【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及质谱技术，特别涉及飞行时间质谱仪和方法。
技术介绍
1、飞行时间质谱仪分辨率定义为r=t/(2δt)，其中t为离子总飞行时间，δt为质谱峰半峰宽。可见，改善质谱分辨率的方式只有离子总飞行时间延长和质谱峰半峰宽缩短两种方式。而质谱峰半峰宽受初始空间分散、初始能量分散和回头时间影响，极难降低，这也是限制飞行时间质谱仪分辨率的主要原因。
2、现有技术解决方法：加长无场区长度使离子总飞行时间变长，从而改善分辨率，分辨率为几万的质谱仪，无场区长度需要达到数米，对实验环境要求很高。
技术实现思路
1、为解决上述现有技术方案中的不足，本专利技术提供了一种飞行时间质谱仪。
2、本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的：
3、飞行时间质谱仪，所述飞行时间质谱仪包括在第一方向上依次设置的调制区、加速区、无场区和反射区，所述加速区和反射区内均设置多个电极；所述飞行时间质谱仪还包括：
4、控制电极和电源，所述电源为控制电极施加电压，形成的控制电场对所述无场区内的离子施加正向或反向上的电场力，使离子处于无场区内，所述电场力的方向和第一方向间的夹角是直角或锐角；
5、控制器，所述电源根据所述控制器的指令，调整所述控制电极上的电压，以及所述加速区内的电极上的电压，使得从无场区进入加速区的离子被反射。
6、本专利技术的目的还在于提供了飞行时间质谱仪的工作方法，该专利技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
7、飞行时间
8、离子从调制区依次进入加速区、无场区、反射区和所述无场区；
9、调整所述加速区内电极上的电压，使得从无场区进入加速区的离子被反射，之后进入所述无场区和反射区；
10、离子在加速区和反射区之间来回反射，同时，在无场区内的离子被施加电场力而偏移，防止离子逸出无场区；
11、当来回反射的次数达到要求后，调整所述加速区内电极的电压，离子穿过加速区，被探测器接收。
12、与现有技术相比，本专利技术具有的有益效果为：
13、1.分辨率高；
14、通过设置控制电极，并调整加速区电极上的电压，使得加速区根据需要地在加速和反射功能间转换，同时，控制电极对无场区内的离子提供电场力以偏移离子，防止离子逸出，从而使得离子在加速区和反射区之间来回反射，提高总的飞行时间，从而根据需要地提高分辨率；
15、2.体积小；
16、鉴于离子在加速区和反射区间来回反射，反复穿过无场区，提高了飞行时间，这种折叠式设计显著地缩小了体积，无场区的长度由现有技术中的数米缩小到本专利的30cm。
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1.飞行时间质谱仪，所述飞行时间质谱仪包括在第一方向上依次设置的调制区、加速区、无场区和反射区，所述加速区和反射区内均设置多个电极；其特征在于，所述飞行时间质谱仪还包括：
2.根据权利要求1所述的飞行时间质谱仪，其特征在于，所述加速区内设置依次设置的多个电极，当所述电源为最临近调制区的电极上施加正电压时，进入所述加速区的离子被反射。
3.根据权利要求1所述的飞行时间质谱仪，其特征在于，离子的总飞行时间T为：
4.根据权利要求1所述的飞行时间质谱仪，其特征在于，所述控制电极包括在所述正向上依次设置的第一电极和第二电极，所述无场区处于第一电极和第二电极之间。
5.飞行时间质谱仪的工作方法，所述工作方法为：
6.根据权利要求5所述的飞行时间质谱仪的工作方法，其特征在于，所述加速区内包括依次设置的多个电极，当电源为最临近调制区的电极上施加正电压，其它电极上施加负电压时，进入所述加速区的离子被反射；
7.根据权利要求5所述的飞行时间质谱仪的工作方法，其特征在于，离子的总飞行时间T为：
8.根据权利要求6所述
9.根据权利要求8所述的飞行时间质谱仪的工作方法，其特征在于，
...【技术特征摘要】
1.飞行时间质谱仪，所述飞行时间质谱仪包括在第一方向上依次设置的调制区、加速区、无场区和反射区，所述加速区和反射区内均设置多个电极；其特征在于，所述飞行时间质谱仪还包括：
2.根据权利要求1所述的飞行时间质谱仪，其特征在于，所述加速区内设置依次设置的多个电极，当所述电源为最临近调制区的电极上施加正电压时，进入所述加速区的离子被反射。
3.根据权利要求1所述的飞行时间质谱仪，其特征在于，离子的总飞行时间t为：
4.根据权利要求1所述的飞行时间质谱仪，其特征在于，所述控制电极包括在所述正向上依次设置的第一电极和第二电极，所述无场区...
【专利技术属性】
技术研发人员：姜欣明，俞晓峰，徐岳，李锐，齐忠维，韩双来，
申请(专利权)人：杭州谱育科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：
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