【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子，具体而言涉及基于ijtag的测试网络及控制方法、存储介质。
技术介绍
1、随着芯片集成度和复杂度的提高，tap(test access port)接口配合tdr(testdata register)寄存器的测试方式难以兼顾测试时间和集成复杂度的要求，ijtag(ieee1687)标准因此被提出。如图1所示，基于ijtag的测试网络一般包括试控制器(图1未示出)、tap接口10、sib(segment insertion bit)单元20和tdr寄存器30，控制器依序通过tap接口10、多个sib单元20连接至tdr寄存器30。
2、控制器用于控制tap接口10的fsm状态机的状态跳转，构建串行通路，并使sib单元20和tdr寄存器30控制串行通路中的数据进行串行传输。其中，在需要关闭sib单元20时，通过使串行通路中的sib单元从串行通路串行传输的数据中接收用于关闭sib的数据，控制自身切换为关闭状态。
3、在含有多个tdr寄存器30且结构复杂的测试网络中，芯片制造过程中的缺陷同样会概率性出现在sib单元20或tdr寄存器30部分，而这些部分中大量逻辑又不可避免地出现在串行通路上。
4、如图1所示，图1中串行通路以带箭头的加粗实线标示，其中加粗实线中的箭头指示串行通路的数据传输方向。此时，位于串行通路中的tdr寄存器为第一寄存器30a，位于串行通路中的多个sib单元20分别为第一sib单元20a、第二sib单元20b、第三sib单元20c、第四sib单元20d。若第一tdr寄存
5、因此，如何避免基于ijtag的测试网络因部分sib单元或tdr寄存器中发生的故障对后续构建访问其他tdr寄存器的串行通路时的影响，以提高测试网络的鲁棒性是本领域技术人员急需解决的技术问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，为解决上述技术问题，本申请提供基于ijtag的测试网络及控制方法、存储介质。
2、为实现上述目的，本申请提供一种基于ijtag的测试网络的控制方法，该控制方法包括：
3、控制tap接口的fsm状态机进行dr访问跳转，dr访问跳转包括依序进行的通路构建跳转、tdr访问跳转和sib关闭跳转；
4、通路构建跳转控制执行步骤s110：使sib多层网络中的至少部分sib打开，让tap接口通过sib单元与选定的tdr寄存器构建串行通路；
5、tdr访问跳转控制执行步骤s120：使串行通路中的sib单元和tdr寄存器控制串行通路中的数据进行串行传输；
6、sib关闭跳转控制执行步骤s130：使串行通路中的各sib单元从串行通路外接收用于关闭sib的置位数据，控制自身切换为关闭状态。
7、为了解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是提供了一种存储介质，该存储介质存储有计算机程序，计算机程序能够被处理器执行以实现上述的控制方法。
8、为了解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是提供了一种基于ijtag的测试网络，测试网络包括控制器、tap接口、sib多层网络和多个tdr寄存器，控制器依序通过tap接口、sib多层网络连接至多个tdr寄存器；控制器用于控制tap接口的fsm状态机以实现上述的控制方法。
9、有益效果：区别于现有技术，本申请中，即使串行通路中部分sib单元或tdr寄存器出现故障的，导致出现故障的sib单元或tdr寄存器钳位为用于打开sib单元的第一控制值。该第一控制值经过串行通路的移位后，串行通路中位于该出现故障的sib单元或该出现故障的tdr寄存器之后的sib单元均被置位第一控制值，从而被异常打开且无法正常关闭时。此时，利用sib关闭跳转控制串行通路中的sib单元从串行通路外接收用于关闭sib的置位数据，即可控制自身切换为关闭状态。从而能够关闭当前所构建的串行通路中位于该出现故障的sib单元之后的sib单元或位于该出现故障的tdr寄存器之后的sib单元，以使得之前所构建的串行通路中位于该出现故障的sib单元之后的sib单元或位于该出现故障的tdr寄存器之后的sib单元能够正常参与后续访问其他tdr寄存器时串行通路的构建，进而能够提高测试网络的鲁棒性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种基于IJTAG的测试网络的控制方法，其特征在于，所述控制方法包括：
2.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述SIB关闭跳转包括由加载DR状态略过移位DR状态依序跳转至退出DR状态和更新DR状态；所述步骤S130包括：
3.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述TDR访问跳转包括加载DR状态以及由所述加载DR状态依序跳转至移位DR状态和更新DR状态；所述步骤S120包括：
4.根据权利要求1-3任意一项所述的控制方法，其特征在于，所述控制所述TAP接口的FSM状态机依序进行通路构建跳转、TDR访问跳转和SIB关闭跳转的步骤之前，包括：
5.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序能够被处理器执行以实现权利要求1-4任意一项所述的方法。
6.一种基于IJTAG的测试网络，其特征在于，所述测试网络包括控制器、TAP接口、SIB多层网络和多个TDR寄存器，所述控制器依序通过所述TAP接口、所述SIB多层网络连接至多个所述TDR寄存器；
7.根据权利要求6所述的测
8.根据权利要求7所述的测试网络，其特征在于，所述TDR寄存器包括相互串联并用于串接于所述串行通路的多个寄存单元，所述寄存单元为只写寄存单元或只读寄存单元；
9.根据权利要求8所述的测试网络，其特征在于，所述只写寄存单元包括第二串行传输端、置位数据选择电路第二移位寄存单元和第二更新寄存单元；设置有只写寄存单元的所述TDR寄存器构建为通过ToDataIn端向待测电路写出数据且通过FromDataOut端从待测电路读入数据；所述第二更新寄存单元的输出端与所述ToDataIn端连接；所述ToDataIn端与所述FromDataOut端连接；所述第二串行传输端用于串接于所述串行通路中；
10.根据权利要求8所述的测试网络，其特征在于，所述只读寄存单元包括第三串行传输端、第三数据选择电路和第三移位寄存单元；所述第三串行传输端用于串接于所述串行通路中；设置有只读寄存单元的所述TDR寄存器构建为通过FromDataOut端从待测电路读入数据；
...【技术特征摘要】
1.一种基于ijtag的测试网络的控制方法，其特征在于，所述控制方法包括：
2.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述sib关闭跳转包括由加载dr状态略过移位dr状态依序跳转至退出dr状态和更新dr状态；所述步骤s130包括：
3.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述tdr访问跳转包括加载dr状态以及由所述加载dr状态依序跳转至移位dr状态和更新dr状态；所述步骤s120包括：
4.根据权利要求1-3任意一项所述的控制方法，其特征在于，所述控制所述tap接口的fsm状态机依序进行通路构建跳转、tdr访问跳转和sib关闭跳转的步骤之前，包括：
5.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序能够被处理器执行以实现权利要求1-4任意一项所述的方法。
6.一种基于ijtag的测试网络，其特征在于，所述测试网络包括控制器、tap接口、sib多层网络和多个tdr寄存器，所述控制器依序通过所述tap接口、所述sib多层网络连接至多个所述tdr寄存器；
7.根据权利要求6所述的测试网络，其特征在于，所述sib包括第一串行传输端、预置位信...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。