【技术实现步骤摘要】
本专利技术提供芯片测试方法及芯片测试设备，涉及芯片测试。
技术介绍
1、近年来随着电子科技技术的进步，个人计算机、多媒体、工作站、网络、通信相关设备等电子产品的需求量激增，带动整个世界半导体产业蓬勃发展。各种功能的集成电路芯片成为电子产品硬件电路的核心，各厂商对集成电路芯片采购标准也较为严苛，在现行对集成电路芯片需求大增的前提下，供货商除了确保最终测试合格外，还必须能够迅速大量出货。
2、目前小型芯片的测试设备包括：测试机台、设置在测试机台上方的可相对于机台上升或下降的测试探头以及吸料机械手，测试机台上设置有一个或几个芯片卡槽，测试探头的数量与芯片卡槽数量相等，每个测试探头对应一个芯片卡槽，芯片放置在物料盘上，每个物料盘上大概安放有几十甚至上百个芯片，吸料机械手逐一吸取芯片并放入各芯片卡槽中，各芯片卡槽的形状大小与芯片形状大小适配，当芯片放入卡槽时，芯片被定位在与测试探头对准的位置，待各芯片卡槽均放满芯片后，使各测试探头下降而分别接触各芯片的测试点进行测试，待测试完成后，又通过吸料机械手将芯片逐一吸回物料盘，并从物料盘逐一吸取新的芯片放入测试机台的芯片卡槽。由此可见，对于每一组测试芯片，机械手需要来回运动无数次进行每个芯片逐一放料、取料，测试效率极低，尤其针对产品测试时间比较短的情况，取、放芯片占用的时间远大于实际产品测试时间。为此，我们提出芯片测试方法及芯片测试设备。
技术实现思路
1、为解决上述问题，本专利技术提供芯片测试方法及芯片测试设备，无需等待取、放芯片，极大
2、本专利技术提供芯片测试方法及芯片测试设备，包括测试台以及设置在测试台上的连续测试机构，所述连续测试机构包括固接在测试台上的固定座、支撑臂、吸料机械手一、吸料机械手二以及转动设置在固定座顶部的旋转座，所述支撑臂上固接有液压缸，且液压缸的伸缩端朝下设置并固接有测试板，所述测试板上固接有探针，所述旋转座上绕周向开有用于放置芯片的测试槽。
3、优选的，所述测试槽内开有限位槽，所述限位槽内设置有用于固定芯片的吸附组件，所述吸附组件包括设置在限位槽内侧的吸附板，所述吸附板中心处开有凹槽，所述凹槽连接连通有吸附管，所述吸附管上设置有电磁阀，所述吸附管远离吸附板的一端连接连通有气盘，所述气盘底部连接有旋转接头，所述旋转接头固定嵌设在旋转座的底部，且旋转接头远离气盘的一端连接连通有抽气管。
4、优选的，所述凹槽周围固接有防滑圈，所述吸附板四周固接有防滑垫，所述防滑垫上均匀设置有防滑凸点。
5、优选的，所述旋转座的底部固接有端面齿圈，所述端面齿圈啮合有齿轮，所述固定座内壁固接有支架，所述支架上固接有步进电机，所述步进电机的输出轴与齿轮同轴固接。
6、本专利技术还提供一种芯片测试方法，包括以下步骤：
7、s1、抽气管连接外部抽气装置，吸料机械手二从芯片托盘中取出一颗芯片，放入临近的限位槽中，相应的电磁阀打开，通过吸附管在凹槽内侧产生吸力，吸住芯片，然后启动步进电机带动旋转座转动一定角度，使下一个空载的限位槽移动到吸料机械手二处，由吸料机械手二继续向限位槽中放入芯片；
8、s2、载有芯片的限位槽转动到测试板下方时，启动液压缸带动测试板向下移动，使探针与芯片接触，进行测试，测试结束后，液压缸带动测试板上移，旋转座转动，将下一个芯片移动到测试板下方，液压缸再次带动测试板下移、测试、上移，不断重复；
9、s3、测试过的芯片转动到吸料机械手一处，相应的电磁阀关闭，解除对芯片的吸力，通过吸料机械手一将芯片取出。
10、本专利技术的有益效果：
11、本专利技术提供芯片测试方法及芯片测试设备，通过连续测试机构的设置，使得芯片的放入、测试、取出可以同步进行，避免了等待取、放芯片所耗费的时间，从而提升了测试的效率。
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1.一种芯片测试设备，其特征在于：包括测试台以及设置在测试台上的连续测试机构，所述连续测试机构包括固接在测试台上的固定座、支撑臂、吸料机械手一、吸料机械手二以及转动设置在固定座顶部的旋转座，所述支撑臂上固接有液压缸，且液压缸的伸缩端朝下设置并固接有测试板，所述测试板上固接有探针，所述旋转座上绕周向开有用于放置芯片的测试槽。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述测试槽内开有限位槽，所述限位槽内设置有用于固定芯片的吸附组件，所述吸附组件包括设置在限位槽内侧的吸附板，所述吸附板中心处开有凹槽，所述凹槽连接连通有吸附管，所述吸附管上设置有电磁阀，所述吸附管远离吸附板的一端连接连通有气盘，所述气盘底部连接有旋转接头，所述旋转接头固定嵌设在旋转座的底部，且旋转接头远离气盘的一端连接连通有抽气管。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述凹槽周围固接有防滑圈，所述吸附板四周固接有防滑垫，所述防滑垫上均匀设置有防滑凸点。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述旋转座的底部固接有端面齿圈，所述端面齿圈啮
5.一种芯片测试方法，其特征在于：采用权利要求1～4任一项所述的一种芯片测试设备进行测试，包括以下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试设备，其特征在于：包括测试台以及设置在测试台上的连续测试机构，所述连续测试机构包括固接在测试台上的固定座、支撑臂、吸料机械手一、吸料机械手二以及转动设置在固定座顶部的旋转座，所述支撑臂上固接有液压缸，且液压缸的伸缩端朝下设置并固接有测试板，所述测试板上固接有探针，所述旋转座上绕周向开有用于放置芯片的测试槽。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述测试槽内开有限位槽，所述限位槽内设置有用于固定芯片的吸附组件，所述吸附组件包括设置在限位槽内侧的吸附板，所述吸附板中心处开有凹槽，所述凹槽连接连通有吸附管，所述吸附管上设置有电磁阀，所述吸附管远离吸附板的一端连...
【专利技术属性】
技术研发人员：原东明，李亮，申华新，
申请(专利权)人：重庆市雲扬电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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