一种用于检测片状基板的AOI设备制造技术

本申请公开了一种用于检测片状基板的AOI设备，涉及视觉检测技术领域，包括基座，基座设置有视觉检测装置；基座设置有支撑台、固定台和用于将基板由支撑台移动至固定台的传动装置，视觉检测装置用于检测位于支撑台的基板；基座设置有控制装置和激光刻蚀装置，视觉检测装置和激光刻蚀装置均受控于控制装置；激光刻蚀装置用于熔断位于固定台的基板上的电气元件；基座设置有用于存放已检测的基板的下料装置和用于将位于固定台的基板移动至下料装置的下料转移装置。控制装置、视觉检测装置、激光刻蚀装置相互配合，可自动、直接地对基板上的对应的电气元件进行处理，减少了人工转运不良品基板的操作，有利于提高基板的加工效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及基板加工，尤其是涉及一种用于检测片状基板的aoi设备。

技术介绍

1、基板一般呈片状，且基板的正面或反两面印刷有电路或字码，基板位于印刷电路的位置常焊接有电阻或电容等电子元器件。

2、相关技术中公开了一种片状基板，基板呈矩形片状；基板的正面焊接有电阻，电阻呈矩阵排列设置有若干个；基板的背面印刷有电路，以用于向位于正面的电阻供电。使用时，可根据需要对不同数量的电阻供电，以将对应的电阻接入指定的电路中。基板生产的过程中，通常需要人工通过显微镜对基板的印刷电路、电阻的焊接质量、电阻的外观等内容进行检测，以保证基板的质量。

3、针对上述中的相关技术，对于检测过程中发现的存在缺陷的基板，操作人员需要先将对应的基板收集、整理，然后将存在缺陷的基板转移至指定的处理工位，以供对对应的基板再次进行放料、加工处理、收料等工序，操作比较繁琐，从而导致基板的加工效率较低，故有待改善。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种用于检测片状基板的aoi设备，以提高基板加工效率。>

2、本申请提本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于检测片状基板的AOI设备，包括基座(1)，所述基座(1)设置有视觉检测装置(12)；其特征在于：所述基座(1)设置有支撑台(17)、固定台(18)和用于将基板(6)由支撑台(17)移动至固定台(18)的传动装置(4)，所述视觉检测装置(12)用于检测位于支撑台(17)的基板(6)；所述基座(1)设置有控制装置和激光刻蚀装置(13)，所述视觉检测装置(12)和激光刻蚀装置(13)均受控于控制装置；所述激光刻蚀装置(13)用于熔断位于固定台(18)的基板(6)上的电气元件；所述基座(1)设置有用于存放已检测的基板(6)的下料装置(16)和用于将位于固定台(18)的基板(6)移动至...

【技术特征摘要】

1.一种用于检测片状基板的aoi设备，包括基座(1)，所述基座(1)设置有视觉检测装置(12)；其特征在于：所述基座(1)设置有支撑台(17)、固定台(18)和用于将基板(6)由支撑台(17)移动至固定台(18)的传动装置(4)，所述视觉检测装置(12)用于检测位于支撑台(17)的基板(6)；所述基座(1)设置有控制装置和激光刻蚀装置(13)，所述视觉检测装置(12)和激光刻蚀装置(13)均受控于控制装置；所述激光刻蚀装置(13)用于熔断位于固定台(18)的基板(6)上的电气元件；所述基座(1)设置有用于存放已检测的基板(6)的下料装置(16)和用于将位于固定台(18)的基板(6)移动至下料装置(16)的下料转移装置(15)。

2.根据权利要求1所述的用于检测片状基板的aoi设备，其特征在于：所述基座(1)设置有检测台(19)，所述传动装置(4)用于将位于固定台(18)的基板(6)移动至检测台(19)；所述下料转移装置(15)用于将位于检测台(19)的基板(6)转移至下料装置(16)；所述基座(1)设置有用于对位于检测台(19)的基板(6)进行视觉检测的复检装置(14)、用于存放不良品基板(6)的存料架(7)和用于将不良品基板(6)移动至存料架(7)的拉料组件(5)；所述复检装置(14)和拉料组件(5)均受控于控制装置。

3.根据权利要求2所述的用于检测片状基板的aoi设备，其特征在于：所述拉料组件(5)包括与基座(1)滑移连接的滑移座(51)、用于承接由下料转移装置(15)移动的基板(6)的承接板(52)、与存料架(7)远离下料转移装置(15)的一侧相连的刮料板(53)、用于驱动滑移座(51)滑动的滑移件(54)，所述滑移件(54)受控于控制装置；所述承接板(52)与滑移座(51)相连，所述刮料板(53)用于与基板(6)背离下料转移装置(15)的一侧的侧壁抵接。

4.根据权利要求2所述的用于检测片状基板的aoi设备，其特征在于：所述支撑台(17)、固定台(18)、检测台(19)沿基座(1)的长度方向依次间隔设置；所述传动装置(4)包括沿基座(1)的长度方向与基座(1)滑移连接的传动座(42)、沿上下方向与传动座(42)滑移连接的升降座(43)、用于驱动升降座(43)滑动的升降件(44)、与升降座(43)相连的传动吸附件(45)、用于驱动传动座(42)滑动的传动组件(46)；所述传动吸附件(45)沿基座(1)的长度方向依次间隔设置有两个模块，其中一个模块的所述传动吸附件(45)用于吸附位于支撑台(17)的基板(6)，另一模块的所述传动吸附件(45)用于吸附位于固定台(18)的基板(6)。

5.根据权利要求1所述的用于检测片状基板的aoi设备，其特征在于：基板(6)沿自身长度方向的其中一侧的侧壁为第一抵接部(61)，基板(6)沿自身宽度方向的其中一侧的侧壁为第二抵接部(62)；所述支撑台(17)设置有用于与基板(6)的第一抵接部(61)抵接的第一定位凸起(171)和用于与基板(6)的第二抵接部(62)抵接的第二定位凸起(172)；所述支撑台(17)设置有用于与基板(6)背离第一定位凸起(171)的一侧的侧...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭文平，王彧，
申请(专利权)人：苏州创信维自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：