System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种触控模组不良检测方法及装置制造方法及图纸_技高网

一种触控模组不良检测方法及装置制造方法及图纸

技术编号:40497403 阅读:5 留言:0更新日期:2024-02-26 19:25
本发明专利技术公开了一种触控模组不良检测方法及装置,本发明专利技术通过标准件对待检测的触控模组进行检测,所述标准件包括与所述触控模组的驱动层、感应层对应的第一检测层和第二检测层,所述方法包括以下步骤:分别测量所述第一检测层与所述驱动层之间、所述第二检测层与所述感应层之间各线路交汇点的电容值;将测量得到的所述电容值与标准阀值区间进行比较,分别得到所述驱动层、所述感应层中的异常点位;基于所述异常点位的分布,分别检测所述驱动层、所述感应层对应的电路连接状态以及所述驱动层、所述感应层中各线路的缺陷异常。该检测方法及装置能够分别单独检测Tx层、Rx层对应的FPC连接、以及单独检测Tx层、Rx层内的不良缺陷,尤其是单点触控异常。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及触控模组检测的,更具体的,涉及一种触控模组不良检测方法及装置


技术介绍

1、金属网格触控传感器是一种常用于电子设备中的触控模组。它通常由两层金属网格组成,一层作为驱动层(tx层),另一层作为感应层(rx层)。这两层金属网格上分别设置了基于金属网格的通道线路。这些通道线路相互交叉重叠,形成了电容式触控结构。在触控模组中,tx层用于发出驱动信号,而rx层用于感应信号。当用户触摸屏幕时,形成了人与触控模组之间的电容耦合,改变了电容的值。这种变化在rx层中被感应出来,并转化为触摸信号。为了实现信号的传输和连接,tx层和rx层通常会与灵活印制电路板(fpc)绑定在一起。fpc提供了信号的传输通道,将驱动信号写入触控模组的tx层,同时将rx层的感应信号读取出来,以便后续处理和解析。通过金属网格触控传感器,用户可以通过触摸屏幕来实现与电子设备的交互操作,如滑动、缩放、点击等。这种触控技术被广泛应用于智能手机、平板电脑、汽车导航系统等各种电子设备中,提供了便捷而灵活的用户体验。

2、为了检测触控模组的效果和性能,通常会使用测试设备连接待测触控模组的tx层和rx层所对应的灵活印制电路板(fpc)。

3、例如,申请号为cn201310075822.1的中国专利技术专利,其公开了一种电容式触摸屏的测试方法,包括步骤:s1,测量电容式触摸屏上发射信号的传输通路tx线与接收信号的传输通路rx线的交汇点的电容值;s2,将测量得到的电容值与初始标准阀值进行比较;s3,若测量的电容值与初始标准阀值无异常,则该交汇点的触摸性能正常;若测量的电容值与初始标准阀值存在异常,则该交汇点的触摸性能不正常。这种电容式触摸屏的测试方法,专利技术人发现其至少存在以下缺点:

4、1、局限于交汇点的测试:该方法主要关注于交汇点的电容值测量,用于判断触摸性能是否正常。然而,触摸模组的问题可能不仅仅局限于交汇点,还可能存在其他区域的异常情况。因此,仅仅检测交汇点可能无法发现其他潜在问题。

5、2、不确定具体异常类型和原因:虽然方法能够判断触摸性能是否正常,但无法确定具体异常是由于tx线路还是rx线路的问题。也无法确定异常的具体原因,例如是线路连接异常还是出现了其他问题。

6、例如,申请号为cn201210312686.9的中国专利技术专利,其公开了一种触摸装置检测方法,该触摸装置包含电容屏、电容屏控制芯片,电容屏上设置有多根交叉放置的驱动线和感测线,检测时,依次驱动所有驱动线,量取每根驱动线和感测线之间的互电容值,通过判断所述互电容值是否在阀值区间内,从而检测出该触摸装置是否存在缺陷。该专利技术所述的触摸装置的检测方法,利用侦测电容的方法来检测触摸装置是否存在异常,代替了传统的机械式检测步骤,可以快速准确的判断该触摸装置是否存在异常,从而避免了不良品流入下一道工序。但是,该专利技术所提供的检测方法,专利技术人发现其至少仍无法确定具体的缺陷类型和原因。虽然方法能够判断触摸装置是否存在缺陷,但无法确定具体的缺陷类型和原因。异常的互电容值可能由于驱动线或感测线的线路连接异常或其他因素引起。这对于后续的维修和改进可能不够具体和有针对性。

7、在实现本专利技术过程中,专利技术人发现现有技术中的触控模组检测方法实质上至少还存在一定的局限性,无法全面检测出所有可能存在的问题,具体如下:

8、一、线路连接异常检测局限性:触控模组中的tx层、rx层走线以及tx层/rx层与fpc的连接可能存在异常,例如接触不良、开路或短路等问题。然而,现有的触控模组检测方法无法直接检测出具体的线路连接异常,并无法确定异常是在tx层还是rx层以及连接部分发生。

9、二、单点触控异常检测局限性:触控模组中可能发生单点触控异常,这可能由于线路缺失、局部阻抗问题等原因导致。然而,现有的检测方法难以检测出该类问题。由于测试设备通常模拟多点触控,无法精确识别单点触控异常,并确定问题是在tx层还是rx层上发生。


技术实现思路

1、本专利技术为提高触控模组检测的准确性和全面性,提供一种触控模组不良检测方法及装置。

2、为解决上述技术问题,本专利技术的技术方案如下:

3、根据本公开的第一方面,提供一种触控模组不良检测方法,其特征在于,通过标准件对待检测的触控模组进行检测,其中,所述标准件包括与所述触控模组的驱动层、感应层对应的第一检测层和第二检测层,所述方法包括以下步骤:

4、分别测量所述第一检测层与所述驱动层之间、所述第二检测层与所述感应层之间各线路交汇点的电容值;

5、将测量得到的所述电容值与标准阀值区间进行比较,分别得到所述驱动层、所述感应层中的异常点位;

6、基于所述异常点位的分布,分别检测所述驱动层、所述感应层对应的电路连接状态以及所述驱动层、所述感应层中各线路的缺陷异常。

7、进一步,所述分别测量所述第一检测层与所述驱动层之间、所述第二检测层与所述感应层之间各线路交汇点的电容值包括:

8、通过从所述驱动层输入驱动信号、从所述第一检测层读取感应信号,获取所述第一检测层与所述驱动层之间各线路交汇点的电容值;

9、通过从所述第二检测层输入驱动信号、从所述感应层读取感应信号,获取所述第二检测层与所述感应层之间各线路交汇点的电容值。

10、进一步,所述将测量得到的所述电容值与标准阀值区间进行比较,分别得到所述驱动层、所述感应层中的异常点位包括:

11、若所述电容值在标准阀值区间内,则对应的线路交汇点为正常点位;

12、若所述电容值不在标准阀值区间内,则对应的线路交汇点为异常点位。

13、进一步,所述基于所述异常点位的分布,分别检测所述驱动层、所述感应层对应的电路连接状态以及所述驱动层、所述感应层中各线路的缺陷异常包括:

14、基于异常点位的整面分布情况,分别检测所述驱动层、所述感应层对应的电路连接状态;在所述电路连接状态正常的情况下,基于异常点位的线路分布情况,分别检测所述驱动层、所述感应层中各线路的缺陷异常。

15、进一步,所述基于异常点位的整面分布情况,分别检测所述驱动层、所述感应层对应的电路连接状态包括:

16、若连续多条线路中所有线路交汇点为异常点位,则对应的所述电路连接状态异常,反之,则对应的所述电路连接状态正常。

17、进一步,所述基于所述异常点位的线路分布情况,分别检测所述驱动层、所述感应层中各线路的缺陷异常包括:

18、若线路中连续多个线路交汇点为异常点位,则对应的线路存在线异常;

19、若线路中单个线路交汇点为异常点位,则对应的线路存在单点异常。

20、根据本公开的第二方面,提供一种触控模组不良检测装置,所述装置包括测试设备、测试底板,所述测试设备与所述测试底板电连接,所述测试底板上设有标准件,所述标准件包括与触控模组的驱动层、感应层对应的第一检测层和第二检测层,所述测试设备用于执行前述的触控模组不良检测方本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种触控模组不良检测方法,其特征在于,通过标准件对待检测的触控模组进行检测,其中,所述标准件包括与所述触控模组的驱动层、感应层对应的第一检测层和第二检测层,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的触控模组不良检测方法,其特征在于,所述分别测量所述第一检测层与所述驱动层之间、所述第二检测层与所述感应层之间各线路交汇点的电容值包括:

3.根据权利要求1所述的触控模组不良检测方法,其特征在于,所述将测量得到的所述电容值与标准阀值区间进行比较,分别得到所述驱动层、所述感应层中的异常点位包括:

4.根据权利要求1所述的触控模组不良检测方法,其特征在于,所述基于所述异常点位的分布,分别检测所述驱动层、所述感应层对应的电路连接状态以及所述驱动层、所述感应层中各线路的缺陷异常包括:

5.根据权利要求4所述的触控模组不良检测方法,其特征在于,所述基于异常点位的整面分布情况,分别检测所述驱动层、所述感应层对应的电路连接状态包括:

6.根据权利要求4所述的触控模组不良检测方法,其特征在于,所述基于所述异常点位的线路分布情况,分别检测所述驱动层、所述感应层中各线路的缺陷异常包括:

7.一种触控模组不良检测装置,其特征在于,所述装置包括测试设备、测试底板,所述测试设备与所述测试底板电连接,所述测试底板上设有标准件,所述标准件包括与触控模组的驱动层、感应层对应的第一检测层和第二检测层,所述测试设备用于执行权利要求1至6任一所述的触控模组不良检测方法。

8.根据权利要求7所述的触控模组不良检测装置,其特征在于,所述标准件为与触控模组相同的且检测合格的模组,或者设有所述第一检测层与所述第二检测层的电路基板,或者分别独立设置所述第一检测层、所述第二检测层的电路组件。

9.根据权利要求7或8所述的触控模组不良检测装置,其特征在于,所述测试底板上设有用于定位固定触控模组的定位固定结构,所述定位固定结构包括定位槽或定位滑块或卡扣。

10.根据权利要求7或8所述的触控模组不良检测装置,其特征在于,所述测试底板上设置有电路接口,所述电路接口包括第一接口和第二接口,所述第一接口和所述标准件电连接,所述第二接口用于和触控模组电连接;

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【技术特征摘要】

1.一种触控模组不良检测方法,其特征在于,通过标准件对待检测的触控模组进行检测,其中,所述标准件包括与所述触控模组的驱动层、感应层对应的第一检测层和第二检测层,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的触控模组不良检测方法,其特征在于,所述分别测量所述第一检测层与所述驱动层之间、所述第二检测层与所述感应层之间各线路交汇点的电容值包括:

3.根据权利要求1所述的触控模组不良检测方法,其特征在于,所述将测量得到的所述电容值与标准阀值区间进行比较,分别得到所述驱动层、所述感应层中的异常点位包括:

4.根据权利要求1所述的触控模组不良检测方法,其特征在于,所述基于所述异常点位的分布,分别检测所述驱动层、所述感应层对应的电路连接状态以及所述驱动层、所述感应层中各线路的缺陷异常包括:

5.根据权利要求4所述的触控模组不良检测方法,其特征在于,所述基于异常点位的整面分布情况,分别检测所述驱动层、所述感应层对应的电路连接状态包括:

6.根据权利要求4所述的触控模组不良检测方法,其特征在于,所述基于所述异常...

【专利技术属性】
技术研发人员:张显友E·伊尔马兹王钧江建国
申请(专利权)人:浙江鑫柔科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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