System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 陶瓷基板检测装置制造方法及图纸_技高网

陶瓷基板检测装置制造方法及图纸

技术编号:40468513 阅读:3 留言:0更新日期:2024-02-22 23:23
本发明专利技术提供了一种陶瓷基板检测装置,其包括沿X轴方向依次设置的卡塞进料线、卡塞上料翻转机构及基板上料线、取料机构及检测机构、基板下料线及卡塞下料翻转机构;所述取料机构包括取料移动组件、第一取料组件及第二取料组件,所述取料移动组件带动所述第一取料组件及第二取料组件在所述基板上料线的末端的上料位、检测机构的检测位及基板下料线的起始端的下料位的上方移动,所述第一取料组件用于移动基板,第二取料组件用于移动承载基板的料盘。如此设置,使得卡塞、料盘及基板各工段的传输衔接顺畅,另外基板单独传输工段减少,多为卡塞传输或料盘传输,一方面提高了传输及检测效率,另一方面减少了基板在传输中损坏的风险。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及基板检测,尤其涉及一种陶瓷基板检测装置


技术介绍

1、目前,陶瓷基板的超声波检测的上下料是通过人工完成的,由于超声波检测时,陶瓷基板是放在水池中的,需要人工在水池中取放产品,由于池中的液体有腐蚀性,对人体健康有一定的损害,且人工取放料效率低下。另外,在陶瓷基板其他检测项目(如视觉检测)的检测设备中,基板的上下料的方式一般为通过皮带线或其他流线设备逐个传输,而后在检测位置逐个检测,一方面增加了基板传输过程中的被损坏的风险,另一方面,基板逐个传输及检测,传输线过长,设备生产及维护成本较高且工作效率较低。

2、因此,有必要设计一种陶瓷基板检测装置,以解决上述问题。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种各工段布局巧妙、检测效率较高的陶瓷基板检测装置。

2、为实现上述目的,本专利技术采用如下技术方案:一种陶瓷基板检测装置,其包括沿x轴方向依次设置的卡塞进料线、卡塞上料翻转机构及基板上料线、位于基板上料线后一工位的沿y轴方向排布的取料机构及检测机构、基板下料线及卡塞下料翻转机构;

3、所述卡塞上料翻转机构用于将卡塞进料线与基板上料线进行接驳,以将卡塞翻转并将基板逐个转移至所述基板上料线;

4、所述取料机构包括取料移动组件、第一取料组件及第二取料组件,所述取料移动组件带动所述第一取料组件及第二取料组件在所述基板上料线的末端的上料位、检测机构的检测位及基板下料线的起始端的下料位的上方移动,所述第一取料组件用于移动基板,第二取料组件用于移动承载基板的料盘;

5、所述取料移动组件的下方设有第一料盘缓存位及第二料盘缓存位,所述第一料盘缓存位、第二料盘缓存位及检测位沿y轴方向依次设置,所述第一料盘缓存位靠近所述基板上料线末端的上料位及基板下料线的下料位;

6、所述卡塞下料翻转机构用于与基板下料线的末端进行接驳,以将所述基板下料线上的基板归集到卡塞中。

7、作为本专利技术进一步改进的技术方案,所述取料移动组件包括第一x轴模组、第一y轴模组及第一z轴模组,所述第一y轴模组包括相互平行设置的两个直线轨道,所述第一x轴模组设于第一y轴模组上,所述第一z轴模组设于所述第一x轴模组上,所述第一取料组件及第二取料组件均设置于所述第一z轴模组上。

8、作为本专利技术进一步改进的技术方案,所述检测机构包括检测机及检测机移动组件,所述检测机移动组件包括第二x轴模组、第二y轴模组及第二z轴模组,所述第二y轴模组包括相互平行设置的两个直线轨道,所述第二x轴模组设于第二y轴模组上,所述第二z轴模组设于所述第二x轴模组上,所述检测机设置于所述第二z轴模组上。

9、作为本专利技术进一步改进的技术方案,所述第一y轴模组的两个直线轨道与第二y轴模组的两个直线轨道分别对齐设置。

10、作为本专利技术进一步改进的技术方案,所述第一料盘缓存位所在平面高于第二料盘缓存位所在平面,所述第一料盘缓存位所在平面与所述基板上料线所在平面齐平,所述第二料盘缓存位所在平面与所述检测位所在平面齐平。

11、作为本专利技术进一步改进的技术方案,所述基板上料线与所述基板下料线平行;所述第一取料组件及第二取料组件沿y轴方向设置,且所述第二取料组件位于靠近所述检测位的一侧。

12、作为本专利技术进一步改进的技术方案,所述第一取料组件包括第一安装板、设置于第一安装板下方的若干基板吸盘、带动第一安装板升降的升降机构及带动第一安装板旋转的旋转电机。

13、作为本专利技术进一步改进的技术方案,所述第二取料组件包括第二安装板、设置于第二安装板下方的若干料盘吸盘及若干顶杆,所述料盘吸盘与料盘上的非基板位置对应,用于吸附料盘;所述顶杆与料盘上的基板位置对应,用于在料盘吸盘吸附料盘时,将基板固定于顶杆与料盘之间。

14、作为本专利技术进一步改进的技术方案,还包括烘烤下料线及卡塞移载机构,所述卡塞移载机构设于所述卡塞上料翻转机构、卡塞下料翻转机构及烘烤下料线上方,所述卡塞上料翻转机构、卡塞下料翻转机构及烘烤下料线沿y轴方向呈一排设置。

15、作为本专利技术进一步改进的技术方案,所述烘烤下料线包括烘烤箱、穿设于所述烘烤箱中的流线模组及设于烘烤箱进口处的风刀。

16、作为本专利技术进一步改进的技术方案,所述卡塞上料翻转机构、卡塞下料翻转机构之间设有卡塞缓存位,用于缓存卡塞上料翻转机构上料后的空卡塞,所述空卡塞通过所述卡塞移载机构转移至所述卡塞下料翻转机构。

17、作为本专利技术进一步改进的技术方案,所述卡塞上料翻转机构包括第一支架、设置于所述第一支架上的升降组件、升降组件带动升降的第二支架,设于第二支架上的翻转电机及翻转平台。

18、由以上技术方案可知,本专利技术的陶瓷基板检测装置通过将卡塞进料线、卡塞上料翻转机构及基板上料线设置为沿x轴方向排布,将基板上料线后一工位的取料机构及检测机构设置为沿y轴方向排布;并针对上述布局特殊设计了取料机构,取料机构包括取料移动组件、第一取料组件及第二取料组件,通过取料移动组件同时带动第一取料组件及第二取料组件,在检测上下料的过程中可根据实际需要灵活地选用第一取料组件或第二取料组件,巧妙地将料盘传输过程、基板传输过程与检测过程结合,对基板及料盘的转移方便且高效;另外通过设置相互对接的卡塞上料翻转机构及基板上料线、基板下料线及卡塞下料翻转机构,使得卡塞传输过程与基板传输过程顺利衔接,如此设置,使得卡塞、料盘及基板各工段的传输衔接顺畅,另外基板单独传输工段减少,多为卡塞传输或料盘传输,一方面提高了传输及检测效率,另一方面减少了基板在传输中损坏的风险。

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【技术保护点】

1.一种陶瓷基板检测装置,其特征在于,包括沿X轴方向依次设置的卡塞进料线、卡塞上料翻转机构及基板上料线,位于所述基板上料线后一工位的沿Y轴方向排布的取料机构及检测机构、基板下料线及卡塞下料翻转机构;

2.如权利要求1所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述取料移动组件的下方设有第一料盘缓存位及第二料盘缓存位,所述第一料盘缓存位、第二料盘缓存位及检测位沿Y轴方向依次设置,所述第一料盘缓存位靠近所述基板上料线末端的上料位及基板下料线的下料位。

3.如权利要求1所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述取料移动组件包括第一X轴模组、第一Y轴模组及第一Z轴模组,所述第一Y轴模组包括相互平行设置的两个直线轨道,所述第一X轴模组设于第一Y轴模组上,所述第一Z轴模组设于所述第一X轴模组上,所述第一取料组件及第二取料组件均设置于所述第一Z轴模组上。

4.如权利要求3所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述检测机构包括检测机及检测机移动组件,所述检测机移动组件包括第二X轴模组、第二Y轴模组及第二Z轴模组,所述第二Y轴模组包括相互平行设置的两个直线轨道,所述第二X轴模组设于第二Y轴模组上,所述第二Z轴模组设于所述第二X轴模组上,所述检测机设置于所述第二Z轴模组上。

5.如权利要求4所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述第一Y轴模组的两个直线轨道与第二Y轴模组的两个直线轨道分别对齐设置。

6.如权利要求2所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述第一料盘缓存位所在平面高于第二料盘缓存位所在平面,所述第一料盘缓存位所在平面与所述基板上料线所在平面齐平,所述第二料盘缓存位所在平面与所述检测位所在平面齐平。

7.如权利要求2所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述基板上料线与所述基板下料线平行;所述第一取料组件及第二取料组件沿Y轴方向设置,且所述第二取料组件位于靠近所述检测位的一侧。

8.如权利要求1所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述第一取料组件包括第一安装板、设置于第一安装板下方的若干基板吸盘、带动第一安装板升降的升降机构及带动第一安装板旋转的旋转电机。

9.如权利要求1所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述第二取料组件包括第二安装板、设置于第二安装板下方的若干料盘吸盘及若干顶杆,所述料盘吸盘与料盘上的非基板位置对应,用于吸附料盘;所述顶杆与料盘上的基板位置对应,用于在料盘吸盘吸附料盘时,将基板固定于顶杆与料盘之间。

10.如权利要求1所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:还包括烘烤下料线及卡塞移载机构,所述卡塞移载机构设于所述卡塞上料翻转机构、卡塞下料翻转机构及烘烤下料线上方,所述卡塞上料翻转机构、卡塞下料翻转机构及烘烤下料线沿Y轴方向呈一排设置。

11.如权利要求10所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述烘烤下料线包括烘烤箱、穿设于所述烘烤箱中的流线模组及设于烘烤箱进口处的风刀。

12.如权利要求10所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述卡塞上料翻转机构、卡塞下料翻转机构之间设有卡塞缓存位,用于缓存卡塞上料翻转机构上料后的空卡塞,所述空卡塞通过所述卡塞移载机构转移至所述卡塞下料翻转机构。

13.如权利要求1所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述卡塞上料翻转机构包括第一支架、设置于所述第一支架上的升降组件、升降组件带动升降的第二支架,设于第二支架上的翻转电机及翻转平台。

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【技术特征摘要】

1.一种陶瓷基板检测装置,其特征在于,包括沿x轴方向依次设置的卡塞进料线、卡塞上料翻转机构及基板上料线,位于所述基板上料线后一工位的沿y轴方向排布的取料机构及检测机构、基板下料线及卡塞下料翻转机构;

2.如权利要求1所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述取料移动组件的下方设有第一料盘缓存位及第二料盘缓存位,所述第一料盘缓存位、第二料盘缓存位及检测位沿y轴方向依次设置,所述第一料盘缓存位靠近所述基板上料线末端的上料位及基板下料线的下料位。

3.如权利要求1所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述取料移动组件包括第一x轴模组、第一y轴模组及第一z轴模组,所述第一y轴模组包括相互平行设置的两个直线轨道,所述第一x轴模组设于第一y轴模组上,所述第一z轴模组设于所述第一x轴模组上,所述第一取料组件及第二取料组件均设置于所述第一z轴模组上。

4.如权利要求3所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述检测机构包括检测机及检测机移动组件,所述检测机移动组件包括第二x轴模组、第二y轴模组及第二z轴模组,所述第二y轴模组包括相互平行设置的两个直线轨道,所述第二x轴模组设于第二y轴模组上,所述第二z轴模组设于所述第二x轴模组上,所述检测机设置于所述第二z轴模组上。

5.如权利要求4所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述第一y轴模组的两个直线轨道与第二y轴模组的两个直线轨道分别对齐设置。

6.如权利要求2所述的陶瓷基板检测装置,其特征在于:所述第一料盘缓存位所在平面高于第二料盘缓存位所在平面,所述第一料盘缓存位所在平面与所述基板上料线所在平面齐平,所述第二料盘缓存位所在平面与所述检测位所在平面齐平。

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【专利技术属性】
技术研发人员:刘协灵彭炜毛春辉
申请(专利权)人:深圳精创视觉科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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