【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体制造领域,特别是涉及一种光罩吹扫装置。
技术介绍
1、在半导体生产中,光罩会频繁的使用,在使用过程中会有particle(颗粒物)掉落、甚至粘贴在光罩的玻璃基体或者保护膜层上,这些particle会导致光罩曝光区引入微尘粒子(particle)等异物导致缺陷(defect)。
2、因此,需要采用吹扫以去除这些particle,大多数都是直接用氮气枪吹除,由于吹扫角度、吹扫气压的影响,譬如吹扫气流接近垂直于光罩表面,就会使particle划伤保护膜,导致破损),进而导致晶圆良率降低(yield loss),并且光罩需要返厂维护,增加制程成本。
技术实现思路
1、鉴于以上所述现有技术的缺点,本技术的目的在于提供一种光罩吹扫装置,用于解决在采用吹扫手段清洁光罩表面颗粒物时,易造成光罩表面划伤的问题。
2、为实现上述目的及其他相关目的,本技术提供一种光罩吹扫装置,所述光罩吹扫装置用于清洁光罩表面,所述光罩吹扫装置包括:支架、吹扫枪及转动机构;其中,
3、所述吹扫枪通过所述支架设置在所述光罩上侧,其喷射的气流的流向与所述光罩表面呈一夹角;
4、所述转动机构固定设置在所述支架上,并与所述吹扫枪直接或间接连接,所述转动机构通过控制所述吹扫枪的转动控制所述夹角的大小。
5、可选地,所述夹角介于0°~45°。
6、可选地,所述支架高度可调节。
7、可选地,所述吹扫枪与所述光罩的距离大于等于1cm。
...【技术保护点】
1.一种光罩吹扫装置,用于清洁光罩表面,其特征在于,所述光罩吹扫装置包括:支架、吹扫枪及转动机构;其中,
2.根据权利要求1所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述支架高度可调节。
3.根据权利要求1所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述吹扫枪与所述光罩的距离大于等于1cm。
4.根据权利要求1-3任一项所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述转动机构与所述吹扫枪直接连接时,所述吹扫枪固定设置在所述转动机构的转动轴上,所述转动机构的转动轴直接带动所述吹扫枪转动。
5.根据权利要求1-3任一项所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述转动机构与所述吹扫枪间接连接时,所述支架包括纵向支架及横向滑臂,所述转动机构固定设置在所述纵向支架上,所述吹扫枪设置在所述横向滑臂上,所述转动机构的转动轴带动所述横向滑臂转动,并间接带动所述吹扫枪转动。
6.根据权利要求5所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述横向滑臂包括滑杆及套设在所述滑杆上的滑动座,其中,所述滑杆与所述转动机构连接,所述滑动座与所述吹扫枪连接;所述转动机构带动所述滑杆转动,并间接带动所述滑动
7.根据权利要求6所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述滑动座在外力驱动下可以沿所述滑杆进行滑动,并带动所述吹扫枪滑动。
8.根据权利要求1-3任一项所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述光罩吹扫装置还包括:平移底座,所述平移底座包括上底板及下底板,所述支架与所述下底板连接,所述上底板作为所述光罩的搁置平台,且所述上底板相对于所述下底板可平移。
9.根据权利要求1-3任一项所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述光罩吹扫装置还包括:平移底座,所述平移底座设置有滑轨,所述支架设置有滑块,所述滑块与所述滑轨相互嵌合。
10.根据权利要求1-3任一项所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述光罩吹扫装置还包括:流量控制阀;所述流量控制阀与所述吹扫枪连接。
11.根据权利要求1-3任一项所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述光罩吹扫装置包括多个所述吹扫枪,多个所述吹扫枪等间距依次设置在所述支架上。
...【技术特征摘要】
1.一种光罩吹扫装置,用于清洁光罩表面,其特征在于,所述光罩吹扫装置包括:支架、吹扫枪及转动机构;其中,
2.根据权利要求1所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述支架高度可调节。
3.根据权利要求1所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述吹扫枪与所述光罩的距离大于等于1cm。
4.根据权利要求1-3任一项所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述转动机构与所述吹扫枪直接连接时,所述吹扫枪固定设置在所述转动机构的转动轴上,所述转动机构的转动轴直接带动所述吹扫枪转动。
5.根据权利要求1-3任一项所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述转动机构与所述吹扫枪间接连接时,所述支架包括纵向支架及横向滑臂,所述转动机构固定设置在所述纵向支架上,所述吹扫枪设置在所述横向滑臂上,所述转动机构的转动轴带动所述横向滑臂转动,并间接带动所述吹扫枪转动。
6.根据权利要求5所述的光罩吹扫装置,其特征在于,所述横向滑臂包括滑杆及套设在所述滑杆上的滑动座,其中,所述滑杆与所述转动机构连接,所述滑动座与...
【专利技术属性】
技术研发人员:马如贵,
申请(专利权)人:芯恩青岛集成电路有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。