【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及近场微波测试领域，特别是涉及一种基于近场微波探头的磁谱测试装置及方法。
技术介绍
1、磁性薄膜是当前电子信息材料领域研究的热点，已经广泛应用于电子学的各个领域，例如信息存储、电磁兼容、磁传感器和微波通讯设备。不同的应用对磁性薄膜提出了不同的要求。对磁性薄膜而言，复磁导率谱是薄膜应用中决定其适用性的一个重要因素。
2、目前薄膜材料复磁导率常用的测量方法主要有：微波谐振腔法、检测线圈法和传输/反射法等。而对于高频磁特性的研究，由于受到测量机制的限制，探测薄膜磁导率时需要把样品放到微波装置内部或者样品直接接触微波测试板。比如目前使用的短路微带线装置，一端通过黄铜与地短路连接，另一端通过焊接技术连接到sma同轴接头的发射器上。采用这种方法测试时，需要把磁性薄膜推入到微波传输线夹具内部。
3、上述传统的磁谱的测试方法，待测样品的大小和几何形状受到测量设备的限制。
技术实现思路
1、基于此，本专利技术实施例提供一种基于近场微波探头的磁谱测试装置及方法，无需限制待测...
【技术保护点】
1.一种基于近场微波探头的磁谱测试装置，其特征在于，包括：近场微波探头、矢量网络分析仪和控制系统；
2.根据权利要求1所述的基于近场微波探头的磁谱测试装置，其特征在于，所述近场微波探头还包括：金丝；所述微波探针的信号端和接地端通过所述金丝短路连接。
3.根据权利要求2所述的基于近场微波探头的磁谱测试装置，其特征在于，所述近场微波探头的信号端和接地端之间的距离为150 μm；所述近场微波探头的信号端和接地端的直径均为3 μm；所述金丝的直径为20 μm。
4.根据权利要求1所述的基于近场微波探头的磁谱测试装置，其特征在于，所述近场微波...
【技术特征摘要】
1.一种基于近场微波探头的磁谱测试装置，其特征在于，包括：近场微波探头、矢量网络分析仪和控制系统；
2.根据权利要求1所述的基于近场微波探头的磁谱测试装置，其特征在于，所述近场微波探头还包括：金丝；所述微波探针的信号端和接地端通过所述金丝短路连接。
3.根据权利要求2所述的基于近场微波探头的磁谱测试装置，其特征在于，所述近场微波探头的信号端和接地端之间的距离为150 μm；所述近场微波探头的信号端和接地端的直径均为3 μm；所述金丝的直径为20 μm。
4.根据权利要求1所述的基于近场微波探头的磁谱测试装置，其特征在于，所述近场微波探头还包括：同轴转接器；
5.根据权利要求1所述的基于近场微波探头的磁谱测试装置，其特征在于，还包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：李喜玲，柴国志，秦世泽，王建波，薛德胜，
申请(专利权)人：兰州大学，
类型：发明
国别省市：
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