一种应用于无源探测系统的高精度干涉仪测向方法技术方案

技术编号:40528219 阅读:21 留言:0更新日期:2024-03-01 13:48
本发明专利技术属于无源测向技术领域,尤其是涉及一种应用于无源探测系统的高精度干涉仪测向方法。本发明专利技术对干涉仪天线阵列通道相位数据进行重新建模,基于新的模型提出了一种基于最长基线模糊数搜索的全基线最小二乘的测向方法,可以提升干涉仪测向解模糊成功概率和测向精度。本发明专利技术从最长基线开始采用搜索方法进行解模糊,取代从最短基线开始的逐级推算,消除了传统逐级解模糊误差累积放大导致的解模糊概率低的问题,并且利用全部数据的最小二乘角度估计方法提升了角度的精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于无源测向,尤其是涉及一种应用于无源探测系统的高精度干涉仪测向方法


技术介绍

1、信号的到达角是无源探测系统实现对信号分选的重要输入参数,也是交会定位算法的基本观测量,是态势的重要表征量,因此先进的无源探测系统应具备优异的测向性能。常见的测向体制有比幅法测向、比相法测向以及多普勒测向等。机载系统通常采用相位干涉仪测向,其具有测向精度高、测向速度快等优点。但是干涉仪测向的测向精度与最大不模糊视角范围之间存在矛盾。一方面,相位干涉仪的原理决定了干涉仪的基线长度越长,测向精度就越高,另一方面,通道间的相位差测量存在2π模糊,因此为了避免模糊,基线长度的设置必须保证相位差在[-π,π]以内。在模糊视角固定的情况下,这就限制了基线的长度。长短基线法被提出用于解决上述矛盾,其基本原理是结合使用长基线和短基线,其中短基线设置可以保证对应的相位差无模糊,从而可以粗略估计角度,利用该角度估计值对长基线对应的相位差解模糊,并利用去模糊的长基线相位差进行精确的角度估计。实践中,最长基线和最短基线之间还设置有多级基线,采取上述方法逐级解模糊可得到所有基线对应无模糊的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种应用于无源探测系统的高精度干涉仪测向方法,其特征在于,包括以下步骤:

【技术特征摘要】

1.一种应用于无源探测系统的高精度干涉...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘亮张馨匀黎洲臣郑世龙许哲文
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:

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