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本发明提供一种存储芯片的检测系统及检测方法，检测系统包括接口模块，用以接收主机写入的设定数据和设定指令；芯片测试座，用以安装待测芯片；中央处理模块，用以向待测芯片下发跳变数据，跳变数据是基于设定指令对设定数据的多个位发生跳变处理后的数据，待...
该专利属于合肥康芯威存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥康芯威存储技术有限公司授权不得商用。

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