【技术实现步骤摘要】
本技术涉及检测，具体涉及一种基于fpga的自动送样装置。
技术介绍
1、传统人工送样精度低、送样效率低，针对特殊样品(一些化学样品或者具有辐射的样品等)时会对操作人员造成危害，并且如果引入测量样品单元，人工送样会引入人为因素对样品的影响，与人工送样相比，自动送样能缩短操作时间，提升系统整体的协调性；连续送样，保证送样精度；降低时间成本与人工投入等方面具有很大优势，符合自动化实验设备发展的趋势。
2、亟于此，提供一种基于fpga的自动送样装置。
技术实现思路
1、本技术所要解决的技术问题是样品可能存在辐射，且人工送样精度低、效率低，目的在于提供一种基于fpga的自动送样装置，实现了在保证精度下连续送样的目的。
2、本技术通过下述技术方案实现：
3、一种基于fpga的自动送样装置，包括fpga、横轴送样组件和纵轴送样组件，所述横轴送样组件和所述纵轴送样组件与所述fpga电连接，所述横轴送样组件和所述纵轴送样组件均水平设置，且所述横轴送样组件的中部与所述纵轴送样组件的中部交叉设置；
4、所述横轴送样组件的第一端设置有用于存储样品托盘的第一存储组件，所述横轴送样组件的第二端设置有用于存储样品托盘的第二存储组件；
5、所述纵轴送样组件的一端设置有样品信息检测仪器，所述样品托盘内设置有待检测样品。
6、具体地，所述横轴送样组件包括横轴轨道和横轴驱动组件，所述横轴轨道水平设置，所述第一存储组件和所述第二存储组件分别设置在所述
7、所述横轴驱动组件设置在所述横轴轨道的两端，且所述横轴驱动组件驱动位于所述第一存储组件内的所述样品托盘沿所述横轴轨道移动；
8、所述横轴驱动组件驱动位于所述横轴轨道上的样品托盘移动至所述第二存储组件内。
9、具体地，所述第一存储组件/所述第二存储组件包括四个呈矩形分布的限位柱，所述限位柱的下端与所述横轴轨道的垂直固定连接，多个所述样品托盘上下堆叠设置在所述第一存储组件和所述第二存储组件内；
10、所述横轴驱动组件包括横轴动力组件、推进组件和推入组件，所述推进组件设置在所述第一存储组件的下方，所述推入组件设置在所述第二存储组件的下方；
11、所述推进组件对所述第一存储组件最下层的所述样品托盘施加朝向所述第二存储组件的作用力，并驱动所述样品托盘移出所述第一存储组件；
12、所述推入组件对所述第二存储组件最下层的所述样品托盘施加向上的作用力，并驱动所述样品托盘向上移动。
13、具体地，所述推进组件包括：
14、驱动轴，两个所述驱动轴横向设置，且分别位于所述第一存储组件内最下层的所述样品托盘的下侧；
15、螺旋套，其套装在所述驱动轴上，设定所述螺旋套有第一端和第二端，所述螺旋套上设置有连通其第一端和第二端的切割区域，所述切割区域包括直线边和螺旋边，所述直线边的两端分别与连接所述螺旋套的第一端和所述螺旋套的第二端，所述螺旋边的两端分别与连接所述直线边的第一端和所述直线边的第二端；
16、套装在两个所述驱动轴上的两个所述螺旋套镜像设置；所述推入组件与所述推入组件镜像设置。
17、具体地，所述横轴动力组件包括横轴直流电机、直连传动齿轮、共轴传动齿轮和传动齿轮组；
18、两个所述直连传动齿轮分别设置在所述横轴轨道的两端，且所述直连传动齿轮通过所述共轴传动齿轮与所述传动齿轮组啮合，两个所述传动齿轮组分别驱动所述推入组件的驱动轴和所述推入组件的驱动轴；
19、所述横轴直流电机的转矩输出轴驱动所述直连传动齿轮转动，两个所述直连传动齿轮通过传动带同步转动。
20、优选地，所述推进组件的驱动轴上套装有指示齿轮，所述推进组件的一侧设置有用于检测所述指示齿轮转动情况的转动限位光电开关，所述转动限位光电开关、所述横轴直流电机均与所述fpga电连接。
21、具体地，所述纵轴送样组件包括纵轴轨道、限位底板和纵轴驱动组件，所述样品信息检测仪器设置在所述纵轴轨道的第一端，所述纵轴驱动组件设置在所述纵轴轨道的第二端，所述限位底板设置在所述纵轴轨道上，且所述纵轴驱动组件驱动所述限位底板沿所述纵轴轨道滑动，所述限位底板的上侧面与所述横轴轨道的上侧面处于同一水平面。
22、具体地，所述纵轴驱动组件包括纵轴直流电机和传动链条，所述传动链条沿所述纵轴轨道的轴向设置，且所述纵轴直流电机驱动所述传动链条带动所述限位底板移动。
23、具体地，所述限位底板上设置有与所述样品托盘适配的凹陷卡槽，所述纵轴轨道的两端分别设置有送样位置光电开关和出样位置光电开关，所述送样位置光电开关与所述样品信息检测仪器之间的距离小于所述出样位置光电开关与所述样品信息检测仪器之间的距离。
24、优选地，所述纵轴直流电机、所述送样位置光电开关和所述出样位置光电开关均与所述fpga电连接。
25、本技术与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：
26、本技术通过设置横轴送样组件实现样品在第一存储组件和第二存储组件之间移动，然后通过设置纵轴送样组件，使得样品在从第一存储组件移动至第二存储组件的过程中，送入样品信息检测仪器进行样品检测，通过fpga控制横轴送样组件和纵轴送样组件即可以实现自动送样。
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1.一种基于FPGA的自动送样装置，其特征在于，包括：FPGA、横轴送样组件和纵轴送样组件，所述横轴送样组件和所述纵轴送样组件与所述FPGA电连接，所述横轴送样组件和所述纵轴送样组件均水平设置，且所述横轴送样组件的中部与所述纵轴送样组件的中部交叉设置；
2.根据权利要求1所述的一种基于FPGA的自动送样装置，其特征在于，所述横轴送样组件包括横轴轨道和横轴驱动组件，所述横轴轨道水平设置，所述第一存储组件和所述第二存储组件分别设置在所述横轴轨道的两端；
3.根据权利要求2所述的一种基于FPGA的自动送样装置，其特征在于，所述第一存储组件/所述第二存储组件包括四个呈矩形分布的限位柱(7)，所述限位柱(7)的下端与所述横轴轨道的垂直固定连接，多个所述样品托盘(6)上下堆叠设置在所述第一存储组件和所述第二存储组件内；
4.根据权利要求3所述的一种基于FPGA的自动送样装置，其特征在于，所述推进组件包括：
5.根据权利要求4所述的一种基于FPGA的自动送样装置，其特征在于，所述横轴动力组件包括横轴直流电机(8)、直连传动齿轮(9)、共轴传动齿轮
6.根据权利要求5所述的一种基于FPGA的自动送样装置，其特征在于，所述推进组件的驱动轴(12)上套装有指示齿轮(13)，所述推进组件的一侧设置有用于检测所述指示齿轮(13)转动情况的转动限位光电开关(14)，所述转动限位光电开关(14)、所述横轴直流电机(8)均与所述FPGA电连接。
7.根据权利要求2所述的一种基于FPGA的自动送样装置，其特征在于，所述纵轴送样组件包括纵轴轨道、限位底板(5)和纵轴驱动组件，所述样品信息检测仪器设置在所述纵轴轨道的第一端，所述纵轴驱动组件设置在所述纵轴轨道的第二端，所述限位底板(5)设置在所述纵轴轨道上，且所述纵轴驱动组件驱动所述限位底板(5)沿所述纵轴轨道滑动，所述限位底板(5)的上侧面与所述横轴轨道的上侧面处于同一水平面。
8.根据权利要求7所述的一种基于FPGA的自动送样装置，其特征在于，所述纵轴驱动组件包括纵轴直流电机(1)和传动链条(2)，所述传动链条(2)沿所述纵轴轨道的轴向设置，且所述纵轴直流电机(1)驱动所述传动链条(2)带动所述限位底板(5)移动。
9.根据权利要求8所述的一种基于FPGA的自动送样装置，其特征在于，所述限位底板(5)上设置有与所述样品托盘(6)适配的凹陷卡槽，所述纵轴轨道的两端分别设置有送样位置光电开关(3)和出样位置光电开关(4)，所述送样位置光电开关(3)与所述样品信息检测仪器之间的距离小于所述出样位置光电开关(4)与所述样品信息检测仪器之间的距离。
10.根据权利要求9所述的一种基于FPGA的自动送样装置，其特征在于，所述纵轴直流电机(1)、所述送样位置光电开关(3)和所述出样位置光电开关均与所述FPGA电连接。
...【技术特征摘要】
1.一种基于fpga的自动送样装置，其特征在于，包括：fpga、横轴送样组件和纵轴送样组件，所述横轴送样组件和所述纵轴送样组件与所述fpga电连接，所述横轴送样组件和所述纵轴送样组件均水平设置，且所述横轴送样组件的中部与所述纵轴送样组件的中部交叉设置；
2.根据权利要求1所述的一种基于fpga的自动送样装置，其特征在于，所述横轴送样组件包括横轴轨道和横轴驱动组件，所述横轴轨道水平设置，所述第一存储组件和所述第二存储组件分别设置在所述横轴轨道的两端；
3.根据权利要求2所述的一种基于fpga的自动送样装置，其特征在于，所述第一存储组件/所述第二存储组件包括四个呈矩形分布的限位柱(7)，所述限位柱(7)的下端与所述横轴轨道的垂直固定连接，多个所述样品托盘(6)上下堆叠设置在所述第一存储组件和所述第二存储组件内；
4.根据权利要求3所述的一种基于fpga的自动送样装置，其特征在于，所述推进组件包括：
5.根据权利要求4所述的一种基于fpga的自动送样装置，其特征在于，所述横轴动力组件包括横轴直流电机(8)、直连传动齿轮(9)、共轴传动齿轮(10)和传动齿轮组(11)；
6.根据权利要求5所述的一种基于fpga的自动送样装置，其特征在于，所述推进组件的驱动轴(12)上套装有指示齿轮(13)，所述推进组件的一侧设置有用于检测所述指示齿轮(13)转动情况的转动限位光电开关(14)，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：谭良，胡彪，苏建洪，王敏，廖光辉，赵扬，梁知洋，陈峰立，梁江涛，
申请(专利权)人：成都理工大学，
类型：新型
国别省市：
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