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【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示,具体涉及一种发光芯片制备方法、及通过该发光芯片制备方法制作的发光芯片。
技术介绍
1、在发光芯片的制程中,通常会在发光芯片的非出光一侧制作反射膜层,例如dbr(distributed bragg reflector,分布式布拉格反射镜)膜层,以提高发光芯片的出光效率。
2、而随着发光芯片的尺寸逐渐减小,如发光芯片的尺寸为04×08mil时,由于电极与反射膜层的接触面积急剧减小,且反射膜层的膜质性能不佳,进而在对发光芯片进行推拉力测试时,可能造成反射膜层断裂的情况,从而影响发光芯片的出光效率,降低发光芯片的制造良品率。
技术实现思路
1、鉴于上述现有技术的不足,本申请的目的在于提供一种用于提高反射膜层性能并提高发光芯片的制造良品率的发光芯片制备方法。本申请还提供一种通过该发光芯片制备方法制造的发光芯片。
2、本申请提供一种发光芯片制备方法,包括:在衬底上依次制作第一半导体层、发光层和第二半导体层,并在第二半导体层背离衬底的表面依次制作透明导电层和介质薄膜层,第一半导体层与第二半导体层用于配合驱动发光层出射光线;在介质薄膜层表面沉积过渡子层,并基于预设电压和预设电流在过渡子层上依次交替层叠沉积第一反射子膜层和第二反射子膜层,其中,预设电压为1300~1500v,预设电流为1200~1500ma,过渡子层、交替的多个第一反射子膜层和第二反射子膜层共同构成反射膜层;在反射膜层背离衬底的一侧制作两个电极,两个电极分别与第一半导体层和透明导电层连通。
...【技术保护点】
1.一种发光芯片制备方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于预设电压和预设电流在所述过渡子层上依次交替层叠沉积第一反射子膜层和第二反射子膜层,包括:
3.根据权利要求1所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于预设电压和预设电流在所述过渡子层上依次交替层叠沉积第一反射子膜层和第二反射子膜层,包括:
4.根据权利要求3所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于所述预设电压、所述预设电流和预设氧气浓度在所述过渡子层上依次交替层叠沉积所述第一反射子膜层和所述第二反射子膜层,包括:
5.根据权利要求1所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于预设电压和预设电流在所述过渡子层上依次交替层叠沉积第一反射子膜层和第二反射子膜层,包括:
6.根据权利要求1-5任一项所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于预设电压和预设电流在所述过渡子层上依次交替层叠沉积第一反射子膜层和第二反射子膜层,包括:
7.根据权利要求6所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于预设电压和预设
8.根据权利要求7所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于预设电压和预设电流在所述过渡子层上依次交替层叠沉积第一反射子膜层和第二反射子膜层,包括:
9.根据权利要求6所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述在所述介质薄膜层表面沉积过渡子层,包括:
10.一种发光芯片,其特征在于,包括衬底和依次层叠于所述衬底表面的第一半导体层、发光层、第二半导体层、透明导电层、介质薄膜层和反射膜层,在所述反射膜层背离所述衬底的一侧设有两个电极,两个所述电极分别与所述第一半导体层和所述透明导电层连通,所述反射膜层包括过渡子层、以及交替层叠的第一反射子膜层和第二反射子膜层,所述过渡子层连接于所述介质薄膜层和所述第一反射子膜层之间,所述过渡子层的膜厚为400~800nm,所述第一反射子膜层的膜厚为60~150nm,所述第二反射子膜层的膜厚为40~120nm。
...【技术特征摘要】
1.一种发光芯片制备方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于预设电压和预设电流在所述过渡子层上依次交替层叠沉积第一反射子膜层和第二反射子膜层,包括:
3.根据权利要求1所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于预设电压和预设电流在所述过渡子层上依次交替层叠沉积第一反射子膜层和第二反射子膜层,包括:
4.根据权利要求3所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于所述预设电压、所述预设电流和预设氧气浓度在所述过渡子层上依次交替层叠沉积所述第一反射子膜层和所述第二反射子膜层,包括:
5.根据权利要求1所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于预设电压和预设电流在所述过渡子层上依次交替层叠沉积第一反射子膜层和第二反射子膜层,包括:
6.根据权利要求1-5任一项所述的发光芯片制备方法,其特征在于,所述基于预设电压和预设电流在所述过渡子层上依次交替层叠沉积第一反射子膜层和第二反射子膜层,包括:
7.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员:王怀超,杨然翔,
申请(专利权)人:重庆康佳光电技术研究院有限公司,
类型:发明
国别省市:
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