【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及连接器测试领域，尤其涉及一种连接器的测试方法、装置及设备。
技术介绍
1、边界扫描测试(boundary scan inspect，bsi)技术是利用芯片的联合测试工作组(joint test action group，jtag)功能，对连接器的连接性进行测试的方法。例如，芯片可以为中央处理器、或者内存等，连接器可以为主板上的连接器。
2、相关技术中，对主板进行bsi测试前，可以通过测试卡连接芯片，并将多个测试卡对应插入主板上的多个连接器，然后通过测试控制设备进行测试、并得到测试结果。若测试结果指示测试通过，则bsi测试结束。若测试结果指示测试未通过，需要将主板上所有测试卡拔出、并重新插入对应的连接器，然后重复进行前一次的bsi测试。也就是说，需要重新拔插主板上所有测试卡，并进行二次测试。然而，由于主板上连接器数量较多，上述测试过程所需的测试时长较大，导致测试效率较低。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种连接器的测试方法、装置及设备，所述方法可以提高测试效率。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种连接器的测试方法，应用于测试控制设备，所述方法包括：
3、获取被测试板上多个连接器的测试结果，所述测试结果用于指示每个所述连接器与相应的测试卡是否正常连接；
4、根据所述多个连接器的测试结果，在所述多个连接器中确定目标连接器，所述目标连接器的测试结果指示所述目标连接器与相应的所述测试卡未正常连接；
5、请求可
6、上述方案中，测试控制设备可以获取被测试板上多个连接器的测试结果，可以根据多个连接器的测试结果在多个连接器中确定目标连接器。目标连接器测试结果指示目标连接器与相应的测试卡未正常连接。测试控制设备可以请求plc在目标连接器上拔插测试卡，并可以对目标连接器进行重新测试，得到目标连接器的更新后的测试结果。通过上述方法，可以只对未与测试卡正常连接的目标连接器上的测试卡进行拔插操作，可以只对未与测试卡正常连接的目标连接器重新测试，避免了对被测板上所有连接器进行拔插操作以及重新测试，缩短了测试时长，提高了测试效率。另外，减少了与连接器正常连接的测试卡的拔插次数，延长了测试卡的使用寿命，降低了测试成本。
7、一种可能的实现方式中，所述请求plc在所述目标连接器上拔插所述测试卡，包括：
8、获取所述目标连接器的测试次数；
9、若所述测试次数小于或等于预设次数，则请求plc在所述目标连接器上拔插所述测试卡。
10、上述方案中，可以只对未与测试卡正常连接、且测试次数小于或等于预设次数的目标连接器，进行拔插操作。避免了对被测板上所有连接器进行拔插操作，缩短了测试时长，提高了测试效率。
11、一种可能的实现方式中，所述请求plc在所述目标连接器上拔插所述测试卡，包括：
12、向所述plc发送拔插指令，所述拔插指令包括所述目标连接器的标识，所述拔插指令用于指示所述plc在所述目标连接器上拔出所述测试卡、并在所述目标连接器上插入所述测试卡；
13、接收所述plc发送的拔插完成指令，所述拔插完成指令用于指示在所述目标连接器上完成拔插所述测试卡。
14、上述方案中，可以通过拔插指令指示plc在目标连接器上拔插测试卡，实现了对目标连机器上的连接卡重拔插的目的。
15、一种可能的实现方式中，所述对所述目标连接器进行重新测试，得到所述目标连接器的更新后的测试结果，包括：
16、向控制器发送测试请求，所述测试请求中包括输入测试数据和所述目标连接器的标识，所述测试请求用于请求所述控制器根据所述输入测试数据对所述目标连接器进行测试；
17、接收所述控制器发送的输出测试数据；
18、根据所述输入测试数据和所述输出测试数据，确定所述更新后的测试结果。
19、上述方案中，可以通过测试请求指示控制器对目标连接器重新测试，实现了对目标连机器重新测试的目的。
20、一种可能的实现方式中，所述根据所述输入测试数据和所述输出测试数据，确定所述更新后的测试结果，包括：
21、若所述输入测试数据和所述输出测试数据匹配，则确定所述更新后的测试结果指示所述目标连接器与所述测试卡正常连接；
22、若所述输入测试数据和所述输出测试数据不匹配，则确定所述更新后的测试结果指示所述目标连接器与所述测试卡未正常连接。
23、上述方案中，可以根据输入测试数据和输出测试数据确定测试结果，实现了确定更新后的测试结果的目的。
24、一种可能的实现方式中，所述获取被测试板上多个连接器的测试结果之后，还包括：
25、获取每个所述连接器的测试次数，并分别将每个所述连接器的所述测试次数更新为所述测试次数加1。
26、上述方案中，可以更新连接器的测试次数，实现了记录连接器测试次数的目的。
27、一种可能的实现方式中，所述对所述目标连接器进行重新测试，得到所述目标连接器的更新后的测试结果之后，还包括：
28、获取所述目标连接器的测试次数，并将所述测试次数更新为所述测试次数加1。
29、上述方案中，可以更新目标连接器的测试次数，实现了记录目标连接器测试次数的目的。
30、一种可能的实现方式中，所述方法还包括：
31、根据所述多个连接器的测试结果，在所述多个连接器中确定第一连接器，所述第一连接器的测试结果指示所述第一连接器与相应的所述测试卡正常连接；
32、输出或者显示所述第一连接器的测试结果。
33、上述方案中，可以输出或显示第一连接器的测试结果，避免了对第一连接器进行拔插操作以及重新测试，缩短了测试时长，提高了测试效率。另外，减少了与第一连接器连接的测试卡的拔插次数，延长了测试卡的使用寿命，降低了测试成本。第二方面，本申请实施例提供了一种连接器的测试方法，应用于plc，所述方法包括：
34、接收测试控制设备发送的拔插指令，所述拔插指令包括目标连接器的标识；
35、根据所述拔插指令，在所述目标连接器上拔出测试卡、并在所述目标连接器上插入所述测试卡；
36、向所述测试控制设备发送拔插完成指令，所述拔插完成指令用于指示在所述目标连接器上完成拔插所述测试卡。
37、上述方案中，plc可以根据拔插指令从目标连接器上拔出测试卡、并重新将测试卡插入目标连接器，实现了对目标连接器上的测试卡重拔插的目的。
38、第三方面，本申请实施例提供了一种连接器的测试装置，应用于测试控制设备，所述装置包括获取模块、确定模块和测试模块，其中，
39、所述获取模块用于，获取被测试板上多个连接器的测试结果，所述测试结果用于指示每个所述连接器本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种连接器的测试方法，其特征在于，应用于测试控制设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述请求PLC在所述目标连接器上拔插所述测试卡，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述请求PLC在所述目标连接器上拔插所述测试卡，包括：
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述目标连接器进行重新测试，得到所述目标连接器的更新后的测试结果，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述输入测试数据和所述输出测试数据，确定所述更新后的测试结果，包括：
6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述获取被测试板上多个连接器的测试结果之后，还包括：
7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述目标连接器进行重新测试，得到所述目标连接器的更新后的测试结果之后，还包括：
8.根据权利要求1-7任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
9.一种连接器的测试装置，其特征在于，应用于测试控制设备，所述
10.一种测试控制设备，其特征在于，包括处理器，以及与所述处理器通信连接的存储器；
...【技术特征摘要】
1.一种连接器的测试方法，其特征在于，应用于测试控制设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述请求plc在所述目标连接器上拔插所述测试卡，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述请求plc在所述目标连接器上拔插所述测试卡，包括：
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述目标连接器进行重新测试，得到所述目标连接器的更新后的测试结果，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述输入测试数据和所述输出测试数据，确定所述更新后的测试结果，包括：...
【专利技术属性】
技术研发人员：颉陆军，巫仕文，
申请(专利权)人：超聚变数字技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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