【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及检测，特别是涉及一种显示面板增透减反膜的检测方法、检测装置和贴附设备。
技术介绍
1、随着显示技术的发展，高端液晶显示产品不断进行更迭，市场对摄像头光学特性的要求越来越高，其中摄像头的鬼像问题日益成为市场关注的焦点问题，其原因是入射光线进入摄像头模组后经过多次反射造成的。
2、针对该问题，目前通常通过在液晶显示屏相机孔位置贴附增透减反膜(ar膜)以减少反射光强度，然而在实际应用中，增透减反膜的贴附不良影响了摄像头功能，进而影响显示产品的使用体验。
技术实现思路
1、为了解决上述问题至少之一，本专利技术第一方面提供一种显示面板增透减反膜的检测方法，包括：
2、接收设置在显示面板出光侧的采集装置采集的采集图片，所述采集图片包括所述显示面板的摄像孔区域、以及覆盖所述摄像孔区域的增透减反膜，所述摄像孔区域包括摄像孔，所述摄像孔区域远离所述采集装置的一侧设置光源，所述光源的出射光透过所述摄像孔和增透减反膜；
3、对所述采集图片进行目标检测并提取仅包括所述增透减反膜的目标图片；
4、对所述采集图片进行目标缺陷识别并提取包括目标缺陷的目标缺陷图片；
5、将所述目标图片和目标缺陷图片进行融合并生成所述增透减反膜的检测结果。
6、例如，在本申请一些实施例提供的检测方法中，所述对所述采集图片进行目标检测并提取仅包括所述增透减反膜的目标图片进一步包括：
7、根据预设置的第一阈值对所述采集图片进行图像二值化操
8、对所述二值化目标图片进行反相操作形成反相目标图片；
9、按照连通域筛选对所述反相目标图片进行图像分割形成目标区域图片，并利用闭合算法对所述目标区域图片进行降噪操作形成仅包括所述增透减反膜的目标图片。
10、例如，在本申请一些实施例提供的检测方法中，所述第一阈值大于等于10并且小于等于20。
11、例如，在本申请一些实施例提供的检测方法中，所述对所述采集图片进行目标缺陷识别并提取包括目标缺陷的目标缺陷图片进一步包括：
12、对所述采集图片进行顶帽运算操作和底帽运算操作生成缺陷增强图片；
13、根据预设置的第二阈值对所述缺陷增强图片进行阈值分割操作生成所述目标缺陷图片。
14、例如，在本申请一些实施例提供的检测方法中，所述第二阈值大于等于60并且小于等于80。
15、例如，在本申请一些实施例提供的检测方法中，所述将所述目标图片和目标缺陷图片进行融合并生成所述增透减反膜的检测结果进一步包括：
16、将所述目标图片和目标缺陷图片进行元素相乘生成中间图片；
17、获取所述中间图片中的缺陷区域面积和非缺陷区域面积，将所述缺陷区域面积和非缺陷区域面积的比值作为所述增透减反膜的检测结果。
18、例如，在本申请一些实施例提供的检测方法中，所述检测方法还包括：
19、可视化呈现所述检测结果。
20、本专利技术第二方面提供一种显示面板增透减反膜的检测装置，包括检测台，设置在检测台上的真空吸附平台、采集装置，设置在检测台下方的光源，以及控制器，其中
21、所述真空吸附平台，用于放置待测显示面板；
22、所述采集装置，用于对所述待测显示面板进行图像采集，所述采集装置的采集范围覆盖所述待测显示面板；
23、所述光源，用于发射透过所述待测显示面板的摄像孔区域的摄像孔、以及透过覆盖所述摄像孔区域的增透减反膜的光；
24、所述控制器，用于根据如第一方面所述的检测方法对所述显示面板的增透减反膜进行检测。
25、本专利技术第三方面提供一种应用于显示面板制作的贴附设备，包括如第二方面所述的检测装置。
26、本专利技术第四方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如第一方面所述的检测方法。
27、本专利技术第五方面提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如第一方面所述的检测方法。
28、本专利技术的有益效果如下：
29、本专利技术针对目前现有的问题，制定一种显示面板增透减反膜的检测方法、检测装置和贴附设备，通过透射过增透减反膜光线的采集图像表征增透减反膜的贴附状态，一方面对采集图像进行目标检测并分离背景提取仅包括增透减反膜区域的目标图片，另一方面对采集图像进行目标缺陷识别并获得目标缺陷图片，再将目标图片和目标缺陷图片进行融合以获得增透减反膜区域的目标缺陷，从而形成增透减反膜的检测结构，本实施例通过对采集图像进行形态学处理实现对增透减反膜的不良检测，避免因去除显示面板上偏光片导致的外观不良问题，有效弥补了现有技术中存在的问题，能够降低检测难度和检测成本、加快检测时间、提高检测效率，具有实际的应用价值。
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1.一种显示面板增透减反膜的检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述对所述采集图片进行目标检测并提取仅包括所述增透减反膜的目标图片进一步包括：
3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述第一阈值大于等于10并且小于等于20。
4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述对所述采集图片进行目标缺陷识别并提取包括目标缺陷的目标缺陷图片进一步包括：
5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述第二阈值大于等于60并且小于等于80。
6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述将所述目标图片和目标缺陷图片进行融合并生成所述增透减反膜的检测结果进一步包括：
7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：
8.一种显示面板增透减反膜的检测装置，其特征在于，包括检测台，设置在检测台上的真空吸附平台、采集装置，设置在检测台下方的光源，以及控制器，其中
9.一种应用于显示面板制作的贴附设备，其特征在于，包括如权利要求8
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的检测方法。
11.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7中任一项所述的检测方法。
...【技术特征摘要】
1.一种显示面板增透减反膜的检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述对所述采集图片进行目标检测并提取仅包括所述增透减反膜的目标图片进一步包括：
3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述第一阈值大于等于10并且小于等于20。
4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述对所述采集图片进行目标缺陷识别并提取包括目标缺陷的目标缺陷图片进一步包括：
5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述第二阈值大于等于60并且小于等于80。
6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述将所述目标图片和目标缺陷图片进行融合并生成所述增透减反膜的检测结果进...
【专利技术属性】
技术研发人员：王彪，李成，李创，张跃，向康，续辉，彭洪勇，林斌，
申请(专利权)人：合肥鑫晟光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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