波导测试链路的绘制方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请提供一种波导测试链路的绘制方法、装置及电子设备，包括：响应于用户输入操作，获取链路绘制参数，所述链路绘制参数包括波导特征参数和链路特征参数；判断所述链路绘制参数是否符合预置条件；如果判断结果为是，则根据所述波导特征参数，确定周期性重复的第一波导单元，所述第一波导单元包括至少一个波导器件，所述波导器件与所述波导特征参数相对应；根据波导互连规则，确定行间互连的第二波导单元；根据所述链路特征参数、所述第一波导单元、所述第二波导单元和输入输出端口，绘制波导测试链路。本申请提供的波导测试链路的绘制方法具有提高绘制波导测试链路速度的效果。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及半导体，特别涉及一种波导测试链路的绘制方法、装置及电子设备。

技术介绍

1、波导是硅基光电子学中一种无源器件，可以作为光信号的传输通道，波导类型包括直波导、弯曲波导和锥型波导。由于单个波导器件的波导传输损耗较低，一旦波导传输损耗的准确度较低，则对于包括大量波导器件的芯片，受干扰影响后芯片传输损耗偏差较大。通常的，可以设计波导测试链路(其中包括大量重复波导器件)，通过测试波导测试链路中的传输损耗，进而单个波导器件的确定波导传输损耗，以此提高波导传输损耗的准确度，进而降低芯片传输损耗。

2、在相关技术中，如果波导传输损耗小于0.01db，测试波导测试链路中可能包括至少100个波导器件，可以通过手动方式绘制测试波导测试链路。假设测试波导测试链路为弯曲波导级联结构，首先，如图1中的(a)所示，确定波导器件的波导参数(包括内径、外径和波导宽度)；然后，如图1中的(b)所示，根据波导参数绘制四个旋转方向不同的波导器件；接下来，如图1中的(c)所示，将四个旋转方向不同的波导器件拼成一个周期重复弯曲波导单元；接下来，如图1中的(d)所示，根据预置行列本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种波导测试链路的绘制方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的波导测试链路的绘制方法，其特征在于，所述波导特征参数包括波导函数、波导长度和至少一个波导宽度；所述链路特征参数包括波导起始位置、波导数量、链路行数、链路列数和行间距。

3.根据权利要求2所述的波导测试链路的绘制方法，其特征在于，所述符合预置条件包括以下至少一项：所述波导长度大于0；所述波导宽度大于0；所述波导数量为所述至少一个波导器件的整数倍；所述链路行数为偶数；在所述波导函数为直线函数的情况下，所述行间距大于所述至少一个波导宽度的宽度平均值；在所述波导函数为曲线的情况下，所述行间距大于所...

【技术特征摘要】

1.一种波导测试链路的绘制方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的波导测试链路的绘制方法，其特征在于，所述波导特征参数包括波导函数、波导长度和至少一个波导宽度；所述链路特征参数包括波导起始位置、波导数量、链路行数、链路列数和行间距。

3.根据权利要求2所述的波导测试链路的绘制方法，其特征在于，所述符合预置条件包括以下至少一项：所述波导长度大于0；所述波导宽度大于0；所述波导数量为所述至少一个波导器件的整数倍；所述链路行数为偶数；在所述波导函数为直线函数的情况下，所述行间距大于所述至少一个波导宽度的宽度平均值；在所述波导函数为曲线的情况下，所述行间距大于所述波导函数的最大值与最小值的差值。

4.根据权利要求2所述的波导测试链路的绘制方法，其特征在于，所述根据所述波导特征参数，确定周期性重复的第一波导单元，包括：

5.根据权利要求2所述的波导测试链路的绘制方法，其特征在于，所述根据波导互连规则，确定行间互连的...

【专利技术属性】
技术研发人员：申鑫鹏，高颖，
申请(专利权)人：北方集成电路技术创新中心北京有限公司，
类型：发明
国别省市：