术方案,所述第一圆弧面的半径为ra,所述第二圆弧面的半径为rb,所述中间探测器的长度为da,其中,ra/rb=da/db。

14、作为一种ct系统的优选技术方案,所述中间探测器上的晶体模块的间隔为da,所述第一子边缘探测器上的晶体模块的间隔和所述第二子边缘探测器上的晶体模块的间隔均为db,且所述第一子边缘探测器设置有n排晶体模块,所述中间探测器设置有2n排晶体模块,其中,db=db*(n-1),da=da*(2n-1)。

15、作为一种ct系统的优选技术方案,所述第一子边缘探测器的晶体模块与第二子边缘探测器的晶体模块沿所述z向的间隔为1/2db。

16、作为一种ct系统的优选技术方案,所述射线源照射于所述边缘探测器的射线路径与所述射线源照射于所述中间探测器的射线路径二者相邻的一侧相重合。

17、作为一种ct系统的优选技术方案,所述边缘探测器为多组,所述第二圆弧面为多个,多组所述边缘探测器与多个所述第二圆弧面一一对应。

18、另一方面,提供一种安检设备,包括以上任一方案所述的ct系统。

19、本技术的有益效果为:

20、本技术提供一种ct系统及安检设备,工作时,转架带动射线源和探测器组件共同绕矩形通道转动,当转架转动360度时,射线源与边缘探测器之间形成检测矩形通道的环形边缘检测区域,其中,环形边缘检测区域与矩形通道的重合部分为需要成像的区域,环形边缘检测区域与矩形通道的未重合部分为空气,不需要计算和再构成画像,计算量较小,因此第一子边缘探测器和第二子边缘探测器仅需少量的晶体模块就可以形成该层厚的画像。本技术环形边缘检测区域与矩形通道的重合部分不大于环形边缘检测区域与矩形通道的未重合部分,即检测矩形通道的四个尖角区域,相对于中间探测器,边缘探测器需要计算的数据量减少一半以上,因此能够将第一子边缘探测器上的晶体模块的排数和第二子边缘探测器上的晶体模块的排数设置成中间探测器上的晶体模块的排数的一半,当第一子边缘探测器和第二子边缘探测器上排数减少时,晶体模块的间隔可相对增大,降低第一子边缘探测器和第二子边缘探测器的加工难度,进而降低生产成本。

21、再者,由于第一子边缘探测器和第二子边缘探测器对称设置于中间探测器两侧,第一子边缘探测器和第二子边缘探测器检测位置为同一个环形边缘检测区域,为了保证该环形边缘检测区域的成像效果,第一子边缘探测器的晶体模块和第二子边缘探测器的晶体模块沿z向交错设置且无重叠位置,即第一子边缘探测器的晶体模块获取的数据层数和第二子边缘探测器的晶体模块获取的数据层数相加等于第一子边缘探测器的晶体模块获取的数据层数,满足ct系统形成ct画像的成像需求。

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...

【技术保护点】

1.一种CT系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的CT系统,其特征在于,所述中间探测器(41)设置于第一圆弧面上,所述边缘探测器(42)设置于第二圆弧面上,所述第一圆弧面和所述第二圆弧面同轴设置,且所述射线源(3)设置于所述第一圆弧面和所述第二圆弧面的轴线上。

3.根据权利要求2所述的CT系统,其特征在于,所述第二圆弧面与所述矩形通道(1)不干涉,且所述第二圆弧面不超出所述转架(21)的外径。

4.根据权利要求3所述的CT系统,其特征在于,所述第二圆弧面的半径小于所述第一圆弧面的半径。

5.根据权利要求2所述的CT系统,其特征在于,所述第一圆弧面的半径为Ra,所述第二圆弧面的半径为Rb,所述中间探测器(41)的长度为Da,其中,Ra/Rb=Da/Db。

6.根据权利要求5所述的CT系统,其特征在于,所述中间探测器(41)上的晶体模块(43)的间隔为da,所述第一子边缘探测器(421)上的晶体模块(43)的间隔和所述第二子边缘探测器(422)上的晶体模块(43)的间隔均为db,且所述第一子边缘探测器(421)设置有N排晶体模块(43),所述中间探测器(41)设置有2N排晶体模块(43),其中,Db=db*(N-1),Da=da*(2N-1)。

7.根据权利要求6所述的CT系统,其特征在于,所述第一子边缘探测器(421)的晶体模块(43)与第二子边缘探测器(422)的晶体模块(43)沿所述Z向的间隔为1/2db。

8.根据权利要求1所述的CT系统,其特征在于,所述射线源(3)照射于所述边缘探测器(42)的射线路径(44)与所述射线源(3)照射于所述中间探测器(41)的射线路径(44)二者相邻的一侧相重合。

9.根据权利要求2所述的CT系统,其特征在于,所述边缘探测器(42)为多组,所述第二圆弧面为多个,多组所述边缘探测器(42)与多个所述第二圆弧面一一对应。

10.一种安检设备,其特征在于,包括如权利要求1-9任一项所述的CT系统。

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【技术特征摘要】

1.一种ct系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的ct系统,其特征在于,所述中间探测器(41)设置于第一圆弧面上,所述边缘探测器(42)设置于第二圆弧面上,所述第一圆弧面和所述第二圆弧面同轴设置,且所述射线源(3)设置于所述第一圆弧面和所述第二圆弧面的轴线上。

3.根据权利要求2所述的ct系统,其特征在于,所述第二圆弧面与所述矩形通道(1)不干涉,且所述第二圆弧面不超出所述转架(21)的外径。

4.根据权利要求3所述的ct系统,其特征在于,所述第二圆弧面的半径小于所述第一圆弧面的半径。

5.根据权利要求2所述的ct系统,其特征在于,所述第一圆弧面的半径为ra,所述第二圆弧面的半径为rb,所述中间探测器(41)的长度为da,其中,ra/rb=da/db。

6.根据权利要求5所述的ct系统,其特征在于,所述中间探测器(41)上的晶体模块(43)的间隔为da,所述第一子边缘探测器(421)上的晶体模块(43)的...

【专利技术属性】
技术研发人员:周志阳邹一梅
申请(专利权)人:德瑞科天津机械制造有限公司
类型:新型
国别省市:

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