一种高速传输链路检测装置制造方法及图纸

本公开涉及一种高速传输链路检测装置，该装置包括：第一高速传输端母座、第一金手指和检测单元；其中，该第一高速传输端母座包括：多个高速信号插槽组以及多个目标线路插槽，该高速信号插槽组包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽，该第一金手指包括多个目标线路导电触片；该检测单元，包括多个连接线，该目标线路导电触片通过该连接线与该目标线路插槽连接；每个该连接线上设置有检测点。能够对高速传输链路正常工作时的信号传输质量进行检测，降低点测难度，提高检测效率。提高检测效率。提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种高速传输链路检测装置


[0001]本公开涉及数据传输链路测试领域，具体地，涉及一种高速传输链路检测装置。

技术介绍

[0002]PCIE(Peripheral Component Interconnect Express，外设部件互连高速通路)，是一种高速串行计算机扩展总线标准。具备PCIE标准的接口能够实现高速串行点对点双通道高带宽传输，通常运用在显卡、闪存设备和计算机集群光纤互联等PCIE设备上。在对上述的PCIE设备进行开发和测试的过程中，通常需要对PCIE设备的母座插槽和金手指进行传输能力和故障的检测。相关技术中，以显卡检测为例，PCIE设备的金手指一般都插合在主板的PCB(Printed Circuit Board，为印制电路板)上设置的母座插槽中，检测时通常需要将检测仪器探针伸入主板内部进行点测，但是PCIE金手指包含的各个导电触片之间的排列紧密，并且插合状态下会被主板上的插槽覆盖住，为点测造成很大困难。另外，针对于显卡产品的老化寿命测试或者ATE(Automatic Test Equipment，自动实验设备)测试等，在显卡和主板的PCIE接口插合后，主板和显卡之间的PCIE链路的高速信号接收链路和高速信号发送链路会长时间地发送或者接收数据，这对主板性能或者寿命来讲是一种损耗。另外，这种检测方式还可能为针对于显卡产品的检测引入外界干扰，例如，检测时需同时考虑显卡和主板两侧的PCIE接口的性能。

技术实现思路

[0003]本公开的目的在于提供一种高速传输链路检测装置，以解决现有技术中的技术问题。
[0004]第一方面，本公开提供一种高速传输链路检测装置，所述装置包括：
[0005]第一高速传输端母座、第一金手指和检测单元；其中，
[0006]所述第一高速传输端母座包括：多个高速信号插槽组以及多个目标线路插槽，所述高速信号插槽组包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽，所述第一金手指包括多个目标线路导电触片；
[0007]所述检测单元，包括多个连接线，所述目标线路导电触片通过所述连接线与所述目标线路插槽连接；
[0008]每个所述连接线上设置有检测点。
[0009]可选的，所述高速信号接收插槽和所述高速信号发送插槽被设置为短接。
[0010]可选的，所述多个目标线路插槽，包括：主电源插槽、备用电源插槽、测试接口插槽、参考时钟信号插槽、系统管理插槽、复位插槽、接地插槽和热插拔控制插槽。
[0011]可选的，所述第一金手指，还包括多个高速信号线路导电触片。
[0012]可选的，所述第一金手指用于与第二高速传输端侧的高速传输链路插槽插合，所述第一高速传输端母座用于第一高速传输端侧的第二金手指插合。
[0013]可选的，第一长度大于第二长度，其中，所述第一长度为所述目标线路导电触片或
所述高速信号线路导电触片的长度，所述第二长度为所述第二金手指包含的目标线路导电触片或高速信号线路导电触片。
[0014]可选的，所述第一长度与所述第二长度的差值为3毫米。
[0015]可选的，所述检测点为铜皮开窗检测点或通孔焊盘检测点。
[0016]可选的，所述装置还包括：底板，所述检测单元被固定于所述底板上。
[0017]可选的，所述第一高速传输端母座和所述第一金手指两者分别被固定于所述底板的两侧。
[0018]与现有技术相比，本公开实施例提供的技术方案的有益效果为：
[0019]本公开所提供的高速传输链路检测装置，包括：第一高速传输端母座、第一金手指和检测单元；其中，该第一高速传输端母座包括：多个高速信号插槽组以及多个目标线路插槽，该高速信号插槽组包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽，该第一金手指包括多个目标线路导电触片；该检测单元，包括多个连接线，该目标线路导电触片通过该连接线与该目标线路插槽连接；每个该连接线上设置有检测点。能够对高速传输链路正常工作时的信号传输质量进行检测，降低点测难度，提高检测效率。
附图说明
[0020]附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：
[0021]图1是根据一示例性实施例示出的一种高速传输链路检测装置的结构示意图；
[0022]图2是根据图1示出的另一种高速传输链路检测装置的结构示意图。
具体实施方式
[0023]以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。
[0024]对此，本公开提出了一种高速传输链路检测装置，具体如下：
[0025]图1是根据一示例性实施例示出的一种高速传输链路检测装置的框图，如图1所示，该高速传输链路检测装置100包括：第一高速传输端母座110、第一金手指120和检测单元130。其中，该第一高速传输端母座100包括：多个高速信号插槽组115a、115b以及多个目标线路插槽111、112、113、114。该高速信号插槽组115a和高速信号插槽组115b包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽。该第一金手指120包括多个目标线路导电触片121、122、123、124。该检测单元130，包括多个连接线131a、131b、131c、131d。
[0026]示例地，该装置100可以应用于针对高速传输链路设备的传输链路检测，该高速传输链路设备可以为，例如，显卡、闪存设备和计算机集群光纤等。在本公开实施例中，仅以针对显卡的高速传输链路检测为例进行说明。在此情况下，该第一高速传输端为显卡端，下文涉及到的第二高速传输端为主板端。需要说明的是，显卡端所具备的高速信号插槽组可以为多个，例如，PCEI
×
16标准的显卡的高速信号插槽组为16个，PCEI
×
8标准的显卡的高速信号插槽组为8个，在本公开实施例所示的图1和图2中，仅以两个高速信号插槽组为例进行说明，其他高速信号插槽组的构造与该图1或该图2所示的构想相同。另外，上述的目标线路插槽的数量可以为大于4个，同样地。上述的目标线路导电触片的数量也可以为大于4个，本
公开的图1所示的实施例仅以4个目标线路插槽和4个目标线路导电触片为例进行说明。
[0027]示例地，该目标线路导电触片121通过该连接线131a与该目标线路插槽112连接；该目标线路导电触片122通过该连接线131b与该目标线路插槽113连接；该目标线路导电触片123通过该连接线131c与该目标线路插槽114连接；该目标线路导电触片124通过该连接线131d与该目标线路插槽115连接。另外，该连接线131a上设置有检测点132a；该连接线131b上设置有检测点132b；该连接线131c上设置有检测点132c；该连接线131d上设置有检测点132d。在第一高速传输端母座110与上述的显卡端元件的金手指插合，并且该第一金手指120与上述的主板端元件的传输母座插合的情况本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高速传输链路检测装置，其特征在于，所述装置包括：第一高速传输端母座、第一金手指和检测单元；其中，所述第一高速传输端母座包括：多个高速信号插槽组以及多个目标线路插槽，所述高速信号插槽组包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽，所述第一金手指包括多个目标线路导电触片；所述检测单元，包括多个连接线，所述目标线路导电触片通过所述连接线与所述目标线路插槽连接；每个所述连接线上设置有检测点。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述高速信号接收插槽和所述高速信号发送插槽被设置为短接。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述多个目标线路插槽，包括：主电源插槽、备用电源插槽、测试接口插槽、参考时钟信号插槽、系统管理插槽、复位插槽、接地插槽和热插拔控制插槽。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述第一金手指，还包括多个高速信号线路导电触片。5.根据权利要求4所述的装...

【专利技术属性】
技术研发人员：马文龙，师佼龙，
申请(专利权)人：深圳市芯瞳半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：