System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种改进的带纠错码校验功能的SRAM控制器制造技术_技高网

一种改进的带纠错码校验功能的SRAM控制器制造技术

技术编号:40577403 阅读:3 留言:0更新日期:2024-03-06 17:19
本发明专利技术涉及一种改进的带纠错码校验功能的SRAM控制器。控制器包括:高级高性能总线,被配置为连接处理器、内存和高速外设之间的通信;带数据缓存器的控制器模块,被配置为执行高级高性能总线接口与SRAM接口的时序转换,以及执行带数据缓存器的SRAM读取和写入控制;纠错码校验模块,被配置为执行纠错码校验;SRAM模块,被配置为包含多个SRAM单元。本发明专利技术提供的一种改进的带纠错码校验功能的SRAM控制器,在控制器模块中增加了数据缓存器,相比现有的电路结构能大幅提升读写效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及存储器,尤其涉及一种改进的带纠错码校验功能的sram控制器。


技术介绍

1、静态随机存取存储器(static random-access memory,sram)是随机存取存储器的一种。这种存储器只要保持通电,里面储存的数据就可以恒常保持。sram主要应用于高性能的计算设备和需要快速数据访问的场景中,如处理器缓存、高速缓存、图形处理器(gpu)等。

2、图1为现有的sram控制器的总体框架示意图。如图1所示,现有的带纠错码校验功能的sram控制器包括高级高性能总线(advanced high-performance bus,ahb)、不带数据缓存器的控制器模块(controller without data buffer模块)、纠错码(errorcorrection code,ecc)校验模块及sram模块。现有的sram控制器在sram先读取后写入的操作逻辑中产生过多等待时间,造成读写效率低下。


技术实现思路

1、针对现有技术中的部分或全部问题,本专利技术提供一种改进的带纠错码校验功能的sram控制器,该控制器包括:

2、高级高性能总线,被配置为连接处理器、内存和高速外设之间的通信;

3、带数据缓存器的控制器模块,被配置为执行高级高性能总线接口与sram接口的时序转换,以及执行带数据缓存器的sram读取和写入控制;

4、纠错码校验模块,被配置为执行纠错码校验;

5、sram模块,被配置为包含多个sram单元

6、进一步地,所述高级高性能总线接收来自处理器发送的命令以及数据信息,同时把sram控制器工作时反馈的状态信息返回所述处理器。

7、进一步地,所述带数据缓存器的控制器模块与所述高级高性能总线、所述纠错码校验模块以及所述sram模块连接。

8、进一步地,所述数据缓存器优选为由d触发器组成的寄存器。

9、进一步地,所述sram控制器支持字节/半字/字读取和写入操作。

10、进一步地,所述sram控制器执行字节/半字的写入操作时,自动完成如下步骤:

11、读取所述字节/半字对应的32bits数据;

12、和所述字节/半字的写入数据进行拼接得到新的32bits数据;

13、将所述新的32bit数据执行写入操作。

14、进一步地,所述高级高性能总线时序到所述sram模块接口时序转换后没有产生读写操作时,执行操作包括:

15、所述数据缓存器中没有数据,不执行读取操作和写入操作;

16、所述数据缓存器中有数据,将所述数据缓存器中原有数据写入所述sram模块。

17、进一步地,对所述sram模块执行写入操作包括:

18、所述数据缓存器中没有数据,将外部数据写入所述sram模块;

19、所述数据缓存器中有数据,将所述数据缓存器中原有数据写入所述sram模块,将外部数据存储于所述数据缓存器中。

20、进一步地,对所述sram模块执行读取操作包括:

21、所述数据缓存器中没有数据,从所述sram模块中读取数据;

22、所述数据缓存器中有数据;读取地址一致,从所述数据缓存器中读取数据;或者,读取地址不一致,从所述sram模块中读取数据。

23、进一步地,对所述sram模块同时执行读取操作和写入操作包括:

24、所述数据缓存器中没有数据,将外部数据存储于所述数据缓存器中;读写地址一致,从所述数据缓存器中读取数据;或者,读写地址不一致,从所述sram模块中读取数据;

25、所述数据缓存器中有数据,将所述数据缓存器中原有数据写入所述sram模块,将外部数据存储于所述数据缓存器中,同时将readyout拉低一个时钟周期;在下一个时钟周期,读取地址和所述数据缓存器中数据对应地址一致,从所述数据缓存器中读取数据;或者,在下一个时钟周期,读取地址和所述数据缓存器中数据对应地址不一致,从所述sram模块中读取数据。

26、与现有技术相比,本专利技术的有益效果为:实现了一种改进的带纠错码校验功能的sram控制器结构,相比现有的电路结构能大幅提升读写效率。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种改进的带纠错码校验功能的SRAM控制器,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的SRAM控制器,其特征在于,所述高级高性能总线接收来自处理器发送的命令以及数据信息,同时把SRAM控制器工作时反馈的状态信息返回所述处理器。

3.根据权利要求1所述的SRAM控制器,其特征在于,所述带数据缓存器的控制器模块与所述高级高性能总线、所述纠错码校验模块以及所述SRAM模块连接。

4.根据权利要求1所述的SRAM控制器,其特征在于,所述数据缓存器优选为由D触发器组成的寄存器。

5.根据权利要求1所述的SRAM控制器,其特征在于,所述SRAM控制器支持字节/半字/字读取和写入操作。

6.根据权利要求5所述的SRAM控制器,其特征在于,所述SRAM控制器执行字节/半字的写入操作时,自动完成如下步骤:

7.根据权利要求1所述的SRAM控制器,其特征在于,所述高级高性能总线时序到所述SRAM模块接口时序转换后没有产生读写操作时,执行操作包括:

8.根据权利要求1所述的SRAM控制器,其特征在于,对所述SRAM模块执行写入操作包括:

9.根据权利要求1所述的SRAM控制器,其特征在于,对所述SRAM模块执行读取操作包括:

10.根据权利要求1所述的SRAM控制器,其特征在于,对所述SRAM模块同时执行读取操作和写入操作包括:

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【技术特征摘要】

1.一种改进的带纠错码校验功能的sram控制器,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的sram控制器,其特征在于,所述高级高性能总线接收来自处理器发送的命令以及数据信息,同时把sram控制器工作时反馈的状态信息返回所述处理器。

3.根据权利要求1所述的sram控制器,其特征在于,所述带数据缓存器的控制器模块与所述高级高性能总线、所述纠错码校验模块以及所述sram模块连接。

4.根据权利要求1所述的sram控制器,其特征在于,所述数据缓存器优选为由d触发器组成的寄存器。

5.根据权利要求1所述的sram控制器,其特征在于,所述sram控制器支持字节/半字/字读取...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨夏威王玮
申请(专利权)人:华大半导体成都有限公司
类型:发明
国别省市:

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