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【技术实现步骤摘要】
本公开的实施例大体上涉及存储器子系统,且更具体地说,涉及存储器子系统的存储器装置中的低应力刷新擦除以提高性能和可靠性。
技术介绍
1、存储器子系统可以包含存储数据的一或多个存储器装置。存储器装置可为例如非易失性存储器装置和易失性存储器装置。一般来说,主机系统可利用存储器子系统以在存储器装置处存储数据且从存储器装置检索数据。
技术实现思路
1、在一个方面中,本申请提供一种系统,其包括:存储器装置;和处理装置,其以操作方式与所述存储器装置耦合以执行包括以下操作的操作:使得在所述存储器装置的块处执行第一擦除操作,其中所述第一擦除操作使得预编程电压和具有第一量值的第一擦除电压施加到所述块;使得在所述存储器装置的所述块处执行擦除检测操作;响应于使得执行所述擦除检测操作而确定所述块未能满足所述擦除检测操作;和响应于确定所述块未通过所述擦除检测操作而使得在所述存储器装置的所述块处执行第二擦除操作,其中所述第二擦除操作使得具有第二量值的第二擦除电压施加到所述块。
2、在另一方面中,本申请提供一种方法,其包括:使得在存储器装置的块处执行第一擦除操作,其中所述第一擦除操作使得预编程电压和具有第一量值的第一擦除电压施加到所述块;使得在所述存储器装置的所述块处执行擦除检测操作;响应于使得执行所述擦除检测操作而确定所述块未能满足所述擦除检测操作;和响应于确定所述块未通过所述擦除检测操作而使得在所述存储器装置的所述块处执行第二擦除操作,其中所述第二擦除操作使得具有第二量值的第二擦除电压施加到所述块
3、在另一方面中,本申请提供一种存储器装置,其包括:存储器装置;和处理装置,其以操作方式与所述存储器装置耦合以执行包括以下操作的操作:在第一擦除操作之后使得在所述存储器装置的块处执行擦除检测操作,其中所述第一擦除操作使得三个或更多个电压施加到所述块;响应于进行所述擦除检测操作而确定所述块未能满足所述擦除检测操作;和响应于确定所述块未通过所述擦除检测操作而使得在所述存储器装置的所述块处执行第二擦除操作,其中所述第二擦除操作使得两个电压施加到所述块。
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1.一种系统,其包括:
2.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一擦除电压的所述第一量值大于所述第二擦除电压的所述第二量值。
3.根据权利要求1所述的系统,其中在第一持续时间内施加所述第一擦除电压且在第二持续时间内施加所述第二擦除电压,且其中所述第一持续时间大于所述第二持续时间。
4.根据权利要求1所述的系统,其中所述处理装置将另外执行包括以下操作的操作:
5.根据权利要求1所述的系统,其中所述处理装置将另外执行包括以下操作的操作:
6.根据权利要求1所述的系统,其中所述处理装置将另外执行包括以下操作的操作:
7.根据权利要求6所述的系统,其中所述处理装置将在使得执行所述第二擦除操作与使得在所述存储器装置的所述块处执行所述编程操作之间定期执行所述擦除检测操作。
8.根据权利要求1所述的系统,其中所述处理装置将另外执行包括以下操作的操作:
9.一种方法,其包括:
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述第一擦除电压的所述第一量值大于所述第二擦除电压的所述第二量值。
12.根据权利要求9所述的方法,其另外包括:
13.根据权利要求9所述的方法,其另外包括:
14.根据权利要求9所述的方法,其另外包括:
15.根据权利要求14所述的方法,其中在使得执行所述第二擦除操作与使得在所述存储器装置的所述块处执行所述编程操作之间定期执行所述擦除检测操作。
16.根据权利要求9所述的方法,其另外包括:
17.一种存储器装置,其包括:
18.根据权利要求17所述的存储器装置,其中:
19.根据权利要求18所述的存储器装置,其中在第一持续时间内施加所述第一擦除电压且在第二持续时间内施加所述第二擦除电压,其中所述第一持续时间大于所述第二持续时间。
20.根据权利要求17所述的存储器装置,其中所述处理装置将另外执行包括以下操作的操作:
...【技术特征摘要】
1.一种系统,其包括:
2.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一擦除电压的所述第一量值大于所述第二擦除电压的所述第二量值。
3.根据权利要求1所述的系统,其中在第一持续时间内施加所述第一擦除电压且在第二持续时间内施加所述第二擦除电压,且其中所述第一持续时间大于所述第二持续时间。
4.根据权利要求1所述的系统,其中所述处理装置将另外执行包括以下操作的操作:
5.根据权利要求1所述的系统,其中所述处理装置将另外执行包括以下操作的操作:
6.根据权利要求1所述的系统,其中所述处理装置将另外执行包括以下操作的操作:
7.根据权利要求6所述的系统,其中所述处理装置将在使得执行所述第二擦除操作与使得在所述存储器装置的所述块处执行所述编程操作之间定期执行所述擦除检测操作。
8.根据权利要求1所述的系统,其中所述处理装置将另外执行包括以下操作的操作:
9.一种方法,其包括:
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述第一擦除电压的所述第一量值大于所述第二擦...
【专利技术属性】
技术研发人员:R·R·普拉卡什,P·舒克拉,卢景煌,郎慕蓉,周振明,
申请(专利权)人:美光科技公司,
类型:发明
国别省市:
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