【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及通信，特别是涉及一种固件测试方法和系统。
技术介绍
1、固件是光模块的神经中枢，光模块通过固件实现内部芯片的控制及与外部主板间的相互通信。随着人们对下载速率要求的逐渐提高，无线通信愈加依赖于光纤通信，光模块作为5g时代发展中的一部分，基站和传输设备中的核心部件，对光模块的性能要求也将越来越高。
2、在光模块的研发领域，光模块的固件测试必不可少，目前研发人员只能手动进行测试，测试项目多，且需人工对测试项目的数据进行分析，才能够得出测试结果，如现有技术中通常通过示波器获取固件引脚波形，再由本领域技术人员对波形进行分析得到最终结果，其耗费时间长，且人工操作测试的可靠性依赖于个人经验，不适用于大批量生产时的固件测试。
3、鉴于此，克服该现有技术所存在的缺陷是本
亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本专利技术要解决的技术问题是现有的固件测试仍需手动对波形进行分析，过程繁琐，且影响固件测试的效率。
2、第一方面，本专利技术提供了一种固件测试方法，包括：
3、根据固件的测试项，获取固件中相应引脚的数字波形；
4、对所述数字波形进行定标，以找到所述数字波形中的待分析数据；
5、分析所述待分析数据，得到所述测试项的测试结果。
6、优选的，所述获取固件中相应引脚的数字波形，具体包括：
7、使用示波器获取所述引脚的模拟波形；
8、根据所述模拟波形的坐标参数，将所述模拟波形转换为
9、优选的，所述根据所述模拟波形的坐标参数，将所述模拟波形转换为数字波形，具体包括：
10、根据所述坐标参数中的纵坐标零点位置、纵坐标偏移和纵坐标系数，将所述模拟波形中的纵坐标值转换为模拟纵坐标值；
11、将所述模拟纵坐标值转换为对应的数字信号大小，从而生成数字波形。
12、优选的，所述对所述数字波形进行定标，以找到所述数字波形中的待分析数据，具体包括：
13、找到所述数字波形中的上升沿和/或下降沿，根据所述上升沿和/或下降沿，确定对应的待分析数据。
14、优选的，所述找到所述数字波形中的上升沿和/或下降沿，具体包括：
15、判断所述数字波形中的第一数据与前一条数据之间的差值是否大于第一预设差值，若所述差值大于第一预设差值，则选取所述第一数据后预设数量的第二数据，判断所述第一数据与每条第二数据之间的差值是否小于第二预设差值；
16、若所述第一数据与每条第二数据之间的差值均小于所述第二预设差值，且所述第一数据和所述第二数据的值均大于前一条数据的值时，所述第一数据与所述前一条数据之间存在所述数字波形的上升沿；
17、若所述第一数据与每条第二数据之间的差值均小于所述第二预设差值，且所述第一数据的值和所述第二数据的值均小于前一条数据的值时，所述第一数据与所述前一条数据之间存在所述数字波形的下降沿；
18、否则，所述第一数据与所述前一条数据之间既不存在上升沿也不存在下降沿。
19、优选的，所述分析所述待分析数据，得到所述测试项的测试结果，具体包括：
20、将所述待分析数据与预设波形数据进行比对，分析所述待分析数据与预设波形数据的差异大小，若所述差异大小小于预设差异阈值，则所述测试项正常；
21、或对所述固件中多个引脚的数字波形中的待分析数据进行比对，根据多个引脚的数字波形之间的预设关系，分析得到所述测试项的测试结果。
22、优选的，当所述固件为olt设备，且所述测试项为rxsd信号时，获取所述olt设备的探测信号的数字波形、所述olt设备的reset信号的数字波形和所述olt设备的rxsd信号的数字波形；
23、获取所述rxsd信号的下降沿与所述reset信号的上升沿之间的第一时延，以及所述rxsd信号的上升沿与所述探测信号的第一个上升沿之间的第二时延；其中，所述探测信号的第一个上升沿为产生于所述reset信号的下降沿之后的第一个上升沿；
24、判断所述第一时延是否小于第一预设时延阈值，并判断所述第二时延是否小于第二预设时延阈值；
25、若所述第一时延小于第一预设时延阈值且所述第二时延小于第二预设时延阈值，则所述固件的rxsd信号测试项正常。
26、优选的，所述方法还包括：对多个固件的相同测试项进行测试，具体的，
27、在上一次定标和分析过程结束后，从未得出测试结果的多个固件中，选择一个固件作为下一次的第一固件，以未得出测试结果的其他固件作为下一次的第二固件，进行下一次定标和分析过程，直至得出所有固件的测试项的测试结果；其中，在第一次定标和分析过程中，从所有固件中选择一个固件作为第一固件，其他固件作为第二固件；
28、所述定标和分析过程具体包括，对第一固件进行定标，找到第一固件的待分析数据，并分析得到所述第一固件的测试项的测试结果；
29、若分析得到第一固件的测试项正常，则以第一固件的待分析数据的信号输出时间为区间中心，以预设时间大小为区间大小，生成定标区间，在所述定标区间内，查找第二固件的待分析数据；
30、若在所述定标区间内查找得到所述第二固件的待分析数据，则分析所述第二固件的待分析数据，得到第二固件的测试项的测试结果；
31、若在所述定标区间内未查找得到所述第二固件的待分析数据，则所述第二固件的测试项异常；
32、若所述第一固件的测试项异常，则无法得出所述第二固件的测试项的测试结果，将所述第二固件保留至下一次定标和分析过程。
33、第二方面，本专利技术提供了一种固件测试系统，包括波形获取模块和分析模块；
34、所述波形获取模块用于根据固件的测试项，获取固件中相应引脚的数字波形；
35、所述分析模块用于对所述数字波形进行定标，以找到所述数字波形中的待分析数据，分析所述待分析数据，得到所述测试项的测试结果。
36、优选的，所述系统还包括供电模块和控制模块；
37、所述供电模块用于为所述固件提供工作电源；
38、所述控制模块用于为所述固件提供相应的输入信号，使固件的工作状态满足测试条件。
39、第三方面，本专利技术还提供了一种固件测试装置，用于实现第一方面所述的固件测试方法，所述装置包括：
40、至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述处理器执行，用于执行第一方面所述的固件测试方法。
41、第四方面，本专利技术还提供了一种非易失性计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个或多个处理器执行，用于完成第一方面所述的固件测本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种固件测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的固件测试方法，其特征在于，所述获取固件中相应引脚的数字波形，具体包括：
3.根据权利要求2所述的固件测试方法，其特征在于，所述根据所述模拟波形的坐标参数，将所述模拟波形转换为数字波形，具体包括：
4.根据权利要求1所述的固件测试方法，其特征在于，所述对所述数字波形进行定标，以找到所述数字波形中的待分析数据，具体包括：
5.根据权利要求4所述的固件测试方法，其特征在于，所述找到所述数字波形中的上升沿和/或下降沿，具体包括：
6.根据权利要求1所述的固件测试方法，其特征在于，所述分析所述待分析数据，得到所述测试项的测试结果，具体包括：
7.根据权利要求1～6任一所述的固件测试方法，当所述固件为OLT设备，且所述测试项为RxSD信号时，其特征在于，获取所述OLT设备的探测信号的数字波形、所述OLT设备的RESET信号的数字波形和所述OLT设备的RxSD信号的数字波形；
8.根据权利要求1～6任一所述的固件测试方法，其特征在于，所述方法还包
9.一种固件测试系统，其特征在于，包括波形获取模块和分析模块；
10.根据权利要求9所述的固件测试系统，其特征在于，所述系统还包括供电模块和控制模块；
...【技术特征摘要】
1.一种固件测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的固件测试方法，其特征在于，所述获取固件中相应引脚的数字波形，具体包括：
3.根据权利要求2所述的固件测试方法，其特征在于，所述根据所述模拟波形的坐标参数，将所述模拟波形转换为数字波形，具体包括：
4.根据权利要求1所述的固件测试方法，其特征在于，所述对所述数字波形进行定标，以找到所述数字波形中的待分析数据，具体包括：
5.根据权利要求4所述的固件测试方法，其特征在于，所述找到所述数字波形中的上升沿和/或下降沿，具体包括：
6.根据权利要求1所述的固件测试方法，其特征在于，所述分...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵佳丽，祝成军，彭新波，王晶，张鹏宇，胡方衍，
申请(专利权)人：武汉光迅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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