System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种用于探测器老化测试的系统及方法技术方案_技高网

一种用于探测器老化测试的系统及方法技术方案

技术编号:40553754 阅读:7 留言:0更新日期:2024-03-05 19:13
本申请公开了一种用于探测器老化测试的系统及方法,其中,用于探测器老化测试的系统包括可开闭且用于容置老化架的老化房、用于对探测器进行老化的电气柜以及用于对探测器进行测试的测试站,本申请实施例中,采用上述的一种用于探测器老化测试的系统及方法,老化托盘设置为能够插装多个探测器,同时于老化架上能够安装多个老化托盘,在老化时老化架置于老化房内且探测器与测试站、电气柜连接,通过电气柜能够对多个探测器进行同时通电老化,同时测试站能够在探测器老化后直接对其进行功能测试,不仅提高了老化以及测试的效率,节省人工成本,提升产能,而且实现了探测器的老化数据追溯,具有较高的工业价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及气体探测设备生产,尤其涉及一种用于探测器老化测试的系统及方法


技术介绍

1、气体传感器从生产出来到出厂做出厂检验之间上电的过程叫老化,为的是使催化剂表面的杂质反应掉,使零点电流降下来,由于传感器不用时也会有一些其它气体吸附在上面,通过老化可将其反应掉,使工作时更稳定。

2、现有老化技术大多将老化线束插接在老化箱线束对插头,然后将产品插入老化线束,然后人工设置老化箱老化时间和温度,最后通电进行老化,无法对产品的老化数据进行追溯,老化后产品是否合格无法进行判断,还需要将产品取回重新进行终检测试,效率较低,随着产能的不断增加,已经无法满足生产需求。


技术实现思路

1、针对现有技术的不足,本专利技术提供了一种老化效率高且数据可靠性强的用于探测器老化测试的系统及方法。

2、为实现以上目的,本专利技术通过以下技术方案予以实现。

3、本申请提供了一种用于探测器老化测试的系统,包括可开闭且用于容置老化架的老化房、用于对老化房内探测器进行老化的电气柜以及用于对老化房内探测器进行测试的测试站;

4、所述老化架包括老化安装框架以及沿竖直方向阵列且固定设置在老化安装框架上的多个老化支承架,所述老化支承架上可拆卸安装有用于插装探测器的老化托盘;

5、其中,所述老化架上关于老化支承架对应位置固定安装有能够与测试站、电气柜连接的第一连接单元,所述老化托盘上设有能够与插装探测器以及第一连接单元连接的第二连接单元。

6、进一步限定,上述的一种用于探测器老化测试的系统,其中,所述老化安装框架能够于第一方向上对老化托盘进行抵接限位,所述老化安装框架于第二方向的其中一侧端关于老化支承架对应位置固定设有老化定位板、于第二方向的远离老化定位板一端关于老化支承架对应位置固定设有限位组件;

7、其中,所述第一方向、第二方向具体为水平面上的两个垂直方向,于老化定位板对老化托盘其中一端抵接定位下,所述限位组件能够对老化托盘远离老化定位板一端进行抵接限位。

8、进一步限定,上述的一种用于探测器老化测试的系统,其中,所述老化安装框架底部固定安装有多个用于老化架移动的第一移动轮;

9、所述老化安装框架底部还固定安装有多个用于对老化架进行支承且能够于竖直方向上调整高度的固定组件。

10、进一步限定,上述的一种用于探测器老化测试的系统,其中,还包括用于对所述老化托盘进行转移的周转车。

11、进一步限定,上述的一种用于探测器老化测试的系统,其中,所述周转车包括可移动的车架以及可升降设置在车架上的周转安装框架,所述周转安装框架上沿竖直方向阵列且固定设有多个能够与老化托盘可拆卸连接的周转支承架。

12、进一步限定,上述的一种用于探测器老化测试的系统,其中,所述周转安装框架能够于第一方向上对老化托盘进行抵接限位,所述周转安装框架于第二方向的其中一侧端关于周转支承架对应位置固定设有周转定位板、于第二方向的远离周转定位板一端关于周转支承架对应位置固定设有限位组件;

13、其中,所述第一方向、第二方向具体为水平面上的两个垂直方向,于周转定位板对老化托盘其中一端抵接定位下,所述限位组件能够对老化托盘远离周转定位板一端进行抵接限位。

14、进一步限定,上述的一种用于探测器老化测试的系统,其中,所述车架与周转安装框架之间固定设有交叉连杆升降架;

15、其中,所述车架上铰接设有伸缩组件,所述伸缩组件的伸缩端与交叉连杆升降架铰接,且能够带动所述交叉连杆升降架伸缩以实现周转安装框架的升降。

16、进一步限定,上述的一种用于探测器老化测试的系统,其中,所述限位组件包括固定安装在老化安装框架或周转安装框架上的基座,所述基座上铰接设有从动板以及转柄;

17、所述从动板中部铰接设有与转柄中部铰接的联杆,所述从动板远离基座一端固定设有用于抵触老化托盘的限位顶杆;

18、其中,所述转柄摆动时能够通过联杆带动从动板摆动,所述从动板摆动能够带动限位顶杆移动并抵触限位老化托盘,所述联杆、转柄于共线状态下自锁。

19、本申请还提供了一种用于探测器老化测试的方法,其特征在于,用于上述任一项所述的用于探测器老化测试的系统,包括:

20、基于探测器信息预设电气柜的温度及时间参数;

21、将老化架置于老化房内且安装老化托盘,所述老化托盘上插装探测器且与电气柜、测试站耦合;

22、执行老化架上探测器的通电老化;

23、于测试站上选择探测器型号,并输出测试指令;

24、对老化架上探测器进行编码,于编码完毕下执行老化温度测试;

25、于老化温度测试完毕后周期性执行老化架上探测器的功能测试;

26、将功能测试结果绑定探测器编码并上传至管理系统;

27、其中,所述功能测试包括产品co值、硬件故障报警、voc值、烟雾值、火情等级报警测试中的一种或多种。

28、进一步限定,上述的一种用于探测器老化测试的方法,其中,将老化架置于老化房内且安装老化托盘包括:

29、于周转车上安装老化托盘,并于老化托盘上插装探测器;

30、将周转车上已插装探测器的老化托盘转移至老化房内的老化架上;

31、其中,所述周转车在向老化架转移老化托盘的过程中调节升降以匹配老化架的安装高度。

32、本专利技术至少具备以下有益效果:

33、1、老化托盘上能够插装多个探测器,同时于老化架上能够安装多个老化托盘,在老化时老化架置于老化房内且探测器与测试站、电气柜连接,通过电气柜能够对多个探测器进行同时通电老化,同时测试站能够在探测器老化后直接对其进行功能测试,不仅提高了老化以及测试的效率,节省人工成本,提升产能,而且实现了探测器的老化数据追溯,具有较高的工业价值;

34、2、通过周转支承架实现对老化托盘的定位安装,同时于周转车上能够直接对老化托盘进行探测器的插装,在老化时能够保持老化架于老化房内的定位,并通过周转车实现插装探测器老化托盘的转移,由于周转安装框架可升降调整高度,在与老化架的老化托盘周转过程中能够匹配老化架上老化支承架的高度,从而提高老化托盘的周转效率,进而提高探测器的整体老化及测试效率;

35、3、在老化托盘于老化架、周转车上的装卸时,只需调整限位组件即可触发或解除对老化托盘的抵触限位,大大提高老化托盘的装卸及周转效率;

36、4、将探测器老化与测试结合在一起,提高了探测器的整体老化效率,并且在测试过程中对探测器进行编码,同时将测试结果与探测器编码进行绑定,实现了探测器测试参数的追溯,保证了探测器的合格率以及可靠性。

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【技术保护点】

1.一种用于探测器老化测试的系统,其特征在于,包括可开闭且用于容置老化架的老化房(110)、用于对老化房(110)内探测器进行老化的电气柜(140)以及用于对老化房(110)内探测器进行测试的测试站(130);

2.根据权利要求1所述的一种用于探测器老化测试的系统,其特征在于,所述老化安装框架(210)能够于第一方向上对老化托盘(400)进行抵接限位,所述老化安装框架(210)于第二方向的其中一侧端关于老化支承架(220)对应位置固定设有老化定位板(240)、于第二方向的远离老化定位板(240)一端关于老化支承架(220)对应位置固定设有限位组件(300);

3.根据权利要求1所述的一种用于探测器老化测试的系统及方法,其特征在于,所述老化安装框架(210)底部固定安装有多个用于老化架移动的第一移动轮(250);

4.根据权利要求1所述的一种用于探测器老化测试的系统及方法,其特征在于,还包括用于对所述老化托盘(400)进行转移的周转车。

5.根据权利要求4所述的一种用于探测器老化测试的系统及方法,其特征在于,所述周转车包括可移动的车架(510)以及可升降设置在车架(510)上的周转安装框架(560),所述周转安装框架(560)上沿竖直方向阵列且固定设有多个能够与老化托盘(400)可拆卸连接的周转支承架(570)。

6.根据权利要求5所述的一种用于探测器老化测试的系统及方法,其特征在于,所述周转安装框架(560)能够于第一方向上对老化托盘(400)进行抵接限位,所述周转安装框架(560)于第二方向的其中一侧端关于周转支承架(570)对应位置固定设有周转定位板(580)、于第二方向的远离周转定位板(580)一端关于周转支承架(570)对应位置固定设有限位组件(300);

7.根据权利要求5或6所述的一种用于探测器老化测试的系统及方法,其特征在于,所述车架(510)与周转安装框架(560)之间固定设有交叉连杆升降架(530);

8.根据权利要求2或6所述的一种用于探测器老化测试的系统及方法,其特征在于,所述限位组件(300)包括固定安装在老化安装框架(210)或周转安装框架(560)上的基座(310),所述基座(310)上铰接设有从动板(320)以及转柄(350);

9.一种用于探测器老化测试的方法,其特征在于,用于上述权利要求1至8任一项所述的用于探测器老化测试的系统,包括:

10.根据权利要求9所述的一种用于探测器老化测试的方法,其特征在于,将老化架置于老化房(110)内且安装老化托盘(400)包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种用于探测器老化测试的系统,其特征在于,包括可开闭且用于容置老化架的老化房(110)、用于对老化房(110)内探测器进行老化的电气柜(140)以及用于对老化房(110)内探测器进行测试的测试站(130);

2.根据权利要求1所述的一种用于探测器老化测试的系统,其特征在于,所述老化安装框架(210)能够于第一方向上对老化托盘(400)进行抵接限位,所述老化安装框架(210)于第二方向的其中一侧端关于老化支承架(220)对应位置固定设有老化定位板(240)、于第二方向的远离老化定位板(240)一端关于老化支承架(220)对应位置固定设有限位组件(300);

3.根据权利要求1所述的一种用于探测器老化测试的系统及方法,其特征在于,所述老化安装框架(210)底部固定安装有多个用于老化架移动的第一移动轮(250);

4.根据权利要求1所述的一种用于探测器老化测试的系统及方法,其特征在于,还包括用于对所述老化托盘(400)进行转移的周转车。

5.根据权利要求4所述的一种用于探测器老化测试的系统及方法,其特征在于,所述周转车包括可移动的车架(510)以及可升降设置在车架(510)上的周转安装框架(560),所述周转安装框架(560)上沿竖直方向阵列且固定设有多个能够...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹大刘占海郭洪波余本友
申请(专利权)人:哲弗智能系统上海有限公司
类型:发明
国别省市:

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