【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及残余应力评价，特别是涉及一种回转体残余应力均匀性评价方法及电子设备。
技术介绍
1、由于盘、盘轴、环类件均为回转体零件，具有轴对称特点，且雷达图能够显示多个数据的特征，故采用将盘、盘轴、环类件各特征测试面上测点的残余应力数据绘制成雷达图的形式。
2、雷达图可以直观、形象地表示回转体零件各特征测试面上的残余应力数值大小。但是在实际测试中，由于测试时可能会对工件造成损伤，因此经常会存在测试失败或者测点数据异常的情况，所以需要进行复测，即需要在测点附近(偏离测点所在周向位置)重新进行测试。
3、但是，雷达图无法表示各测点角度上的偏差。并且，现有的残余应力均匀性评价方法很少考虑到上述情况，现有残余应力均匀性评价方法在进行残余应力评价时，经常默认各测点是均匀分布的，也就是说所有测点之间的夹角都是相同的，因此，当遇到某个测点测试失败需要在其附近重新选择测点进行测试的情况时，其评价结果没有考虑由测点位置偏差引入的影响。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种回...
【技术保护点】
1.一种回转体残余应力均匀性评价方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述一种回转体残余应力均匀性评价方法，其特征在于，在执行步骤根据位置数据集和应力数据集，采用极坐标形式，绘制回转体残余应力分布多边形示意图之前，还包括：
3.根据权利要求1所述一种回转体残余应力均匀性评价方法，其特征在于，所述获取回转体各个应力测点的位置数据集，具体包括：
4.根据权利要求1所述一种回转体残余应力均匀性评价方法，其特征在于，所述获取回转体各个应力测点的应力数据集具体包括：
5.根据权利要求1所述一种回转体残余应力均匀性评价...
【技术特征摘要】
1.一种回转体残余应力均匀性评价方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述一种回转体残余应力均匀性评价方法，其特征在于，在执行步骤根据位置数据集和应力数据集，采用极坐标形式，绘制回转体残余应力分布多边形示意图之前，还包括：
3.根据权利要求1所述一种回转体残余应力均匀性评价方法，其特征在于，所述获取回转体各个应力测点的位置数据集，具体包括：
4.根据权利要求1所述一种回转体残余应力均匀性评价方法，其特征在于，所述获取回转体各个应力测点的应力数据集具体包括：
5.根据权利要求1所述一种回转体残余应力均匀性评价方法，其特征在于，在回转体残余应力分布多边形示意图中，将所述各个应力测点表示为
6.根据权利要求1所述一种回转体残余应力均匀性评价方...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨艳慧，袁润冲，杨豪，
申请(专利权)人：西北工业大学重庆科创中心，
类型：发明
国别省市：
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