【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测量技术的，具体地，涉及用于干涉仪的片上灵敏度增强方法及系统。
技术介绍
1、光学干涉测量法在精密测量中起着至关重要的角色，例如光学干涉仪广泛用于引力波探测、陀螺仪和环境传感等精密测量中。在经典光学干涉测量中，其灵敏度极限是散粒噪声极限，但在实际应用中往往达不到散粒噪声极限。传统的光学干涉仪的工作原理是将一束参考光和一束信号光进行干涉，当参考光和信号光经过的路程不同时，其相位变化体现在干涉后的光强变化。通过干涉后的光强变化，也即干涉图的明暗条纹变化来计算移动距离，但是其测量精度直接受到光波长的限制。由于光学干涉仪测量灵敏度的限制，其在高精度测量中作用非常局限，如何提高光学干涉仪测量精度成了急需解决的问题。
2、量子精密测量是近些年来大力发展的高精度测量手段，弱测量技术是量子精密测量的一部分。弱测量技术通过选择合适的前选择和后选择的操作，将一束光的水平偏振和垂直偏振之间微弱的相位变化放大到可以观测的位置，这个过程以牺牲大幅度光强为代价以换取高精度的测量。弱测量技术因其在微弱相位变化的测量上有着极高的灵敏度而广泛受...
【技术保护点】
1.一种用于干涉仪的片上灵敏度增强方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的用于干涉仪的片上灵敏度增强方法，其特征在于，所述步骤S2包括如下步骤：
3.根据权利要求1所述的用于干涉仪的片上灵敏度增强方法，其特征在于，所述步骤S3包括如下步骤：
4.根据权利要求1所述的用于干涉仪的片上灵敏度增强方法，其特征在于，所述步骤S4包括如下步骤：
5.根据权利要求1所述的用于干涉仪的片上灵敏度增强方法，其特征在于，所述步骤S1中：初始光信号从第一端口入射，经过偏振片起偏，偏振片光轴角度为45°，完成前选择过...
【技术特征摘要】
1.一种用于干涉仪的片上灵敏度增强方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的用于干涉仪的片上灵敏度增强方法，其特征在于，所述步骤s2包括如下步骤：
3.根据权利要求1所述的用于干涉仪的片上灵敏度增强方法，其特征在于，所述步骤s3包括如下步骤：
4.根据权利要求1所述的用于干涉仪的片上灵敏度增强方法，其特征在于，所述步骤s4包括如下步骤：
5.根据权利要求1所述的用于干涉仪的片上灵敏度增强方法，其特征在于，所述步骤s1中：初始光信号从第一端口入射，经过偏振片起偏，偏振片光轴角度为45°，完成前选择过程，前选择态表示为：|h>和|v>分别表示水平偏振和垂直偏振。
...【专利技术属性】
技术研发人员：黄靖正，罗忠源，曾贵华，李洪婧，
申请(专利权)人：上海交通大学，
类型：发明
国别省市：
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