显卡测试方法、装置、存储介质和电子设备制造方法及图纸

技术编号:40499777 阅读:14 留言:0更新日期:2024-02-26 19:27
本公开涉及一种显卡测试方法、装置、存储介质和电子设备,涉及硬件测试技术领域,该方法包括:根据待测显卡的显卡使用场景,生成待测显卡对应的多个测试用例,对多个测试用例进行关联性分析,得到每个测试用例对应的关联信息,根据关联信息和预设测试规则,控制待测显卡执行每个测试用例,得到每个测试用例对应的测试数据,根据测试数据,确定待测显卡的测试结果。本公开可以根据显卡使用场景生成多个测试用例,并通过执行每个测试用例来对显卡进行自动测试,测试场景丰富,可以覆盖各种显卡使用场景以及复杂的组合场景,提高了测试结果的准确度,并且,不需要依赖于手动测试,能够提高测试效率和测试可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及硬件测试,具体地,涉及一种显卡测试方法、装置、存储介质和电子设备


技术介绍

1、随着图形技术的不断发展,显卡对于计算机设备的重要性也越来越高。对于生产厂商来说,通过对显卡进行测试来评估显卡的稳定性,进而确定显卡的质量是否合格是十分必要的。

2、当前,对显卡的测试主要依赖于手动测试,而手动测试不仅效率低下,而且容易受到测试人员主观意志的影响,无法满足测试可靠性的要求。并且,当前对显卡的测试是通过针对视频播放、开关机、休眠唤醒等单一场景去评估显卡的稳定性的,测试场景较为单一,可能会遗漏部分常见的显卡使用场景,同时也无法覆盖一些复杂的组合场景,这会导致显卡测试结果的准确度较低。


技术实现思路

1、为了解决相关技术中存在的问题,本公开提供了一种显卡测试方法、装置、存储介质和电子设备。

2、根据本公开实施例的第一方面,提供一种显卡测试方法,所述方法包括:

3、根据待测显卡的显卡使用场景,生成所述待测显卡对应的多个测试用例;

4、对多个所述测试用例进行关联性分析本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种显卡测试方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的显卡测试方法,其特征在于,在所述根据待测显卡的显卡使用场景,生成所述待测显卡对应的多个测试用例之前,所述方法还包括:

3.根据权利要求2所述的显卡测试方法,其特征在于,所述根据待测显卡的显卡使用场景,生成所述待测显卡对应的多个测试用例,包括:

4.根据权利要求1所述的显卡测试方法,其特征在于,所述根据所述关联信息和预设测试规则,控制所述待测显卡执行每个所述测试用例,得到每个所述测试用例对应的测试数据,包括:

5.根据权利要求4所述的显卡测试方法,其特征在于,所述预设测...

【技术特征摘要】

1.一种显卡测试方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的显卡测试方法,其特征在于,在所述根据待测显卡的显卡使用场景,生成所述待测显卡对应的多个测试用例之前,所述方法还包括:

3.根据权利要求2所述的显卡测试方法,其特征在于,所述根据待测显卡的显卡使用场景,生成所述待测显卡对应的多个测试用例,包括:

4.根据权利要求1所述的显卡测试方法,其特征在于,所述根据所述关联信息和预设测试规则,控制所述待测显卡执行每个所述测试用例,得到每个所述测试用例对应的测试数据,包括:

5.根据权利要求4所述的显卡测试方法,其特征在于,所述预设测试规则包括执行规则信息;所述执行规则信息用于指示是否并发执行所述测试用例以及每次并发执行的测试用例的数量;所述根据所述关联信息和所述预...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘博刘艳玲
申请(专利权)人:深圳市芯瞳半导体技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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