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公开了一种待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质，属于计算机领域。该方法包括：获取待测设计的目标测试，目标测试包括：单一模块的单功能测试、单一模块不同功能的交互测试、多模块间的交互测试和多模块间不同功能的交互测试中的至少一种；基于已构...
该专利属于苏州联芸科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州联芸科技有限公司授权不得商用。

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