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本申请公开了一种多时钟并行装置及芯片测试机，属于芯片测试技术领域，其中，多时钟并行装置包括：时钟源，用于多种时钟控制；主控板卡，与时钟源通信连接，用于将多种时钟引入并分频，形成多个同源时钟；业务板卡，与主控板卡通信连接，用于引入多个同源时钟...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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