【技术实现步骤摘要】
本公开涉及芯片领域，尤其涉及一种故障检测方法及装置、电子设备和存储介质。
技术介绍
1、芯片按照设计来划分一般分为功能部分和测试部分，其中功能部分是用来描述芯片能够支持和实现的各种性能。而测试部分是用来验证和定位芯片存在的功能缺陷以及制造缺陷。在目前的设计流程中，在设计电路时就需要对测试环节进行考虑和设计，这样的流程就被称为可测性设计。通过使用可测性设计流程，会在电路中插入相关的辅助逻辑，使电路中的被测节点具有可控性与可观测性。
2、功能缺陷的验证和制造缺陷的验证分别对应不同的设计。现有技术中功能缺陷的验证是对芯片的功能模块进行快照提取，当快照提取完成之后，当前芯片状态就被破坏，不能再继续进行后续的验证性检查，只能根据当前的快照信息，对关键信息进行提取和推演，实用性有限。并且在进行快照提取的过程中，芯片的功能模块无法正常运行功能，进行完一次信息提取之后需要重新恢复到初始状态，才能进行下一次信息提取，效率较低。此外，在对芯片进行功能缺陷的诊断时，现有技术无法自由的选择想要扫描的寄存器，即需要对整个功能模块中的寄存器都进行扫描，...
【技术保护点】
1.一种故障检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标数据包括所述第二数据；
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标数据包括外部数据，所述利用目标数据得到状态恢复数据，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述状态恢复数据和所述扫描链对所述功能节点进行状态恢复处理，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特...
【技术特征摘要】
1.一种故障检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标数据包括所述第二数据；
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标数据包括外部数据，所述利用目标数据得到状态恢复数据，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述状态恢复数据和所述扫描链对所述功能节...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：摩尔线程智能科技北京有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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