一种光学非成像探测器光轴一致性高精度装调方法技术

本发明专利技术公开了一种光学非成像探测器光轴一致性高精度装调方法，首先完成红外探测器和可见光探测器的光轴一致性装调；然后根据红外探测器的十字丝与激光测距器的激励端激发的光斑A的纵向像素偏差值和横向像素偏差值x<subgt;1‑形</subgt;，将调整垫片垫入激光测距器过渡板与前盖之间；同时调节激光测距器的横向位置，直到x<subgt;1‑形</subgt;小于或等于1；根据可见光探测器的十字丝与激光眩目器的激励端激发的光斑B的纵向像素偏差值和横向像素偏差值x<subgt;2‑形</subgt;，将调整垫片垫入激光眩目器过渡板与前盖之间；同时调节激光眩目器的横向位置，直到x<subgt;2‑形</subgt;小于或等于1；本发明专利技术能够获得准确的非成像光学探测器的光轴中心，给出了定量化的判别方法，提高了光电观瞄系统光轴一致性装调精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于机械及光学，具体涉及一种光学非成像探测器光轴一致性高精度装调方法。

技术介绍

1、随着科学技术的发展、国防与工业功能需求增加，光电观瞄系统发展成含有红外探测器、可见光探测器、激光测距器、激光眩目器等多种光学探测器，其中激光测距器与激光眩目器为非成像探测器。红外探测器、可见光探测器为成像光学探测器，激光测距器、激光眩目器为非成像光学探测器。激光测距器发射激光作用于物体后，采集激光反射后的激光能量，得到探测目标的有效距离并输出给主系统使用；激光眩目器输出激光束，对入侵者起警示与警戒作用。

2、光学探测器之间的光轴一致性是影响光电观瞄系统探测性能的重要指标。特别是如何高精度装调光学非成像探测器与其它光学探测器间的光轴一致性，当非成像光学探测器与其它光学探测器间的光轴一致性偏差较大时，会有以下情况：1)激光测距器与可见光探测器或红外探测器光轴一致性达不到设计要求时，在远距离目标识别过程中，可见光探测器或红外探测器识别到目标，并对目标进行锁定，激光测距器开始对目标进行测距，返回距离值，供给光电观瞄系统；但是如果激光测距器光轴一致性较差时，激本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光学非成像探测器光轴一致性高精度装调方法，其特征在于，具体步骤如下：

2.如权利要求1所述的一种光学非成像探测器光轴一致性高精度装调方法，其特征在于，在步骤1中，完成红外探测器和可见光探测器的光轴一致性装调后，测量两个非成像光学探测器的安装尺寸：激光测距器的安装尺寸为D1，激光眩目器的安装尺寸为D2。

3.如权利要求2所述的一种光学非成像探测器光轴一致性高精度装调方法，其特征在于，在步骤1之前，搭建光轴一致性调试系统，所述光轴一致性调试系统包括：可见光探测器、红外探测器、前盖、调试工装、平行光管和上位机；

4.如权利要求3所述的一种光学非成像探...

【技术特征摘要】

1.一种光学非成像探测器光轴一致性高精度装调方法，其特征在于，具体步骤如下：

2.如权利要求1所述的一种光学非成像探测器光轴一致性高精度装调方法，其特征在于，在步骤1中，完成红外探测器和可见光探测器的光轴一致性装调后，测量两个非成像光学探测器的安装尺寸：激光测距器的安装尺寸为d1，激光眩目器的安装尺寸为d2。

3.如权利要求2所述的一种光学非成像探测器光轴一致性高精度装调方法，其特征在于，在步骤1之前，搭建光轴一致性调试系统，所述光轴一致性调试系统包括：可见光探测器、红外探测器、前盖、调试工装、平行光管和上位机；

4.如权利要求3所述的一种光学非成像探测器光轴一致性高精度装调方法，其特征在于，在步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋巨光，李明，周隆梅，张鹏，蒋东亮，崔浩洋，
申请(专利权)人：河北汉光重工有限责任公司，
类型：发明
国别省市：