一种电子元件测试用万用表装置制造方法及图纸

本申请公开了一种电子元件测试用万用表装置，属于电子元件测试设备技术领域，包括万用表主体，万用表主体表面于每个表笔插孔位置对应处均设有拦截保护结构，盖板槽内通过扭簧铰接有翻盖板，翻盖板上连接有把手，罩盖上设有透气的透膜组件，透膜组件包括膜构件和唤醒构件。本电子元件测试用万用表装置通过拦截保护结构中透气的透膜组件将环境中的灰尘和湿气中的水分与表笔插孔隔离，使得本装置无论处于闲置或者使用状态时，外界环境中灰尘、湿气中水分杂都难以侵入至表笔插孔内部，这样不仅能有效避免因灰尘和湿气侵入而造成表笔插头与插孔之间的接触不良，进而引发测量误差的情况出现，使得电子元件测试结果的准确性得到保障。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及电子元件测试设备，更具体地说，涉及一种电子元件测试用万用表装置。

技术介绍

1、万用表是电子元件测试领域使用广泛的测试仪器，在进行对单独的电子元件进行测试时，一般都是把电子元件放置在桌面上，然后再将万用表的表笔插头插入至万用表上对应的表笔插孔内，再用万用表表笔测试端分别接触电子元件的阴阳引脚，随后，万用表的显示屏上会显示出被测电子元件电路的电学参数数值。

2、当前，万用表在完成对电子元件的测试任务并处于闲置状态时，万用表的表笔插孔暴露于空气中，空气中的灰尘和湿气容易进入万用表表笔插孔内，使得表笔插孔内部积灰或者生锈，进而造成表笔插头与插孔连接处之间的接触不良，进而引发测量误差，影响万用表对于电子元件测试结果的准确性。

3、鉴于此，我们提出一种电子元件测试用万用表装置。

技术实现思路

1、要解决的技术问题：本申请的目的在于提供一种电子元件测试用万用表装置，解决了上述
技术介绍
中所提出的技术问题。

2、技术方案：本申请技术方案提供了一种电子元件测试用万用表装置，包括万用本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电子元件测试用万用表装置，其特征在于：包括万用表主体（1），所述万用表主体（1）表面于每个表笔插孔位置对应处均设有拦截保护结构；

2.根据权利要求1所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述热感应单元包括固定连接于防水透气膜（202）底部的膜底罩壳（208），膜底罩壳（208）外壁涂覆有一层气凝胶隔热涂料层（215）；

3.根据权利要求2所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述限位环处于引气管道（213）与膜底罩壳（208）连接处的下方。

4.根据权利要求2所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述引热体包括固定连接于膜底罩...

【技术特征摘要】

1.一种电子元件测试用万用表装置，其特征在于：包括万用表主体（1），所述万用表主体（1）表面于每个表笔插孔位置对应处均设有拦截保护结构；

2.根据权利要求1所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述热感应单元包括固定连接于防水透气膜（202）底部的膜底罩壳（208），膜底罩壳（208）外壁涂覆有一层气凝胶隔热涂料层（215）；

3.根据权利要求2所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述限位环处于引气管道（213）与膜底罩壳（208）连接处的下方。

4.根据权利要求2所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述引热体包括固定连接于膜底罩壳（208）壁厚内部的金属中空导热针（205）；

5.根据权利要求4所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述金属中空导热针（205）的底端穿入膜底罩壳（208）内腔与氮气层（217）接触后穿过膜底罩壳（208）底部，且金属中空导热针（205）底端由膜...

【专利技术属性】
技术研发人员：王斌，夏雷，杨林杰，路晋博，
申请(专利权)人：黄河科技集团网信产业有限公司，
类型：发明
国别省市：