System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 抗氧母粒及其制备方法技术_技高网

抗氧母粒及其制备方法技术

技术编号:40559636 阅读:7 留言:0更新日期:2024-03-05 19:21
本发明专利技术公开了一种抗氧母粒及其制备方法,抗氧母粒包括高熔点抗氧剂材料的核以及包覆在核外的低熔点抗氧剂材料的壳,高熔点抗氧剂的熔点比低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃。本发明专利技术的抗氧母粒中不添加高分子树脂材料,通过低熔点抗氧剂材料的壳包覆高熔点抗氧剂材料的核,得到的本发明专利技术的抗氧母粒,抗氧剂含量为100wt%。与传统的抗氧母粒相比,本发明专利技术的抗氧母粒中无树脂载体,抗氧剂含量为100%,从而使得本发明专利技术的抗氧母粒在制备塑料成品时,抗氧母粒添加量大幅度降低,抗氧母粒的生产量也随之降低,有利于塑料成品的高效生产加工。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及塑料生产领域,尤其是涉及一种抗氧母粒及其制备方法


技术介绍

1、传统的高分子树脂材料(如聚乙烯pe、聚丙烯pp、聚酰胺pa等)的抗氧母粒,通常包括高分子树脂材料和抗氧剂粉体,将高分子树脂材料和抗氧剂粉体共混后,通过挤出机做成抗氧母粒,抗氧母粒再与高分子树脂材料共混后通过挤出机、注塑机等成型设备制成塑料成品。

2、为了保证高分子树脂材料和抗氧剂粉体的混合均匀,实现高分子树脂材料包覆在抗氧剂粉体外,传统的抗氧母粒中的有效成分抗氧剂的含量偏低,一般抗氧剂含量在10wt%~50wt%之间,这就使得在制备塑料成品时,抗氧母粒添加量较大,抗氧母粒的生产量也随之变大,不利于塑料成品的高效生产加工。


技术实现思路

1、基于此,有必要提供一种可以解决上述问题的抗氧母粒。

2、此外,还有必要提供一种上述抗氧母粒的制备方法。

3、一种抗氧母粒,包括核以及包覆在所述核外的壳,所述壳的材料为低熔点抗氧剂,所述核的材料为高熔点抗氧剂,所述高熔点抗氧剂的熔点比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃,所述低熔点抗氧剂的分解温度比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃,所述高熔点抗氧剂的分解温度比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃。

4、在一个实施例中,所述高熔点抗氧剂的熔点比所述低熔点抗氧剂的熔点高30℃~150℃。

5、在一个实施例中,所述低熔点抗氧剂的熔点为50℃~150℃,所述高熔点抗氧剂的熔点为120℃~400℃。

6、在一个实施例中,所述低熔点抗氧剂选自抗氧剂1010、抗氧剂1076、抗氧剂264、抗氧剂245、抗氧剂1035、抗氧剂565和抗氧剂2246中的至少一种;

7、所述高熔点抗氧剂选自抗氧剂168、抗氧剂626、抗氧剂3114、抗氧剂1330和抗氧剂1790中的至少一种。

8、在一个实施例中,所述核与所述壳的质量比为1~1:1~4。

9、一种上述的抗氧母粒的制备方法,包括如下步骤:

10、将低熔点抗氧剂和高熔点抗氧剂混合后得到混合原料,所述高熔点抗氧剂的熔点比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃,所述低熔点抗氧剂的分解温度比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃,所述高熔点抗氧剂的分解温度比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃;

11、将所述混合原料加热至所述低熔点抗氧剂熔化且所述高熔点抗氧剂不熔化,得到熔融混合物;

12、将所述熔融混合物挤出造粒,得到所需要的抗氧母粒,其中,所述抗氧母粒包括核以及包覆在所述核外的壳,所述核的材料为所述高熔点抗氧剂,所述壳的材料为所述低熔点抗氧剂。

13、在一个实施例中,将所述混合原料加热至所述低熔点抗氧剂熔化且所述高熔点抗氧剂不熔化的操作为:将所述混合原料加热至工作温度,所述工作温度高于所述低熔点抗氧剂的熔点,且所述工作温度低于所述高熔点抗氧剂的熔点,从而使得所述低熔点抗氧剂熔化且所述高熔点抗氧剂不熔化。

14、在一个实施例中,所述工作温度比所述低熔点抗氧剂的熔点高10℃~50℃,所述工作温度比所述高熔点抗氧剂的熔点低10℃~250℃,所述工作温度比所述低熔点抗氧剂的分解温度低10℃~250℃,所述工作温度比所述高熔点抗氧剂的分解温度低10℃~250℃。

15、在一个实施例中,将所述熔融混合物挤出造粒的操作为:将所述熔融混合物挤出到网孔状出料口,使得所述熔融混合物通过所述网孔状出料口切割后,得到长条状结构。

16、在一个实施例中,还包括在所述得到长条状结构的操作之后,进行如下操作:对所述长条状结构切粒,得到所述抗氧母粒。

17、本专利技术的抗氧母粒中不添加高分子树脂材料,通过低熔点抗氧剂材料的壳包覆高熔点抗氧剂材料的核,得到的本专利技术的抗氧母粒,抗氧剂含量为100wt%。

18、与传统的抗氧母粒相比,本专利技术的抗氧母粒中无树脂载体,抗氧剂含量为100%,从而使得本专利技术的抗氧母粒在制备塑料成品时,抗氧母粒添加量大幅度降低,抗氧母粒的生产量也随之降低,有利于塑料成品的高效生产加工。

19、通过该工艺制备的无树脂载体的抗氧母粒颗粒,不用常规的螺杆造粒,以及后续的烘干等操作,解决了螺杆造粒中碳化物的产生,同时不用烘干,也大大降低了单位能耗;无树脂载体,成型后为颗粒状,制备工艺简单,生产效率高,且方便添加,添加量低。

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【技术保护点】

1.一种抗氧母粒,其特征在于,包括核以及包覆在所述核外的壳,所述壳的材料为低熔点抗氧剂,所述核的材料为高熔点抗氧剂,所述高熔点抗氧剂的熔点比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃,所述低熔点抗氧剂的分解温度比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃,所述高熔点抗氧剂的分解温度比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃。

2.根据权利要求1所述的抗氧母粒,其特征在于,所述高熔点抗氧剂的熔点比所述低熔点抗氧剂的熔点高30℃~150℃。

3.根据权利要求2所述的抗氧母粒,其特征在于,所述低熔点抗氧剂的熔点为50℃~150℃,所述高熔点抗氧剂的熔点为120℃~400℃。

4.根据权利要求3所述的抗氧母粒,其特征在于,所述低熔点抗氧剂选自抗氧剂1010、抗氧剂1076、抗氧剂264、抗氧剂245、抗氧剂1035、抗氧剂565和抗氧剂2246中的至少一种;

5.根据权利要求1~4中任意一项所述的抗氧母粒,其特征在于,所述核与所述壳的质量比为1~1:1~4。

6.一种权利要求1~5中任意一项所述的抗氧母粒的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

7.根据权利要求6所述的抗氧母粒的制备方法,其特征在于,将所述混合原料加热至所述低熔点抗氧剂熔化且所述高熔点抗氧剂不熔化的操作为:将所述混合原料加热至工作温度,所述工作温度高于所述低熔点抗氧剂的熔点,且所述工作温度低于所述高熔点抗氧剂的熔点,从而使得所述低熔点抗氧剂熔化且所述高熔点抗氧剂不熔化。

8.根据权利要求7所述的抗氧母粒的制备方法,其特征在于,所述工作温度比所述低熔点抗氧剂的熔点高10℃~50℃,所述工作温度比所述高熔点抗氧剂的熔点低10℃~250℃,所述工作温度比所述低熔点抗氧剂的分解温度低10℃~250℃,所述工作温度比所述高熔点抗氧剂的分解温度低10℃~250℃。

9.根据权利要求6~8中任意一项所述的抗氧母粒的制备方法,其特征在于,将所述熔融混合物挤出造粒的操作为:将所述熔融混合物挤出到网孔状出料口,使得所述熔融混合物通过所述网孔状出料口切割后,得到长条状结构。

10.根据权利要求9所述的抗氧母粒的制备方法,其特征在于,还包括在所述得到长条状结构的操作之后,进行如下操作:对所述长条状结构切粒,得到所述抗氧母粒。

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【技术特征摘要】

1.一种抗氧母粒,其特征在于,包括核以及包覆在所述核外的壳,所述壳的材料为低熔点抗氧剂,所述核的材料为高熔点抗氧剂,所述高熔点抗氧剂的熔点比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃,所述低熔点抗氧剂的分解温度比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃,所述高熔点抗氧剂的分解温度比所述低熔点抗氧剂的熔点高至少30℃。

2.根据权利要求1所述的抗氧母粒,其特征在于,所述高熔点抗氧剂的熔点比所述低熔点抗氧剂的熔点高30℃~150℃。

3.根据权利要求2所述的抗氧母粒,其特征在于,所述低熔点抗氧剂的熔点为50℃~150℃,所述高熔点抗氧剂的熔点为120℃~400℃。

4.根据权利要求3所述的抗氧母粒,其特征在于,所述低熔点抗氧剂选自抗氧剂1010、抗氧剂1076、抗氧剂264、抗氧剂245、抗氧剂1035、抗氧剂565和抗氧剂2246中的至少一种;

5.根据权利要求1~4中任意一项所述的抗氧母粒,其特征在于,所述核与所述壳的质量比为1~1:1~4。

6.一种权利要求1~5中任意一项所述的抗氧母粒的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:<...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯猛陈琪方宋辉张宝辉李庆符达军杨凤凯
申请(专利权)人:深圳市骏鼎达新材料股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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