【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片优化，具体为一种芯片优化的方法及系统。
技术介绍
1、芯片优化是指对芯片设计和制造过程进行改进，以提高芯片性能、功耗和可靠性，具体来说，芯片优化通常包括逻辑优化、物理布局优化、时钟优化以及功耗优化，其中逻辑优化通过重新组织电路中的逻辑门、寄存器等元件，以减少电路路径的长度和延迟，并优化资源利用，提高芯片性能；物理布局优化是对芯片中各个元件的布局进行优化，以减少线路长度、降低电磁干扰，提高芯片的抗噪声能力和整体可靠性，整体而言，芯片优化旨在提高芯片性能、功耗和可靠性，以满足不同应用场景下的需求，并提升芯片在市场中的竞争力。
2、现有申请公布号为cn113868999a，名称为一种芯片优化系统及方法的中国专利中指出的技术方案包括：现场可编程逻辑门阵列，用于加载与芯片设计代码对应的初始网表，运行目标嵌入式软件；采集探针，用于采集所述目标嵌入式软件运行过程中的运行数据；统计分析优化器，用于基于所述运行数据修改所述初始网表，得到优化网表，本专利技术实施例提供的芯片优化系统及方法，通过设置采集探针实现对嵌入式软件运行过程中运行数据的采集，然后利用统计分析优化器基于运行数据实现对网表的优化过程，虽然其实现了对于芯片的定制化设计，但并未使得芯片达到最佳的优化效果，也并未提及判断何种情况喜爱芯片运行效果能够达到最优。
3、结合上述专利和现有技术，在对芯片进行优化时通常会采用不同的技术来执行优化策略，例如：采用状态合并技术来实现对芯片上的状态机进行性能优化处理，但针对芯片进行性能优化时所能够选用的技术较多，
技术实现思路
1、(一)解决的技术问题
2、针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种芯片优化的方法及系统，采用不同优化方案的芯片进行模拟运行后，通过对各个优化方案下芯片的信号完整性进行分析后，实现对优化方案的初步筛选，而后将剩余的优化方案进行模拟运行，通过计算并对比各个优化方案下对应的芯片测试性能评估值ctp，可准确、高效的得出能够保证芯片性能最佳的对应优化方案，解决了
技术介绍
中提出的问题。
3、(二)技术方案
4、为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：
5、一种芯片优化系统，该系统包括：
6、芯片性能分析模块，获取芯片的关键指标数据；
7、芯片优化选择模块，获取芯片的优化策略，且优化策略包括布尔逻辑优化、状态机优化以及数据通路优化，布尔逻辑优化采用的技术包括布尔代数化简、逻辑等式的转化、逻辑门的合并和分解；状态机优化采用的技术包括状态合并、状态编码和状态转移优化；数据通路优化采用的技术包括寄存器分配和调度、数据路径宽度优化，并选择各有优化策略中的任一优化技术进行组合，获取若干待运行的优化方案；
8、信号完整性分析模块，对采用不同优化方案的芯片进行模拟运行，并对各个优化方案下芯片的信号完整性进行分析，依据分析结果，判定信号在各个优化方案对应的芯片中是否正常传输，并提取正常传输的优化方案；
9、仿真测试评估模块，在相同的环境下，依次运行各个正常传输的优化方案，并在相同时刻下监测芯片在不同优化方案下对应的运行数据，依据经过预处理后的运行数据和关键指标数据，搭建数据分析模型，计算不同优化方案下的芯片测试性能评估值ctp；
10、对比执行模块，将不同优化方案下的芯片测试性能评估值ctp进行对比，对各个芯片测试性能评估值ctp按照从大到小进行排序，提取并执行排序第一的芯片测试性能评估值ctp所对应的优化方案。
11、进一步的，关键指标数据包括芯片的处理速度、功耗、时钟频率以及数据传输延迟率。
12、进一步的，芯片的信号完整性分析过程为：使用信号完整性分析工具，对芯片进行分析后生成分析报告，分析报告的内容为：分析信号传输过程中的功耗情况，通过评估功耗消耗是否超过预定值；若功耗消耗超过预定值，则为异常传输，反之，则为正常传输；分析信号的时序和时钟信息，通过评估时序和时钟，若是数据延迟和时钟偏移任一数据超过对应的预定值，则为异常传输，反之，则为正常传输。
13、进一步的，运行数据包括相同时刻下的芯片的实时处理速度、实时功耗、实时时钟频率以及实时数据传输延迟率；对运行数据和关键指标数据进行预处理的过程为：对运行数据和关键指标数据做无量纲化处理。
14、进一步的，计算不同优化方案下的芯片测试性能评估值ctp的过程为：
15、s101、计算运行数据与对应关键指标数据之间的差值；
16、s102、以各个运行数据与其对应关键指标数据之间的差值为评估参数，并依据评估参数，计算芯片测试性能评估值ctp，公式如下：
17、
18、式中，vt表示实时处理速度和处理速度之间的差值，gt表示实时功耗和功耗之间的差值，st表示实时时钟频率和时钟频率之间的差值，yt表示实时数据传输延迟率和数据传输延迟率之间的差值，q1、q2、q3、q4分别为实时处理速度和处理速度之间的差值、实时功耗和功耗之间的差值、实时时钟频率和时钟频率之间的差值以及实时数据传输延迟率和数据传输延迟率之间的差值的预设比例系数，且q2＞q1＞q3＞q4＞0，g1为常数修正系数，int为取整函数。
19、一种芯片优化的方法，包括如下步骤：
20、步骤一、获取芯片的关键指标数据，且关键指标数据包括芯片的处理速度、功耗、时钟频率以及数据传输延迟率；
21、步骤二、获取芯片的优化策略，且优化策略包括布尔逻辑优化、状态机优化以及数据通路优化，布尔逻辑优化采用的技术包括布尔代数化简、逻辑等式的转化、逻辑门的合并和分解；状态机优化采用的技术包括状态合并、状态编码和状态转移优化；数据通路优化采用的技术包括寄存器分配和调度、数据路径宽度优化，并选择各有优化策略中的任一优化技术进行组合，获取若干待运行的优化方案；
22、步骤三、对采用不同优化方案的芯片进行模拟运行，并对各个优化方案下芯片的信号完整性进行分析，依据分析结果，判定信号在各个优化方案对应的芯片中是否正常传输，并提取正常传输的优化方案；
23、步骤四、在相同的环境下，依次运行各个正常传输的优化方案，并在相同时刻下监测芯片在不同优化方案下对应的运行数据，依据经过预处理后的运行数据和关键指标数据，搭建数据分析模型，计算不同优化方案下的芯片测试性能评估值ctp；
24、步骤五、将不同优化方案下的芯片测试性能评估值ctp进行对比，对各个芯片测试性能评估值ctp按照从大到小进行排序，提取并执行排序第一的芯片测试性能评估值ctp所对应的优化方案。
25、(三)有益效果
26、本专利技术提供了一种芯片优化的方法及系统，具备以下有益效果：
27、1、本专利技术利用配合使用的芯片优化选择模块和信号完整性分本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片优化系统，其特征在于，该系统包括：
2.根据权利要求1所述的一种芯片优化系统，其特征在于：关键指标数据包括芯片的处理速度、功耗、时钟频率以及数据传输延迟率。
3.根据权利要求2所述的一种芯片优化系统，其特征在于：芯片的信号完整性分析过程为：使用信号完整性分析工具，对芯片进行分析后生成分析报告，分析报告的内容为：分析信号传输过程中的功耗情况，通过评估功耗消耗是否超过预定值；若功耗消耗超过预定值，则为异常传输，反之，则为正常传输；分析信号的时序和时钟信息，通过评估时序和时钟，若是数据延迟和时钟偏移任一数据超过对应的预定值，则为异常传输，反之，则为正常传输。
4.根据权利要求3所述的一种芯片优化系统，其特征在于：运行数据包括相同时刻下的芯片的实时处理速度、实时功耗、实时时钟频率以及实时数据传输延迟率。
5.根据权利要求4所述的一种芯片优化系统，其特征在于：对运行数据和关键指标数据进行预处理的过程为：对运行数据和关键指标数据做无量纲化处理。
6.根据权利要求5所述的一种芯片优化系统，其特征在于：计算不同优化方案下的芯
7.一种芯片优化的方法，使用权利要求1至6中的任一种所述系统，其特征在于：包括如下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种芯片优化系统，其特征在于，该系统包括：
2.根据权利要求1所述的一种芯片优化系统，其特征在于：关键指标数据包括芯片的处理速度、功耗、时钟频率以及数据传输延迟率。
3.根据权利要求2所述的一种芯片优化系统，其特征在于：芯片的信号完整性分析过程为：使用信号完整性分析工具，对芯片进行分析后生成分析报告，分析报告的内容为：分析信号传输过程中的功耗情况，通过评估功耗消耗是否超过预定值；若功耗消耗超过预定值，则为异常传输，反之，则为正常传输；分析信号的时序和时钟信息，通过评估时序和时钟，若是数据延迟和时钟偏移任一数据超过对应的预定值，则为...
【专利技术属性】
技术研发人员：苏子健，
申请(专利权)人：北京瀚骏科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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