本申请公开了一种多时钟并行装置及芯片测试机，属于芯片测试技术领域，其中，多时钟并行装置包括：时钟源，用于多种时钟控制；主控板卡，与时钟源通信连接，用于将多种时钟引入并分频，形成多个同源时钟；业务板卡，与主控板卡通信连接，用于引入多个同源时钟。该装置通过利用主控板卡将时钟源的多种时钟引入并分频形成多个同源时钟，业务板卡引入其中多个同源时钟，以使时钟贯穿整个装置，这样装置的各个部分时钟同源，一致性较高，参数便于调整。并且该装置采用多时钟并行，相对于单时钟的装置，极大提高芯片测试机的测试效率。
【技术实现步骤摘要】
本申请属于芯片自动化测试，具体涉及一种多时钟并行装置及芯片测试机。
技术介绍
1、芯片测试，指的是利用自动测试设备(automatic test equipment，ate)对被测器件(device under test，dut)的各项参数指标进行检测，剔除残次品以控制芯片的出厂品质。
2、在芯片自动化测试中的时钟是非常重要的一个参数，关乎整个测试机的运行，时钟异常可能会导致多种问题。
3、现有技术中，芯片自动化测试设备都是采用单时钟。依靠单时钟分开在模块中使用，而没有贯穿整个模块，那么进行时钟同步就是非常困难，并且还需要进行逐一排查。
技术实现思路
1、本申请的目的是提供一种多时钟并行装置及芯片测试机以解决测试设备时钟同步困难的问题。
2、根据本申请实施例的第一方面，提供了一种多时钟并行装置，该装置可以包括：
3、时钟源，用于多种时钟控制；
4、主控板卡，与时钟源通信连接，用于将多种时钟引入并分频，形成多个同源时钟；
>5、业务板卡，与主本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种多时钟并行装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的多时钟并行装置，其特征在于，所述主控板卡包括第一主控制单元；所述业务板卡包括第一业务控制单元和第一业务可编程逻辑器件；
3.根据权利要求2所述的多时钟并行装置，其特征在于，所述第一业务控制单元为多个，所述第一业务可编程逻辑器件为多个，且所述第一业务控制单元与所述第一业务可编程逻辑器件一一对应，且通信连接；
4.根据权利要求1所述的多时钟并行装置，其特征在于，所述主控板卡包括晶振、第二主控制单元、匹配单元及第一主可编程逻辑器件；所述业务板卡包括第二业务可编程逻辑器件；
5.根...
【技术特征摘要】
1.一种多时钟并行装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的多时钟并行装置，其特征在于，所述主控板卡包括第一主控制单元；所述业务板卡包括第一业务控制单元和第一业务可编程逻辑器件；
3.根据权利要求2所述的多时钟并行装置，其特征在于，所述第一业务控制单元为多个，所述第一业务可编程逻辑器件为多个，且所述第一业务控制单元与所述第一业务可编程逻辑器件一一对应，且通信连接；
4.根据权利要求1所述的多时钟并行装置，其特征在于，所述主控板卡包括晶振、第二主控制单元、匹配单元及第一主可编程逻辑器件；所述业务板卡包括第二业务可编程逻辑器件；
5.根据权利要求4所述的多时钟并行装置，其特征在于，所述第二业务可编程逻辑器件为多个，多个所述第二业务可编程逻辑器件均与所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡定芸，赵川，杨强，刘婷，姚琦，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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