发光芯片、显示面板及显示面板的制作方法技术

技术编号:40606998 阅读:15 留言:0更新日期:2024-03-12 22:13
本公开属于显示技术领域,具体涉及一种发光芯片、显示面板及显示面板的制作方法。发光芯片包括发光功能层和示警层,示警层位于发光功能层内或发光功能层的表面,包括基体材料层和多个分散在基体材料层内的示警粒子,示警粒子包括示警材料和包裹在示警材料外侧的隔离膜,隔离膜用于隔绝示警材料和基体材料层;示警材料能够在隔离膜发生破裂时与基体材料层的材料发生化学反应,以生成用于标记裂缝的标记材料。本公开通过在发光芯片中设置示警层,并利用示警层中示警材料与基体材料层接触后可以发生化学反应并生成标记材料的特性,以起到发光芯片破损示警的作用,进而提高发光芯片破损检测的效率。

【技术实现步骤摘要】

本公开属于显示,具体涉及一种发光芯片、显示面板及显示面板的制作方法


技术介绍

1、由于micro-led具有低功耗,高亮度和高分辨率的优势,已成为目前非常热门和受欢迎的显示技术。但是巨量转移以及巨量转移前后对发光芯片的检测目前还存在很多难题,以一个4k显示器为例,需要转移的发光芯片就高达2400万颗,在制备和转移发光芯片的过程中难免会造成发光芯片的损坏,由于一颗发光芯片的大小大约是100um,甚至更小,可想而知,发生在单颗发光芯片上的很细微的裂纹损坏将会更加微小,所以如何在这庞大数量的发光芯片中精准检测出损坏的发光芯片,是一项技术难点,现有技术虽然能通过常规的镜检对发光芯片进行破损检测,但因为需要检测的发光芯片数量庞大且裂纹细微,还是会出现漏检或检测效率不高的问题。


技术实现思路

1、本申请的目的在于提供一种发光芯片、显示面板及显示面板的制作方法,能够产生标记发光芯片裂缝位置的标记材料,从而起到发光芯片的破损示警作用,并提高发光芯片检测效率。

2、本公开提供了一种发光芯片,包括:发光功能层和示警本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种发光芯片,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的发光芯片,其特征在于,所述示警材料能够在所述隔离膜发生破裂时与所述基体材料层的材料至少发生颜色反应,以生成与所述基体材料层和所述示警材料颜色不同的所述标记材料。

3.根据权利要求2所述的发光芯片,其特征在于,所述示警材料至少包括二氯荧光素材料;所述基体材料层的材料至少包括环氧树脂材料。

4.根据权利要求1所述的发光芯片,其特征在于,所述示警材料能够在所述隔离膜发生破裂时与所述基体材料层的材料至少发生膨胀反应,以生成体积膨胀的所述标记材料。

5.根据权利要求4所述的发光芯片,其特征...

【技术特征摘要】

1.一种发光芯片,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的发光芯片,其特征在于,所述示警材料能够在所述隔离膜发生破裂时与所述基体材料层的材料至少发生颜色反应,以生成与所述基体材料层和所述示警材料颜色不同的所述标记材料。

3.根据权利要求2所述的发光芯片,其特征在于,所述示警材料至少包括二氯荧光素材料;所述基体材料层的材料至少包括环氧树脂材料。

4.根据权利要求1所述的发光芯片,其特征在于,所述示警材料能够在所述隔离膜发生破裂时与所述基体材料层的材料至少发生膨胀反应,以生成体积膨胀的所述标记材料。

5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:唐榕叶利丹
申请(专利权)人:惠科股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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