待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

公开了一种待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质，属于计算机领域。该方法包括：获取待测设计的目标测试，目标测试包括：单一模块的单功能测试、单一模块不同功能的交互测试、多模块间的交互测试和多模块间不同功能的交互测试中的至少一种；基于已构建的系统基础测试用例，获取与目标测试对应的目标测试用例；目标测试用例至少部分继承系统基础测试用例；利用目标测试用例对待测设计执行目标测试；系统基础测试用例包括基础验证环境，基础验证环境包括：基础环境控制变量库和针对待测设计中M个模块的M个模块验证环境；M个模块验证环境与待测设计中的M个模块一一对应；基础环境控制变量库提供用于控制M个模块的基础环境控制变量。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于互联网领域，具体涉及一种待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质。

技术介绍

1、随着技术的发展，产品逐渐被设计得越来越复杂，在产品面世前，往往需要对产品功能进行测试验证。例如，一枚芯片通常包含多个不同功能的模块组合而成，在对芯片的测试过程中不仅需要拆解各个模块的基础功能进行分别验证，也需要测试各个模块之间的交互功能，保证芯片在各种场景下都可以正常工作。每个模块都包含很多的功能点，而模块之间交互的功能则更多，在测试芯片功能的过程中就需要测试各个模块之间交互的影响。为了能够提高芯片质量，在对芯片进行测试的过程中需要尽可能地覆盖更多的交互场景。

2、在相关技术中，通常需要针对产品的各测试场景生成对应的测试用例，容易造成测试周期较长的问题。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种待测设计的测试方法，能够解决相关技术中由于针对各场景生成对应的测试用例导致测试周期较长的问题。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种待测设计的测试方法，包括：获取待测设计的目标测试，所述目标测试包括：单本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种待测设计的测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基础环境控制变量包括与所述目标测试对应的第一控制变量，所述M个模块验证环境中存在与所述目标测试对应的目标验证环境，所述目标验证环境包括第二控制变量；所述M个模块中存在与所述目标测试对应的目标模块，所述目标模块中存在受第二控制变量控制的目标寄存器；

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述目标测试包括：单一模块的单功能测试；

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述目标测试包括：单一模块不同功能的交互测试；

5.根据权利要求1或2...

【技术特征摘要】

1.一种待测设计的测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基础环境控制变量包括与所述目标测试对应的第一控制变量，所述m个模块验证环境中存在与所述目标测试对应的目标验证环境，所述目标验证环境包括第二控制变量；所述m个模块中存在与所述目标测试对应的目标模块，所述目标模块中存在受第二控制变量控制的目标寄存器；

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述目标测试包括：单一模块的单功能测试；

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述目标测试包括：单一模块不同功能的交互测试；

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述目标测试还包括：多模块间的交互测试；所述多模块包括第一模块和第二模块；

6.根据权利要求1或2所述的方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑德品，周春怡，夏仁涛，
申请(专利权)人：苏州联芸科技有限公司，
类型：发明
国别省市：