【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机，尤其涉及一种图像处理方法和装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、芯片的外观缺陷将会直接影响到产品的品质及ic制造后续工艺环节的顺利进行。因此，在芯片完成封装工序之后，需要对芯片执行检测环节。检测环节主要对封装完成的芯片进行外观检测，只有经过检测环节且检测无误才能保证芯片的品质。因此，芯片外观检查在ic制造业中具有重要的地位。举例来说，球栅阵列封装(ball grid array，bga)芯片是诸多芯片的一种，植球工艺的外观质量直接影响芯片的性能与可靠性。但这类芯片在生产过程中，锡球可能会出现变形、破损等缺陷。因此，需要在出厂前对bga芯片上的锡球进行缺陷检测以确保bga芯片无缺陷。
2、目前大多数工厂对芯片的外观检测还是靠人工检测，这种检测方式效率低，受主观因素影响大，无法满足如今对芯片的质量要求。随着各种图像处理算法层出不穷，相关技术中可使用图像处理方法对芯片外观进行检测，但是现有的缺陷检测方法存在耗时长且计算复杂等问题，并不适用于要实时检测的使用场景中。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供一种图像处理方法和装置、电子设备及存储介质，用于至少解决以上提到的技术问题。
2、根据本专利技术的一个方面，本专利技术提出一种图像处理方法，包括：确定被测对象在待测图像中的对象区域；利用所述对象区域内的各个像素点的灰度值对将所述对象区域进行划分，获取灰度值处于第一区间的第一区域以及与灰度值处于第二区间内的第二区域；在第一区域与第二区域的对应
3、示例性地，确定被测对象在待测图像中的对象区域包括：利用针对被测对象的模板图像以及感兴趣区域在所述模板图像中的位置，确定所述待测图像中的感兴趣区域；利用所述待测图像中的感兴趣区域的各个像素点的灰度值提取出所述待测图像中的对象区域。
4、示例性地，利用所述被测对象的分布特征，将所述对象区域划分为第一区域以及与第一区域不同的第二区域包括：利用轮廓拟合方式对所述对象区域进行拟合，确定所述待测对象的对象轮廓以及所述对象轮廓的中心点；
5、利用所述对象区域内的各个像素点的灰度值确定距离所述中心点的第一距离与第二距离；
6、生成距离所述中心点第一距离且与所述对象轮廓相同形状的第一区域轮廓以及距离所述中心点第二距离且与所述对象轮廓相同形状的第二区域轮廓，从而确定被第一区域轮廓限定的第一区域以及被第二区域轮廓限定的第二区域。
7、示例性地，所述第一检测点与第二检测点是与中心点处于同一延长线方向上且分别与第一区域轮廓和第二区域轮廓相交的点。
8、示例性地，所述第一检测点是位于第一区域内距所述中心点第一距离的检测点，第二检测点是位于第二区域内、在所述中心点与第一检测点的延长线上且距所述中心点第二距离的检测点。
9、示例性地，所述被测对象包括bga芯片上的锡球，在此情况下，所述对象轮廓是圆形，所述中心点是指所述锡球的圆心。
10、示例性地，第一区域与第二区域是指所述锡球的内部区域、中心区域或者外部区域中的任意两个不同的区域，其中，所述内部区域是据中心点的距离小于第一阈值的区域，外部区域是距中心点的距离大于第二阈值的区域，中心区域是距中心点的距离大于第一阈值小于第二阈值的区域，其中，第一阈值是小于所述中心点距所述对象轮廓的距离，第二阈值是大于所述中心点距所述对象轮廓的距离。
11、示例性地，利用第一检测点与第二检测点在图像特征方面的差异来确定所述被测对象是否存在缺陷，包括：
12、确定第一检测点与第二检测点的灰度值差值是否超过差值阈值；
13、若超过所述差值阈值，则确定所述被测对象存在缺陷。
14、示例性地，利用第一检测点与第二检测点在图像特征方面的差异来确定所述被测对象是否存在缺陷，包括：确定第一检测点与第二检测点的灰度值变化率是否超过变化率阈值；若超过所述变化率阈值，则确定所述被测对象存在缺陷。
15、根据本专利技术的一个方面，提供一种图像处理装置，包括：一个或多个处理器；存储器；以及一个或多个程序，其中所述一个或多个程序存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行前述方法的指令。
16、根据本专利技术的一个方面，提供一种存储一个或多个程序的计算机可读存储介质，所述一个或多个程序包括指令，所述指令当由计算设备执行时，使得所述计算设备执行前述方法。
17、本专利技术实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：
18、本专利技术采用图像处理方法来检测被测对象是否存在缺陷，减少了人工成本，更进一步地，能够利用被测对象的分布特征采用位于不同区域的检测点对其进行缺陷检测，提高了准确率。
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1.一种图像处理方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，确定被测对象在待测图像中的对象区域包括：
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述对象区域内的各个像素点的灰度值对将所述对象区域进行划分，获取灰度值处于第一区间的第一区域以及与灰度值处于第二区间内的第二区域包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一检测点与第二检测点是与所述中心点处于同一延长线方向上且分别与第一区域轮廓和第二区域轮廓相交的点。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一检测点是位于第一区域内距所述中心点第一距离的检测点，第二检测点是位于第二区域内、在所述中心点与第一检测点的延长线上且距所述中心点第二距离的检测点。
6.如权利要求1至5中的任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述被测对象包括BGA芯片上的锡球，在此情况下，所述对象轮廓是圆形，所述中心点是指所述锡球的圆心。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，第一区域与第二区域是指所述锡球的内部区域、中心区域或者外部区域中的任意两个不
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用第一检测点与第二检测点在图像特征方面的差异来确定所述被测对象是否存在缺陷，包括：
9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用第一检测点与第二检测点在图像特征方面的差异来确定所述被测对象是否存在缺陷，包括：
10.一种图像处理装置，包括：
11.一种存储一个或多个程序的计算机可读存储介质，所述一个或多个程序包括指令，所述指令当由计算设备执行时，使得所述计算设备执行根据权利要求1-9所述的方法中的任一方法。
...【技术特征摘要】
1.一种图像处理方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，确定被测对象在待测图像中的对象区域包括：
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述对象区域内的各个像素点的灰度值对将所述对象区域进行划分，获取灰度值处于第一区间的第一区域以及与灰度值处于第二区间内的第二区域包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一检测点与第二检测点是与所述中心点处于同一延长线方向上且分别与第一区域轮廓和第二区域轮廓相交的点。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一检测点是位于第一区域内距所述中心点第一距离的检测点，第二检测点是位于第二区域内、在所述中心点与第一检测点的延长线上且距所述中心点第二距离的检测点。
6.如权利要求1至5中的任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述被测对象包括bga芯片上的锡球，在此情况下，所述对象轮廓是圆形，所述中心点是指所述锡球的圆心。
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【专利技术属性】
技术研发人员：王硕，董其波，
申请(专利权)人：苏州镁伽科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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