一种SMD封装外壳绝缘电阻批量测试装置制造方法及图纸

本申请属于SMD测试技术领域，尤其涉及一种SMD封装外壳绝缘电阻批量测试装置，包括壳体，壳体的一侧设有开口；支撑座，固定在壳体内部，支撑座上设有滑槽；探头，设有多个，探头的主体部分位于壳体的外部，探头的末端伸入开口中，探头的末端设有滑块，滑块滑动装配在滑槽中，每个探头的末端均设有用于连接外部电路的电线；滑动装置，包括滑动板和多个梯形推齿，滑动板滑动安装在壳体内部，各个梯形推齿安装在滑动板上，相邻两个探头的末端均嵌入一个梯形推齿，滑动装置通过梯形推齿能够推动各个探头同步张开。这种装置将各个探头都集成到一起，一方面工作人员拿起来较为方便，所以测试过程中更加稳定，测试效率也更高。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于smd测试，尤其涉及一种smd封装外壳绝缘电阻批量测试装置。

技术介绍

1、现有的smd封装外壳的电阻性能是人工采用测试笔进行测试，其中一个测试笔接正极，另一个测试笔接负极，但是这种测试效率较低，为了提高测试效率，工作人员一般将多个smd封装外壳整齐排布在隔断治具中，然后手持多个测试笔同步测试，比如每只手都拿两个测试笔进行测试，这样一次操作就能测两个smd封装外壳，但是这样手持测试笔不稳定，对于效率的提高没有多大的效果。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种smd封装外壳绝缘电阻批量测试装置，这种装置将各个探头都集成到一起，一方面工作人员拿起来较为方便，所以测试过程中更加稳定，另一方面，由于相邻两个探头之间的间距能够同步调节张开调节，所以能够适应放在不同间隔大小的间隔治中的smd封装外壳，测试效率也能够得到有效的提升。

2、本申请实施例提供一种smd封装外壳绝缘电阻批量测试装置，包括：

3、壳体，所述壳体的一侧设有开口；

4、支撑座，所述支撑座固定在所述壳体内部，所述支撑座上设有滑槽，所述滑槽的延伸方向与所述开口的延伸方向相同；

5、探头，所述探头设有多个，各个所述探头沿着所述滑槽的长度方向间隔布置，所述探头的主体部分位于所述壳体的外部，所述探头的末端伸入所述开口中，所述探头的末端设有滑块，所述滑块滑动装配在所述滑槽中，每个所述探头的末端均设有用于连接外部电路的电线；

6、滑动装置，所述滑动装置包括滑动板和多个梯形推齿，所述滑动板滑动安装在所述壳体内部，各个所述梯形推齿安装在所述滑动板上，各个所述梯形推齿沿着所述滑槽的长度方向间隔布置，相邻两个所述探头的末端均嵌入一个所述梯形推齿，所述滑动装置通过所述梯形推齿能够推动各个所述探头同步张开。

7、在一种可行的实现方式中，相邻两个所述滑块之间通过收缩弹簧连接。

8、在一种可行的实现方式中，所述滑动板滑动配合在所述壳体的内壁与所述支撑座的上表面之间。

9、在一种可行的实现方式中，所述滑动板上设有凸块，所述壳体上设有条形孔，所述条形孔沿着所述滑动板的活动方向延伸，所述凸块从所述条形孔伸出并与所述条形孔滑动配合。

10、在一种可行的实现方式中，还包括手柄，所述手柄连接在所述壳体上远离所述开口的一侧。

11、在一种可行的实现方式中，所述手柄内部为空心结构，所述手柄内部与所述壳体的内部相通。

12、在一种可行的实现方式中，所述手柄上设有外接电线，所述外接电线与各个所述探头末端的电线连接。

13、本技术实施例的smd封装外壳绝缘电阻批量测试装置至少具有如下有益效果：使用过程中，将各个smd封装外壳放到间隔治具中，推动滑动装置，使得滑动装置上的梯形推齿嵌入到相邻两个探头之间，各个探头之间同步张开，从而使得相邻两个探头之间的间距适合放在间隔治具中相邻两个smd封装外壳之间的间距，然后将其中一个本申请装置伸入到间隔治具，使其探头对接到各个smd封装外壳上的正极测试点，另一个本申请装置伸入到间隔治具，使其探头对接到各个smd封装外壳上的负极测试点，这样就能够进行smd封装外壳绝缘电阻的批量检测。这种装置将各个探头都集成到一起，一方面工作人员拿起来较为方便，所以测试过程中更加稳定，另一方面，由于相邻两个探头之间的间距能够同步调节张开调节，所以能够适应放在不同间隔大小的间隔治中放置的smd封装外壳，测试效率也能够得到有效的提升。

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【技术保护点】

1.一种SMD封装外壳绝缘电阻批量测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的SMD封装外壳绝缘电阻批量测试装置，其特征在于，相邻两个所述滑块之间通过收缩弹簧连接。

3.根据权利要求1所述的SMD封装外壳绝缘电阻批量测试装置，其特征在于，所述滑动板滑动配合在所述壳体的内壁与所述支撑座的上表面之间。

4.根据权利要求1所述的SMD封装外壳绝缘电阻批量测试装置，其特征在于，所述滑动板上设有凸块，所述壳体上设有条形孔，所述条形孔沿着所述滑动板的活动方向延伸，所述凸块从所述条形孔伸出并与所述条形孔滑动配合。

5.根据权利要求1所述的SMD封装外壳绝缘电阻批量测试装置，其特征在于，还包括手柄，所述手柄连接在所述壳体上远离所述开口的一侧。

6.根据权利要求5所述的SMD封装外壳绝缘电阻批量测试装置，其特征在于，所述手柄内部为空心结构，所述手柄内部与所述壳体的内部相通。

7.根据权利要求5所述的SMD封装外壳绝缘电阻批量测试装置，其特征在于，所述手柄上设有外接电线，所述外接电线与各个所述探头末端的电线连接。>...

【技术特征摘要】

1.一种smd封装外壳绝缘电阻批量测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的smd封装外壳绝缘电阻批量测试装置，其特征在于，相邻两个所述滑块之间通过收缩弹簧连接。

3.根据权利要求1所述的smd封装外壳绝缘电阻批量测试装置，其特征在于，所述滑动板滑动配合在所述壳体的内壁与所述支撑座的上表面之间。

4.根据权利要求1所述的smd封装外壳绝缘电阻批量测试装置，其特征在于，所述滑动板上设有凸块，所述壳体上设有条形孔，所述条形孔沿着所述滑动板的活动方...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹京萍，曹京星，
申请(专利权)人：陕西迪博圣卓电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：