测试机万用表模拟系统技术方案

本申请涉及一种测试机万用表模拟系统，包括：基准源模块，用于连接测试机的至少一个业务板卡；ADC模块，用于连接测试机的至少一个业务板卡；控制器，连接基准源模块和ADC模块；通讯模块，连接控制器和上位机；其中，基准源模块输出不同档位的电压校准业务板卡上的业务模块；控制器接收ADC模块对业务板卡的输出数据进行采集得到的采样数据，并将采样数据通过通讯模块上传至上位机。通过基准源模块和ADC模块对测试机的业务板卡进行校准，无需频繁更改与业务板卡的连接方式，还可以支持对多个业务板卡同时并行校准，提高了校准效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及设备校准，特别是涉及一种测试机万用表模拟系统。

技术介绍

1、半导体自动化测试，指的是利用测试机对半导体器件的各项参数指标进行检测，剔除残次品以控制半导体器件的出厂品质。测试机包含多个业务板卡，测试机在对芯片进行测试时，会有数据(电压或电流)输出，为保证输出数据准确以防止输出数据过大或过小，需要对数据进行校准后在进行半导体器件测试，这样做可以保证输出数据的准确以防止半导体器件损坏等。

2、传统的测试机校准方式，是通过外接万用表对测试机的各业务板卡逐个进行外部校准，每测试一个业务板卡都需要改变万用表的连接方式，耗时耗人力，存在校准效率低的缺点。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述问题，提供一种可提高校准效率的测试机万用表模拟系统。

2、一种测试机万用表模拟系统，包括：

3、基准源模块，用于连接测试机的至少一个业务板卡；

4、adc(analogue-to-digital conversion，模数转换器)模块，用于连接所述测试机的至少一个业务板卡；

5、控制器，连接所述基准源模块和所述adc模块；

6、通讯模块，连接所述控制器和上位机；其中，所述基准源模块输出不同档位的电压校准业务板卡上的业务模块；所述控制器接收所述adc模块对所述业务板卡的输出数据进行采集得到的采样数据，并将所述采样数据通过所述通讯模块上传至所述上位机。

7、在其中一个实施例中，所述基准源模块包括电压基准源和电阻基准源。

8、在其中一个实施例中，所述电压基准源为具有多种输出电压的基准源，所述电阻基准源为具有多种输出电阻的基准源。

9、在其中一个实施例中，测试机万用表模拟系统还包括dac(digital-to-analogueconversion，数模转换器)模块，所述dac模块连接所述控制器，还用于连接所述测试机的至少一个业务板卡。

10、在其中一个实施例中，所述基准源模块、所述adc模块和所述dac模块均通过所述测试机的背板与所述业务板卡连接。

11、在其中一个实施例中，测试机万用表模拟系统还包括连接所述控制器的温度检测模块，所述温度检测模块监测测试机万用表模拟系统和/或业务板卡的温度，发送监测温度数据至所述控制器，所述控制器在所述监测温度数据大于设定温度阈值时，控制所述基准源模块、所述adc模块和所述dac模块停止工作。

12、在其中一个实施例中，所述控制器通过i2c(inter－integrated circuit，集成电路)总线与所述温度检测模块连接。

13、在其中一个实施例中，测试机万用表模拟系统还包括连接所述控制器的存储模块。

14、在其中一个实施例中，所述控制器通过spi(serial peripheral interface，串行外设接口)总线与所述adc模块、所述dac模块、所述存储模块和所述通讯模块连接。

15、在其中一个实施例中，所述控制器通过io(输入/输出)端口与所述基准源模块连接。

16、上述测试机万用表模拟系统，基准源模块和adc模块连接测试机的至少一个业务板卡，基准源模块输出不同档位的电压校准业务板卡上的业务模块；控制器接收adc模块对业务板卡的输出数据进行采集得到的采样数据，并将采样数据通过通讯模块上传至上位机。通过基准源模块和adc模块对测试机的业务板卡进行校准，无需频繁更改与业务板卡的连接方式，还可以支持对多个业务板卡同时并行校准，提高了校准效率。

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【技术保护点】

1.一种测试机万用表模拟系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，所述基准源模块包括电压基准源和电阻基准源。

3.根据权利要求2所述的测试机万用表模拟系统，所述电压基准源为具有多种输出电压的基准源，所述电阻基准源为具有多种输出电阻的基准源。

4.根据权利要求1所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，还包括DAC模块，所述DAC模块连接所述控制器，还用于连接所述测试机的至少一个业务板卡。

5.根据权利要求4所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，所述基准源模块、所述ADC模块和所述DAC模块均通过所述测试机的背板与所述业务板卡连接。

6.根据权利要求4所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，还包括连接所述控制器的温度检测模块，所述温度检测模块监测测试机万用表模拟系统和/或业务板卡的温度，发送监测温度数据至所述控制器，所述控制器在所述监测温度数据大于设定温度阈值时，控制所述基准源模块、所述ADC模块和所述DAC模块停止工作。

7.根据权利要求6所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，所述控制器通过I2C总线与所述温度检测模块连接。

8.根据权利要求4所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，还包括连接所述控制器的存储模块。

9.根据权利要求8所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，所述控制器通过SPI总线与所述ADC模块、所述DAC模块、所述存储模块和所述通讯模块连接。

10.根据权利要求1-9任意一项所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，所述控制器通过IO端口与所述基准源模块连接。

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【技术特征摘要】

1.一种测试机万用表模拟系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，所述基准源模块包括电压基准源和电阻基准源。

3.根据权利要求2所述的测试机万用表模拟系统，所述电压基准源为具有多种输出电压的基准源，所述电阻基准源为具有多种输出电阻的基准源。

4.根据权利要求1所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，还包括dac模块，所述dac模块连接所述控制器，还用于连接所述测试机的至少一个业务板卡。

5.根据权利要求4所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，所述基准源模块、所述adc模块和所述dac模块均通过所述测试机的背板与所述业务板卡连接。

6.根据权利要求4所述的测试机万用表模拟系统，其特征在于，还包括连接所述控制器的温度检...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘青贺，吴玉春，刘彩虹，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：