芯片的测试方法、测试系统和电子设备技术方案

本发明专利技术提供了一种芯片的测试方法、测试系统和电子设备，包括：将预设的存储设备连接到芯片封装设备，以通过存储设备判断芯片封装设备是否可以进行芯片测试；如果判断芯片封装设备可以进行芯片测试，识别芯片封装设备中待测试芯片的芯片类型；根据芯片类型，从多个芯片测试程序中确定芯片类型对应的目标测试程序；将目标测试程序拷贝至芯片封装设备中，以使芯片封装设备根据测试程序对待测试芯片进行芯片测试。该方式中，通过存储设备对芯片封装设备中的芯片类型进行识别和将测试程序拷贝到芯片封装设备中的方法对待测试芯片进行芯片测试的方法，从而降低芯片测试的时间成本，进而降低芯片测试的出错率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试，尤其是涉及一种芯片的测试方法、测试系统和电子设备。

技术介绍

1、同类型的芯片封装设备中的芯片类型也可能不同，在对芯片封装设备进行芯片测试时，需要芯片测试人员对芯片封装设备中的芯片类型进行区分，并且需要程序员针为每个芯片型号编译独立的芯片测试程序。以使芯片测试人员将不同的芯片测试程序分别存储至不同芯片封装设备，以对每个芯片封装设备进行芯片测试。这导致工作人员在进行芯片测试时需要进行两层人工操作，增加了时间成本。同时，人工操作会增加芯片测试的出错率。

技术实现思路

1、有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种芯片的测试方法、测试系统和电子设备，从而降低芯片测试的时间成本，进而降低芯片测试的出错率。

2、第一方面，本专利技术实施例提供了一种芯片的测试方法，包括：将预设的存储设备连接到芯片封装设备，以通过存储设备判断芯片封装设备是否可以进行芯片测试；其中，存储设备中预先存储有多个芯片测试程序；如果判断芯片封装设备可以进行芯片测试，识别芯片封装设备中待测试芯片的芯片类型；根据芯片类型本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片的测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述芯片封装设备中预先安装有数据识别程序；

3.根据权利要求2所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述指定识别脚本中预先存储有可测试芯片信息；所述可测试芯片信息中包括芯片名称和芯片类别；每个所述芯片类别对应多个所述芯片名称；

4.根据权利要求3所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述识别所述芯片封装设备的芯片类型的步骤，包括：

5.根据权利要求4所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述通过所述指定识别脚本，读取所述芯片封装设备中的预设芯片类型脚本的步骤...

【技术特征摘要】

1.一种芯片的测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述芯片封装设备中预先安装有数据识别程序；

3.根据权利要求2所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述指定识别脚本中预先存储有可测试芯片信息；所述可测试芯片信息中包括芯片名称和芯片类别；每个所述芯片类别对应多个所述芯片名称；

4.根据权利要求3所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述识别所述芯片封装设备的芯片类型的步骤，包括：

5.根据权利要求4所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述通过所述指定识别脚本，读取所述芯片封装设备中的预设芯片类型脚本的步骤之后，所述方法还包括：

6.根据权利要求4所述的芯片的测试方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊晓婷，仪亮，余洪波，黎嘉欣，
申请(专利权)人：深圳市鲸视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：