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【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电池检测,具体涉及一种基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法。
技术介绍
1、对于锂电池产品,由于制造工艺、使用环境等原因使其绝缘固体中存在缺陷,在产品充电过程中产生微短路放电,绝缘体寿命进一步下降,因此在产品设计、生产制造环节需要对电池进行微短路检测。常见的微短路检测方法为对恒流充电电压数据进行实时二阶微分,如图1所示,充电电压数据采用高速adc采样。二阶微分的幅值与微短路强度呈正相关关系。
2、当前针对电池微短路的检测,往往使用模拟电路方法,使用微分-放大-采集的硬件拓扑结构。该方法具有复杂的硬件规模,增加了电池调试、生产的难度,且检测结果易受干扰。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题,本专利技术提供一种基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法,本专利技术所采用的技术方案如下:
2、基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法,包括以下步骤:
3、步骤1、初始化环形缓存器a1、a2和b,其中a1、b的缓存池尺寸为n,a2的缓存池尺寸为m,m、n根据数据显示需要设定,设置电池微短路阈值t;
4、步骤2、开启adc采集,充电电压数据分别进入环形缓存器a1、a2,当环形缓存器a1占用空间大于1时,开始进行一阶微分计算,计算结果存入环形缓存器b;当环形缓存器b占用空间大于1时,开始进行二阶微分计算,处理器实时将二阶微分值与阈值t比较;当二阶微分值大于阈值t时,即视为微短路现象发生,触发处理器内的微短路事件;
5、步骤
6、重复步骤2、3直到充电电压停止输出。
7、优选的,a1大小根据一阶微分运算速度调试设定,a1用于缓存原始测量数据;a2用于截取微短路发生时原始采集数据和充电电压曲线,并保存用于上传至上位机后进行显示与分析;b用于缓存一阶微分结果,当环形缓存器b被占用空间大于1时,开始进行二阶微分,同时对二阶微分结果进行数据识别,根据设定的阈值筛选出电池微短路数据。
8、优选的,环形缓存器是对内存的一种抽象应用,设定一块缓冲池尺寸为l的内存具有两个指针p1、p2,将内存抽象成p1、p2首尾相接的环形缓存器,划分成若干个存储空间,当对环形缓存器写入若干组数据时,位于低地址的指针p1向下移动若干位,向环形缓存器中写入数据;当从环形缓存器中读出若干组数据时,位于高地址的指针p2被移动若干位并读出数据,读取数据完成后的存储空间被覆盖。
9、本专利技术的有益效果:
10、本专利技术的创新点主要在于数据的采集存储,本专利技术采用软件方法设计三个环形缓冲器作为数据暂存区,用于快速缓存测量电路的原始测量数据和计算数据,并通过实时的二阶微分快速截取电池微短路状态,同时灵活开辟内存空间,用于存放电池微短路电压波形用于显示分析,降低了生产成本、提高了调试效率。
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1.基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法,其特征在于,A1大小根据一阶微分运算速度调试设定,A1用于缓存原始测量数据;A2用于截取微短路发生时原始采集数据和充电电压曲线,并保存用于上传至上位机后进行显示与分析;B用于缓存一阶微分结果,当环形缓存器B被占用空间大于1时,开始进行二阶微分,同时对二阶微分结果进行数据识别,根据设定的阈值筛选出电池微短路数据。
3.根据权利要求2所述的基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法,其特征在于,环形缓存器是对内存的一种抽象应用,设定一块缓冲池尺寸为L的内存具有两个指针p1、p2,将内存抽象成p1、p2首尾相接的环形缓存器,划分成若干个存储空间,当对环形缓存器写入若干组数据时,位于低地址的指针p1向下移动若干位,向环形缓存器中写入数据;当从环形缓存器中读出若干组数据时,位于高地址的指针p2被移动若干位并读出数据,读取数据完成后的存储空间被覆盖。
【技术特征摘要】
1.基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的基于环形缓存器的电池微短路数据采集方法,其特征在于,a1大小根据一阶微分运算速度调试设定,a1用于缓存原始测量数据;a2用于截取微短路发生时原始采集数据和充电电压曲线,并保存用于上传至上位机后进行显示与分析;b用于缓存一阶微分结果,当环形缓存器b被占用空间大于1时,开始进行二阶微分,同时对二阶微分结果进行数据识别,根据设定的阈值筛选出电池微短...
【专利技术属性】
技术研发人员:白洪超,于沛然,张新,张宏熠,
申请(专利权)人:青岛艾诺仪器有限公司,
类型:发明
国别省市:
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