一种LED封装缺陷的检测方法、装置及系统制造方法及图纸

技术编号:40595428 阅读:23 留言:0更新日期:2024-03-12 21:57
本发明专利技术适用于LED测试技术领域,提供了一种LED封装缺陷的检测方法、装置及系统。在本实施例中,在获得待检测的LED设备图片特征图之后,通过神经网络模型中的模型系数确定特征图的图形优化信息,并根据图形优化信息对LED设备图片进行图像增强优化,以判断该LED设备是否存在缺陷。通过采用图像识别来进行LED封装检测,这解决了通过人工检测影响检测精度,并且效率低下的问题。并且,在对LED图片对应的特征图进行优化增强后,与检测正常的LED设备图片相关程度较高的特征值被增强,而与检测正常的LED设备图片相关程度较低的特征值被抑制,这可以进一步提高识别率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及led测试,尤其涉及一种led封装缺陷的检测方法、装置及系统。


技术介绍

1、led封装是指将发光二极管芯片与支持电路、散热结构等元件进行组装,并通过封装材料进行密封,以提供保护和散热的过程,封装质量决定了后续led是否能够正常使用以及使用寿命,某些缺陷虽然使用初期并不影响其光电性能,但在以后的使用过程中会逐渐暴露出来并导致器件失效。目前对于封装过程中的质量检测大都通过人工辅助显微镜等工具肉眼观察,长时间工作后容易视觉疲劳,影响检测精度,并且人工方式效率低下,需要一种更高效的检测方法。

2、而图像识别是一种利用计算机对图像进行处理、分析和理解,以识别各种不同模式的目标和对象的技术。图像识别方法,一般包括:提取图像特征,利用提取的图像特征进行图像识别,得到目标对象。

3、可以采用图像识别来进行led封装检测,该方式可以取代消耗人力的人工识别,从而减小识别误差,提高检测的稳定性和准确度。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请提供一种led封装缺陷的检测方法、装置及系统,用于解决现有本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种LED封装缺陷的检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过检测正常的LED设备图片确定所述神经网络模型的模型系数包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述特征图中的特征值,以及所述模型系数对所述特征图进行处理,确定所述特征图的图形优化信息包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,确定待检测的LED设备是否存在缺陷之后,所述方法还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述图形优化信息对所述LED设备图片进行图像增强优化包括

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【技术特征摘要】

1.一种led封装缺陷的检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过检测正常的led设备图片确定所述神经网络模型的模型系数包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述特征图中的特征值,以及所述模型系数对所述特征图进行处理,确定所述特征图的图形优化信息包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,确定待检测的led设备是否存在缺陷之后,所述方法还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述图形优化信息对所述led设备图片进行图像增强优化包括:

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【专利技术属性】
技术研发人员:文钱涛文思
申请(专利权)人:深圳腾杰光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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