【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示，尤其涉及一种显示面板异常分析方法及分析系统。
技术介绍
1、显示面板的制备过程中，包括多个制备工序，例如，阵列制程、模组封装制程等，任一工艺制程或者设计方面的不规范均可能导致显示面板出现不良问题。
2、显示面板出厂前需要不同的实验验证，在测试时驱动异常不良时常发生，现有技术中，通常是分析人员直接对不良显示面板进行实物分析，缺乏固定的分析流程，不同类型的不良通常需要不同的分析方式，这对分析人员的经验要求较高，若分析人员经验不足，所需的分析时间较长，而且失败率较高。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种显示面板异常分析方法及分析系统，能够快速分析不良显示面板的不良类型，解决对分析人员的经验要求较高，分析时间较长的问题，提高不良解析成功的概率。
2、根据本专利技术的一方面，提供了一种显示面板异常分析方法，包括：
3、获取不良显示面板；
4、对所述不良显示面板进行驱动画面检查，判断是否显示预设画面；
5、若否，获取所述不良显示面板的第一测试结果；
6、根据所述第一测试结果及分析逻辑表，确定第二测试指引；
7、根据所述第二测试指引，确定所述不良显示面板的不良原因；
8、其中，所述分析逻辑表包括在生产测试过程中与所述第一测试结果对应的多个分类，以及所述分类和不良原因的对应关系。
9、可选的，获取所述不良显示面板的第一测试结果，包括：
10、对所述不
11、若是，对故障驱动电路进行示波器测定，得到对应测试波形。
12、可选的，在对所述不良显示面板进行半边驱动分析，确认是否为半边驱动故障之后，还包括：
13、若否，对所有驱动电路进行示波器测定，得到对应测试波形。
14、可选的，在对所述不良显示面板进行驱动画面检查，判断是否显示预设画面之后，还包括：
15、若是，获取所述预设画面对应的异常显示区；
16、根据所述异常显示区确定对应的模组异常部；
17、对所述模组异常部进行阻抗测定，根据阻抗测定结果确定异常tab区域；
18、对所述异常tab区域进行修理；
19、获取tab区域修理后所述不良显示面板的显示画面，判断异常是否消失；
20、若是，判定异常原因为tab异常。
21、可选的，在获取tab区域修理后所述不良显示面板的显示画面，判断异常是否消失之后，还包括：
22、若否，获取所述不良显示面板的第一测试结果。
23、可选的，所述预设画面为线缺陷画面。
24、可选的，在对所述不良显示面板进行驱动画面检查，判断是否显示预设画面之前，还包括：
25、对所述不良显示面板进行外观检查，判断所述不良显示面板是否有破损；
26、若是，判断不良原因为面板破损。
27、可选的，在对所述不良显示面板进行外观检查，判断所述不良显示面板是否有破损之后，还包括：
28、若否，对面板器件进行更换，判断不良原因。
29、可选的，所述不良显示面板为过载保护导致驱动异常的显示面板。
30、根据本专利技术的另一方面，提供了一种显示面板异常分析系统，包括：
31、信赖性检测模块，用于获取不良显示面板；
32、画面驱动模块，用于对所述不良显示面板进行驱动画面检查；
33、测试模块，用于判断是否显示预设画面，并在判定结果为否时获取所述不良显示面板的第一测试结果；
34、不良分析模块，用于根据所述第一测试结果及分析逻辑表，确定第二测试指引，并根据所述第二测试指引，确定所述不良显示面板的不良原因；
35、其中，所述分析逻辑表包括在生产测试过程中与所述第一测试结果对应的多个分类，以及所述分类和不良原因的对应关系。
36、本专利技术实施例提供的显示面板异常分析方法，先获取不良显示面板；然后对不良显示面板进行驱动画面检查，判断是否显示预设画面；若无显示画面，则获取不良显示面板的第一测试结果；再根据第一测试结果及分析逻辑表，确定第二测试指引，其中分析逻辑表包括在生产测试过程中与第一测试结果对应的多个分类，以及分类和不良原因的对应关系；最后根据第二测试指引，确定不良显示面板的不良原因，从而能够快速分析不良显示面板的不良类型，解决对分析人员的经验要求较高，分析时间较长的问题，提高不良解析成功的概率。
37、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种显示面板异常分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，获取所述不良显示面板的第一测试结果，包括：
3.根据权利要求2所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，在对所述不良显示面板进行半边驱动分析，确认是否为半边驱动故障之后，还包括：
4.根据权利要求1所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，在对所述不良显示面板进行驱动画面检查，判断是否显示预设画面之后，还包括：
5.根据权利要求4所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，在获取TAB区域修理后所述不良显示面板的显示画面，判断异常是否消失之后，还包括：
6.根据权利要求4所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，所述预设画面为线缺陷画面。
7.根据权利要求1所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，在对所述不良显示面板进行驱动画面检查，判断是否显示预设画面之前，还包括：
8.根据权利要求7所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，在对所述不良显示面板进行外观检查，判断所述不良显示面板是否有破损之后，还包括
9.根据权利要求1～8任一所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，所述不良显示面板为过载保护导致驱动异常的显示面板。
10.一种显示面板异常分析系统，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种显示面板异常分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，获取所述不良显示面板的第一测试结果，包括：
3.根据权利要求2所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，在对所述不良显示面板进行半边驱动分析，确认是否为半边驱动故障之后，还包括：
4.根据权利要求1所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，在对所述不良显示面板进行驱动画面检查，判断是否显示预设画面之后，还包括：
5.根据权利要求4所述的显示面板异常分析方法，其特征在于，在获取tab区域修理后所述不良显示面板的显示画面，判断异常是否消失之后，...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯展豪，
申请(专利权)人：乐金显示光电科技中国有限公司，
类型：发明
国别省市：
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