【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光学，尤其涉及一种样品定位装置。
技术介绍
1、同步辐射x光源由于其高亮度、高准直性等优势可以开展常规实验室x光源无法开展的实验。实验所用的同步辐射x射线光束位置、大小在实验期间都是固定不动的，实验之前首先要将衍射仪的转动中心精准的定位到x光束的中心。同步辐射实验站所用的衍射仪通常是五圆衍射仪，五圆衍射仪的五个圆的转动中心轴都相交于同一点，即测角头的针尖所指的位置。这个转动中心的定位精度一般在几十个微米。
2、每次更换新的实验样品时，需要把样品的上表面精确的定位到x光束中心。在定位时因为在高度方向上的定位要求比较精确，要达到几个微米的精度；在水平方向上定位精度虽然不要求达到微米级，但是也需要使光斑落在样品上表面，所以需要对样品上表面进行姿态校准。常规的样品姿态校准操作是：首先，用双面胶将样品粘贴在测角头顶部的一个铝制小样品台上，手动将样品表面调平到跟下面的φ圆台面的表面平行，此处需要用到激光、平面镜等，需要花费一到数分钟的时间调节。然后，利用x光束调平样品表面跟入射光束的俯仰角，此处的俯仰角是指测角头、φ圆台面和样品这三部分作为一个整体相对于入射光束的转动夹角，跟测角头的俯仰角不同。最后，降低样品的高度，让x光束从样品上方完全通过后入射到探测器上并记录此时探测器的计数，逐渐扫描样品的高度，使得样品大概挡住光束的一半光强，再扫描样品的俯仰角，当样品的表面跟光束水平的时候探测器的计数最大时，之后再重复上述操作的后两步，直到既保证样品上表面跟光束平行的同时还能挡住光束的一半。
3、综上，每次检测样品时
技术实现思路
1、本技术所要解决的技术问题在于：解决在更换待测样品时，既要提高实验效率，又要保证对样品表面进行精确定位的问题。
2、为解决上述技术问题，本技术提供一种样品定位装置。
3、本技术的一种样品定位装置，包括：
4、定位件本体，内形成有用于容纳样品粘贴件的预留空间；
5、连接组件，包括可拆卸连接的第一连接件和第二连接件；所述第一连接件和所述第二连接件中的其中一个连接于所述定位件本体，另一个连接于所述样品粘贴件。
6、根据本技术提供的一种样品定位装置，所述连接组件为磁吸组件。
7、根据本技术提供的一种样品定位装置，所述第一连接件包括三个第一磁铁组；所述第二连接件包括三个第二磁铁组；且三个所述第一磁铁组分别一一对应地与三个所述第二磁铁组磁吸连接。
8、根据本技术提供的一种样品定位装置，三个所述第一磁铁组不在同一条直线上，三个所述第二磁铁组也不在同一条直线上。
9、根据本技术提供的一种样品定位装置，与所述定位件本体连接的所述第一磁铁组或所述第二磁铁组，包括相互磁吸连接的大磁铁和小磁铁；所述大磁铁还与所述定位件本体连接，所述小磁铁用于与所述样品粘贴件上的样品相抵接。
10、根据本技术提供的一种样品定位装置，所述连接组件为碰珠。
11、根据本技术提供的一种样品定位装置，所述定位件本体包括盖体，所述盖体上形成有透光孔；所述透光孔与所述预留空间连通，所述透光孔用于将由样品反射的光线穿出所述定位件本体。
12、根据本技术提供的一种样品定位装置，所述定位件本体还包括底板，以及两个相互平行且间隔布置的侧板；
13、两个所述侧板的底端与所述底板连接，顶端与所述盖体连接；所述底板、两个所述侧板和所述盖体围合形成所述预留空间。
14、根据本技术提供的一种样品定位装置，所述定位件本体还包括定位连接件，所述定位连接件设于所述预留空间外，并且与所述底板连接。
15、根据本技术提供的一种样品定位装置，所述盖体包括第一盖板和第二盖板；所述第一盖板与一个所述侧板的顶端连接，所述第二盖板与另一个所述侧板的顶端连接，且所述第一盖板和所述第二盖板相对的两端留有间隙用于形成所述透光孔。
16、根据本技术提供的一种样品定位装置，所述样品粘贴件包括有机玻璃板，所述有机玻璃板与所述第一连接件或所述第二连接件连接。
17、根据本技术提供的一种样品定位装置，所述样品定位装置还包括连接于所述盖体上的屏蔽件；所述屏蔽件上形成有预留缝隙，所述预留缝隙与所述透光孔连通。
18、根据本技术提供的一种样品定位装置，所述屏蔽件包括间隔设置的第一屏蔽板和第二屏蔽板；所述第一屏蔽板和所述第二屏蔽板相对的两侧面之间形成所述预留缝隙。
19、根据本技术提供的一种样品定位装置，所述样品定位装置还包括用于封闭或打开所述预留缝隙的封闭件，所述封闭件与所述屏蔽件可拆卸连接。
20、本技术提供的一种样品定位装置。在首次使用本技术的样品定位装置时，需要通过调整定位件本体的高度和姿态来使样品粘贴件上的样品的高度和姿态符合实验要求，随后，对样品进行检测。因为定位件本体与样品粘贴件是可拆卸连的，所以能够实现快速更换样品的目的。另外，还因为定位件本体的高度和姿态并不会因为更换样品粘贴件而发生改变，所以本技术的样品定位装置并不需要每更换一次样品就对样品的姿态和高度进行精确定位，故，本技术有效的解决了现有实验中存在的每次检测样品均需要对样品的高度和姿态进行精确定位的问题。
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1.一种样品定位装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的样品定位装置，其特征在于，所述连接组件(13)为磁吸组件。
3.根据权利要求2所述的样品定位装置，其特征在于，所述第一连接件(131)包括三个第一磁铁组；所述第二连接件(132)包括三个第二磁铁组；且三个所述第一磁铁组分别一一对应地与三个所述第二磁铁组磁吸连接。
4.根据权利要求3所述的样品定位装置，其特征在于，三个所述第一磁铁组不在同一条直线上，三个所述第二磁铁组也不在同一条直线上。
5.根据权利要求3所述的样品定位装置，其特征在于，与所述定位件本体(11)连接的所述第一磁铁组或所述第二磁铁组，包括相互磁吸连接的大磁铁和小磁铁；所述大磁铁与所述定位件本体(11)连接，所述小磁铁用于与所述样品粘贴件(12)上的样品相抵接。
6.根据权利要求1-5任一项所述的样品定位装置，其特征在于，所述定位件本体(11)包括盖体(112)，所述盖体(112)上形成有透光孔(1123)；所述透光孔(1123)与所述预留空间(111)连通，所述透光孔(1123)用于供由样品反
7.根据权利要求6所述的样品定位装置，其特征在于，所述定位件本体(11)还包括底板(113)，以及两个相互平行且间隔布置的侧板(114)；
8.根据权利要求1-5任一项所述的样品定位装置，其特征在于，所述样品粘贴件(12)包括有机玻璃板，所述有机玻璃板与所述第一连接件(131)或所述第二连接件(132)连接。
9.根据权利要求6所述的样品定位装置，其特征在于，所述样品定位装置还包括连接于所述盖体(112)上的屏蔽件(14)；所述屏蔽件(14)上形成有预留缝隙(143)，所述预留缝隙(143)与所述透光孔(1123)连通。
10.根据权利要求9所述的样品定位装置，其特征在于，所述样品定位装置还包括用于封闭或打开所述预留缝隙(143)的封闭件，所述封闭件与所述屏蔽件(14)可拆卸连接。
...【技术特征摘要】
1.一种样品定位装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的样品定位装置，其特征在于，所述连接组件(13)为磁吸组件。
3.根据权利要求2所述的样品定位装置，其特征在于，所述第一连接件(131)包括三个第一磁铁组；所述第二连接件(132)包括三个第二磁铁组；且三个所述第一磁铁组分别一一对应地与三个所述第二磁铁组磁吸连接。
4.根据权利要求3所述的样品定位装置，其特征在于，三个所述第一磁铁组不在同一条直线上，三个所述第二磁铁组也不在同一条直线上。
5.根据权利要求3所述的样品定位装置，其特征在于，与所述定位件本体(11)连接的所述第一磁铁组或所述第二磁铁组，包括相互磁吸连接的大磁铁和小磁铁；所述大磁铁与所述定位件本体(11)连接，所述小磁铁用于与所述样品粘贴件(12)上的样品相抵接。
6.根据权利要求1-5任一项所述的样品定位装置，其特征在于，所述定位件本体(11)包括盖体(112)，所述盖体(112)上形成有...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈雨，沈治邦，郭望果，韩庆夫，王焕华，
申请(专利权)人：中国科学院高能物理研究所，
类型：新型
国别省市：
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