用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构制造技术

技术编号:40569422 阅读:10 留言:0更新日期:2024-03-05 20:55
本技术公开一种用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构,包括T型大理石底座、T型大理石支撑块、T型大理石固定块,所述T型大理石支撑块固定在T型大理石底座上方,所述T型大理石固定块位于所述T型大理石支撑块的顶部,所述T型大理石固定块与T型大理石支撑块配合,用于将筒状结构高精度准直仪水平夹紧固定。本技术的T型大理石平台支撑锁紧结构,整体结构呈T形状,采用大理石为基础,用大理石材料稳定,热膨胀系数低,非常适用于高精度、高稳定性的测量设备,来保证高精度的测量设备整机的稳定,以保证测量设备的测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光学测角设备,特别是涉及一种用于精密光学测角设备的t型大理石平台支撑锁紧结构。


技术介绍

1、角度测量是计量科学中的重要内容,在精密加工、航空航天、通讯等许多领域都需要进行精确的角度测量,角度测量具有极其重要的意义和作用。光学测角法通过非接触式测量,具有高准确度和高灵敏度的特点而倍受人们的重视,尤其是随着激光光源的发展降低了测量工作的条件,从而使光学测角的方法应用越来越广泛。

2、目前对光学元件的夹角进行角度测量的仪器主要有自准直仪、干涉仪、旋转台、三坐标测量仪、激光跟踪仪等,其中激光跟踪仪、旋转台等一般可用于大角度测量,但其成本较高难以大量推广,而三坐标测量仪、激光跟踪仪为接触式测量装置,有较易污染、破坏待测元件的表面的缺点,干涉仪和自准直仪可以精密测量各种零部件相对位置角度偏差,进行大平板的平面度测量等。

3、现有自准直仪或准直仪在测量应用时,通常是将其固定锁紧在一个平台上进行,如201510303942.1公开了基于自准直仪的姿态测试装置及方法。然而现有平台一般稳定性差,如采用工程塑料制作形成,材料性质不稳定,影响测量高精度,不能高精度的测量设备整机的稳定,以保证测量设备的测量精度。


技术实现思路

1、本技术的目的是针对现有技术中的问题,而提供一种用于精密光学测角设备的高稳定性的t型大理石平台支撑锁紧结构。

2、本技术是这样实现的,一种用于精密光学测角设备的t型大理石平台支撑锁紧结构,包括t型大理石底座、t型大理石支撑块、t型大理石固定块,所述t型大理石支撑块固定在t型大理石底座上方,所述t型大理石固定块位于所述t型大理石支撑块的顶部,所述t型大理石固定块与t型大理石支撑块配合,用于将筒状结构高精度准直仪水平夹紧固定。

3、其中,所述t型大理石底座的底部有调平用的高度调节地脚,采用三点支撑结构设计。

4、其中,所述t型大理石固定块的下表面具有半圆形槽,与筒状结构高精度准直仪的外周面配合,以实现锁紧筒状结构高精度准直仪。

5、其中,所述t型大理石支撑块的上端面具有安装限位槽。

6、其中,所述安装限位槽为v形槽。

7、其中,所述安装限位槽采用90°的v型槽结构,所述90°的v型槽结构的底部形成u形槽。

8、其中,所述t型大理石固定块与t型大理石支撑块通过固定块连接螺栓将高精度准直仪进行夹紧固定。

9、其中,所述t型大理石固定块与t型大理石支撑块上预设有相应的螺栓孔,各自为四个,呈矩形状对应布置,所述t型大理石固定块上的螺栓孔为通孔,所述t型大理石支撑块上的螺栓孔为盲孔。

10、其中,所述t型大理石底座的厚度在60mm,所述t型大理石固定块采用高强度的铝合金材质制作形成。

11、其中,所述t型大理石底座的表面预留有孔,孔内部镶嵌螺纹柱,用来与外部设备相固定,所述t型大理石底座的周侧面通过螺栓连接布置外围铝合金材质的固定块。

12、本技术的t型大理石平台支撑锁紧结构,整体结构呈t形状,采用大理石为基础,用大理石材料稳定,热膨胀系数低,非常适用于高精度、高稳定性的测量设备,来保证高精度的测量设备整机的稳定,以保证测量设备的测量精度。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,包括T型大理石底座、T型大理石支撑块、T型大理石固定块,所述T型大理石支撑块固定在T型大理石底座上方,所述T型大理石固定块位于所述T型大理石支撑块的顶部,所述T型大理石固定块与T型大理石支撑块配合,用于将筒状结构高精度准直仪水平夹紧固定。

2.根据权利要求1所述用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述T型大理石底座的底部有调平用的高度调节地脚,采用三点支撑结构设计。

3.根据权利要求1所述用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述T型大理石固定块的下表面具有半圆形槽,与筒状结构高精度准直仪的外周面配合,以实现锁紧筒状结构高精度准直仪。

4.根据权利要求1所述用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述T型大理石支撑块的上端面具有安装限位槽。

5.根据权利要求4所述用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述安装限位槽为V形槽。

6.根据权利要求5所述用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述安装限位槽采用90°的V型槽结构,所述90°的V型槽结构的底部形成U形槽。

7.根据权利要求1所述用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述T型大理石固定块与T型大理石支撑块通过固定块连接螺栓将高精度准直仪进行夹紧固定。

8.根据权利要求1所述用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述T型大理石固定块与T型大理石支撑块上预设有相应的螺栓孔,各自为四个,呈矩形状对应布置,所述T型大理石固定块上的螺栓孔为通孔,所述T型大理石支撑块上的螺栓孔为盲孔。

9.根据权利要求1所述用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述T型大理石底座的厚度在60mm,所述T型大理石固定块采用高强度的铝合金材质制作形成。

10.根据权利要求1所述用于精密光学测角设备的T型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述T型大理石底座的表面预留有孔,孔内部镶嵌螺纹柱,用来与外部设备相固定,所述T型大理石底座的周侧面通过螺栓连接布置外围铝合金材质的固定块。

...

【技术特征摘要】

1.用于精密光学测角设备的t型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,包括t型大理石底座、t型大理石支撑块、t型大理石固定块,所述t型大理石支撑块固定在t型大理石底座上方,所述t型大理石固定块位于所述t型大理石支撑块的顶部,所述t型大理石固定块与t型大理石支撑块配合,用于将筒状结构高精度准直仪水平夹紧固定。

2.根据权利要求1所述用于精密光学测角设备的t型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述t型大理石底座的底部有调平用的高度调节地脚,采用三点支撑结构设计。

3.根据权利要求1所述用于精密光学测角设备的t型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述t型大理石固定块的下表面具有半圆形槽,与筒状结构高精度准直仪的外周面配合,以实现锁紧筒状结构高精度准直仪。

4.根据权利要求1所述用于精密光学测角设备的t型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述t型大理石支撑块的上端面具有安装限位槽。

5.根据权利要求4所述用于精密光学测角设备的t型大理石平台支撑锁紧结构,其特征在于,所述安装限位槽为v形槽。

6.根据权利要求5所述用于精密光学测角...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐鹏何流杜凤
申请(专利权)人:天津市新奥光电技术有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1