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本发明适用于LED测试技术领域，提供了一种LED封装缺陷的检测方法、装置及系统。在本实施例中，在获得待检测的LED设备图片特征图之后，通过神经网络模型中的模型系数确定特征图的图形优化信息，并根据图形优化信息对LED设备图片进行图像增强优化，...
该专利属于深圳腾杰光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳腾杰光电科技有限公司授权不得商用。

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