System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸_技高网

待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:40577772 阅读:6 留言:0更新日期:2024-03-06 17:19
公开了一种待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质,属于计算机领域。该方法包括:获取待测设计的目标测试,目标测试包括:单一模块的单功能测试、单一模块不同功能的交互测试、多模块间的交互测试和多模块间不同功能的交互测试中的至少一种;基于已构建的系统基础测试用例,获取与目标测试对应的目标测试用例;目标测试用例至少部分继承系统基础测试用例;利用目标测试用例对待测设计执行目标测试;系统基础测试用例包括基础验证环境,基础验证环境包括:基础环境控制变量库和针对待测设计中M个模块的M个模块验证环境;M个模块验证环境与待测设计中的M个模块一一对应;基础环境控制变量库提供用于控制M个模块的基础环境控制变量。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于互联网领域,具体涉及一种待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质


技术介绍

1、随着技术的发展,产品逐渐被设计得越来越复杂,在产品面世前,往往需要对产品功能进行测试验证。例如,一枚芯片通常包含多个不同功能的模块组合而成,在对芯片的测试过程中不仅需要拆解各个模块的基础功能进行分别验证,也需要测试各个模块之间的交互功能,保证芯片在各种场景下都可以正常工作。每个模块都包含很多的功能点,而模块之间交互的功能则更多,在测试芯片功能的过程中就需要测试各个模块之间交互的影响。为了能够提高芯片质量,在对芯片进行测试的过程中需要尽可能地覆盖更多的交互场景。

2、在相关技术中,通常需要针对产品的各测试场景生成对应的测试用例,容易造成测试周期较长的问题。


技术实现思路

1、本申请实施例提供一种待测设计的测试方法,能够解决相关技术中由于针对各场景生成对应的测试用例导致测试周期较长的问题。

2、第一方面,本申请实施例提供了一种待测设计的测试方法,包括:获取待测设计的目标测试,所述目标测试包括:单一模块的单功能测试、单一模块不同功能的交互测试、多模块间的交互测试和多模块间不同功能的交互测试中的至少一种;基于已构建的系统基础测试用例,获取与所述目标测试对应的目标测试用例;其中,所述目标测试用例至少部分继承所述系统基础测试用例;

3、利用所述目标测试用例对所述待测设计执行所述目标测试;其中,所述系统基础测试用例包括基础验证环境,所述基础验证环境包括:基础环境控制变量库和针对所述待测设计中的m个模块的m个模块验证环境;所述m个模块验证环境与所述待测设计中的m个模块一一对应;所述基础环境控制变量库提供用于控制所述待测设计中的m个模块的基础环境控制变量。

4、第二方面,本申请实施例提供了一种待测设计的测试装置,包括:获取模块,用于获取待测设计的目标测试,所述目标测试包括:单一模块的单功能测试、单一模块不同功能的交互测试、多模块间的交互测试和多模块间不同功能的交互测试中的至少一种;基于已构建的系统基础测试用例,获取与所述目标测试对应的目标测试用例;其中,所述目标测试用例至少部分继承所述系统基础测试用例;

5、处理模块,用于利用所述目标测试用例对所述待测设计执行所述目标测试;其中,所述系统基础测试用例包括基础验证环境,所述基础验证环境包括:基础环境控制变量库和针对所述待测设计中的m个模块的m个模块验证环境;所述m个模块验证环境与所述待测设计中的m模块一一对应;所述基础环境控制变量库提供用于控制所述m个模块的基础环境控制变量。

6、第三方面,本申请实施例提供了一种电子设备,包括处理器和存储器,所述存储器存储程序或指令,所述程序或指令被所述处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

7、第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述介质上存储程序或指令,所述程序或指令被执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

8、在本申请实施例中,获取待测设计的目标测试,所述目标测试包括:单一模块的单功能测试、单一模块不同功能的交互测试、多模块间的交互测试和多模块间不同功能的交互测试中的至少一种;基于已构建的系统基础测试用例,获取与所述目标测试对应的目标测试用例;其中,所述目标测试用例至少部分继承所述系统基础测试用例;利用所述目标测试用例对所述待测设计执行所述目标测试;其中,所述系统基础测试用例包括基础验证环境,所述基础验证环境包括:基础环境控制变量库和针对所述待测设计中的m个模块的m个模块验证环境;所述m个模块验证环境与所述待测设计中的m个模块一一对应;所述基础环境控制变量库提供用于控制所述待测设计中的m个模块的基础环境控制变量。如此,在每一次利用目标测试用例对待测设计(例如产品)进行目标测试的过程中,目标测试用例可以选择继承系统基础测试用例的部分内容,适当减少了针对各场景生成测试用例的时间,缩短了测试周期,一定程度上可以解决相关技术中由于针对待测设计各个场景生成对应的测试用例导致测试周期较长的问题。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种待测设计的测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基础环境控制变量包括与所述目标测试对应的第一控制变量,所述M个模块验证环境中存在与所述目标测试对应的目标验证环境,所述目标验证环境包括第二控制变量;所述M个模块中存在与所述目标测试对应的目标模块,所述目标模块中存在受第二控制变量控制的目标寄存器;

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述目标测试包括:单一模块的单功能测试;

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述目标测试包括:单一模块不同功能的交互测试;

5.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述目标测试还包括:多模块间的交互测试;所述多模块包括第一模块和第二模块;

6.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述目标测试包括:多模块间不同功能的交互测试;所述多模块包括第一模块和第二模块;

7.一种待测设计的测试装置,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,所述基础环境控制变量包括与所述目标测试对应的第一控制变量,所述M个模块验证环境中存在与所述目标测试对应的目标验证环境,所述目标验证环境包括第二控制变量;所述M个模块中存在与所述目标测试对应的目标模块,所述目标模块中存在受第二控制变量控制的目标寄存器;

9.一种电子设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器存储程序,当所述程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的方法。

10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质存储程序,当所述程序被执行时实现如权利要求1-6任一项所述的方法。

...

【技术特征摘要】

1.一种待测设计的测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基础环境控制变量包括与所述目标测试对应的第一控制变量,所述m个模块验证环境中存在与所述目标测试对应的目标验证环境,所述目标验证环境包括第二控制变量;所述m个模块中存在与所述目标测试对应的目标模块,所述目标模块中存在受第二控制变量控制的目标寄存器;

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述目标测试包括:单一模块的单功能测试;

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述目标测试包括:单一模块不同功能的交互测试;

5.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述目标测试还包括:多模块间的交互测试;所述多模块包括第一模块和第二模块;

6.根据权利要求1或2所述的方法...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑德品周春怡夏仁涛
申请(专利权)人:苏州联芸科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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