一种存储芯片的检测系统及检测方法技术方案

本发明专利技术提供一种存储芯片的检测系统及检测方法，检测系统包括接口模块，用以接收主机写入的设定数据和设定指令；芯片测试座，用以安装待测芯片；中央处理模块，用以向待测芯片下发跳变数据，跳变数据是基于设定指令对设定数据的多个位发生跳变处理后的数据，待测芯片写入跳变数据记为接收数据，并记录接收数据对应的地址数据；其中，中央处理模块读取待测芯片地址数据上的接收数据，当跳变数据和接收数据相同时完成待测芯片的检测，当跳变数据和接收数据不相同时，生成待测芯片的错误数据。本发明专利技术能够快速高效的对存储芯片进行检测，可提高存储芯片的稳定性和兼容性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及静态存储，尤其涉及一种存储芯片的检测系统及检测方法。

技术介绍

1、随着存储芯片在电视机、机顶盒、平板电脑或者手机等终端产品中的广泛应用，对存储芯片的性能及可靠性要求也越来越高，需要确保存储芯片中的数据稳定可靠。存储芯片内部主控运行的固件至关重要，固件既要能正确处理正常的读写操作，又要在系统发送的命令提示符及数据出现错误时，能够恢复到正常状态。因此对于存储芯片而言，快速高效的检测是有必要的。因此，存在待改进之处。

技术实现思路

1、本专利技术提供一种存储芯片的检测系统及检测方法，以改善现有技术中存在对于存储芯片的快速高效的检测能力不足的技术问题。

2、本专利技术提供一种存储芯片的检测系统，包括：

3、接口模块，用以接收主机写入的设定数据和设定指令；

4、芯片测试座，用以安装待测芯片；

5、中央处理模块，用以向所述待测芯片下发跳变数据，所述跳变数据是基于所述设定指令对所述设定数据的多个位发生跳变处理后的数据，所述待测芯片写入所述跳变数据记为接收数据，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储芯片的检测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述中央处理模块向所述待测芯片下发不同数据线上多个位发生反转处理的跳变数据，或者下发不同命令提示符线上多个位发生反转处理的跳变数据。

3.根据权利要求2所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述中央处理模块向所述待测芯片下发多个位发生反转处理的跳变数据，以使得所述待测芯片生成所述跳变数据所对应的命令队列；

4.根据权利要求3所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述中央处理模块向所述待测芯片的微处理单元下发所述跳变数据，所述待测芯片的微处理单元向所述...

【技术特征摘要】

1.一种存储芯片的检测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述中央处理模块向所述待测芯片下发不同数据线上多个位发生反转处理的跳变数据，或者下发不同命令提示符线上多个位发生反转处理的跳变数据。

3.根据权利要求2所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述中央处理模块向所述待测芯片下发多个位发生反转处理的跳变数据，以使得所述待测芯片生成所述跳变数据所对应的命令队列；

4.根据权利要求3所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述中央处理模块向所述待测芯片的微处理单元下发所述跳变数据，所述待测芯片的微处理单元向所述待测芯片的循环冗余校验单元传递所述跳变数据，所述循环冗余校验单元生成所述命令队列，并对所述命令队列进行校验。

5.根据权利要求4所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述循环冗余校验单元对所述命令队列校验成功后，将所述跳变数据传递至所述待测芯片的缓存单元和闪存单元中记为接收数据，所述微处理单元写下所述接收数据对应的地址数据。

6.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：余玉，许展榕，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：